膜厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。
这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。
选购膜厚仪时要考虑哪些方面呢？
1、塑料上的铜、铬层:建议用库仑法测厚仪(会破坏镀层)或X射线测厚仪，如铜层在10m~200m可考虑电涡流法测厚仪。
2、金属件上镀锌层:如在钢铁基体上应使用经济的磁感应法测厚仪。其它金属基体用库仑法测厚仪或X射线测厚仪。
3、铁基体上的电泳漆，油漆应使用经济的磁感应法测厚仪(无损测量)。其它金属基体上的电泳漆，油漆应使用经济的电涡流法测厚仪。
4、干膜是指己固化了的油漆涂层。
在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
试件的曲率对测量有影响，因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
膜厚仪是一种比较精密的监测设备，它在平时的使用中对于精准度的要求很高，但是还是会有误差的现象发生，除了仪器本身的一些故障以外，环境因素也是造成误差的一大“元凶”，本文就介绍一下膜厚仪在不同环境下影响因素的有关说明：
1、基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
2、基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
3、基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。
4、边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
5、曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
6、试件的变形
测量头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
7、表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
8、磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
9、附着物质
本仪器对那些妨碍测量头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测量头和被测试件表面直接接触。
10、测量头压力
测量头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
11、测量头的取向
测量头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测量头与试样表面保持垂直。
其实任何一种设备仪器都会有影响误差，尤其对于比较精密的仪器，所有不当的操作都有可能给它带来很大的影响，提高专业素养是避免不当操作的关键。
膜厚仪是一种非接触式的仪器，在整个使用过程中完全不用担心会对产品造成损坏，也完全不用担心会对人体造成辐射。拥有非常广泛的应用范围，已经成为了目前市场颇受厂家青睐的仪器。不过，与测厚仪相比，它又有什么不同呢?
1、从属关系
从字面上看，很多人会认为膜厚仪与测厚仪是一种仪器，其实不然，简单来说，两者应该是一种从属关系。也就是说，前者属于后者中的一种分类，此外，价格适中的膜厚仪在价格是要略有优势。
2、原理不同
膜厚仪主要是用于测量覆膜薄膜、薄片等材料的厚度，测量的范围宽不说，精度还高，具有的主要特点是数据输出、公英制转换、自动断电、任意位置置零等。手持式的原理有电涡流和磁阻法，台式的原理则包括电感原理等很多种。
3、上司分类
膜厚仪所属的测厚仪按照原理有很多分类，其中包括超声波测厚仪、激光测厚仪、压力测厚仪、X射线测厚仪、白光干涉测厚仪、机械接触式测厚仪以及电解式测厚仪等等。
4、应用领域
膜厚仪被广泛的应用在了金属加工业、制造业、化工业、商检等领域，在这些领域它的用途更是非常大的。它可以用来检测大规模生产的零部件，可以检测微小区域上的薄镀层，可以测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层，也可以用于全自动测量，如测量印刷线路板等等。
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