膜厚仪是一种非接触式的仪器,在整个使用过程中完全不用担心会对产品造成损坏,也完全不用担心会对人体造成辐射。拥有非常广泛的应用范围,已经成为了目前市场颇受厂家青睐的仪器。不过,与测厚仪相比,它又有什么不同呢?
1、从属关系
从字面上看,很多人会认为膜厚仪与测厚仪是一种仪器,其实不然,简单来说,两者应该是一种从属关系。也就是说,前者属于后者中的一种分类,此外,价格适中的膜厚仪在价格是要略有优势。
2、原理不同
膜厚仪主要是用于测量覆膜薄膜、薄片等材料的厚度,测量的范围宽不说,精度还高,具有的主要特点是数据输出、公英制转换、自动断电、任意位置置零等。手持式的原理有电涡流和磁阻法,台式的原理则包括电感原理等很多种。
3、上司分类
膜厚仪所属的测厚仪按照原理有很多分类,其中包括超声波测厚仪、激光测厚仪、压力测厚仪、X射线测厚仪、白光干涉测厚仪、机械接触式测厚仪以及电解式测厚仪等等。
4、应用领域
膜厚仪被广泛的应用在了金属加工业、制造业、化工业、商检等领域,在这些领域它的用途更是非常大的。它可以用来检测大规模生产的零部件,可以检测微小区域上的薄镀层,可以测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层,也可以用于全自动测量,如测量印刷线路板等等。
膜厚仪是一种比较精密的监测设备,它在平时的使用中对于精准度的要求很高,但是还是会有误差的现象发生,除了仪器本身的一些故障以外,环境因素也是造成误差的一大“元凶”,本文就介绍一下膜厚仪在不同环境下影响因素的有关说明:
1、基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
2、基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
3、基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。
4、边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
5、曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
6、试件的变形
测量头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。
7、表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。
8、磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。
9、附着物质
本仪器对那些妨碍测量头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测量头和被测试件表面直接接触。
10、测量头压力
测量头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。
11、测量头的取向
测量头的放置方式对测量有影响。在测量中,应当使测量头与试样表面保持垂直。
其实任何一种设备仪器都会有影响误差,尤其对于比较精密的仪器,所有不当的操作都有可能给它带来很大的影响,提高专业素养是避免不当操作的关键。
膜厚仪又名膜厚测试仪,分为手持式和台式二种,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。
手持式的磁感应原理是,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。
也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。
测定准备
(1)确保电池正负极方向正确无误后设定。
(2)探头的选择和设定:在探头上有电磁式和涡电流式2种类型。对准测定对象,在本体上进行设定。
测定方法
(1)探头的选择和安装方法:确认电源处于OFF状态,与测定对象的质地材质接触,安装LEP-J或LHP-J。
(2)调整:确认测定对象已经被调整。未调整时要进行调整。
(3)测定:在探头的末端加一定的负荷,即使用[一点接触定压式]。抓住与测定部接近的部分,迅速在与测定面成垂直的角度按下。
下述的测定,每次都要从探头的前端测定面开始离开10mm以上。使用管状的东西连续测定平面时,如果采用探头适配器,可以更加稳定地进行测定。
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