粒度仪是用物理的方法测试固体颗粒的大小和分布的一种仪器。
根据测试原理的不同分为沉降式粒度仪、沉降天平、激光粒度仪、光学颗粒计数器、电阻式颗粒计数器、颗粒图像分析仪等。
激光粒度仪的光路由发射、接受和测量窗口等三部分组成。
发射部分由光源和光束处理器件组成，主要是为仪器提供单色的平行光作为照明光。接收器是仪器光学结构的关键。
测量窗口主要是让被测样品在完全分散的悬浮状态下通过测量区，以便仪器获得样品的粒度信息。
激光粒度仪测试对象
1．各种非金属粉：如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土等。
2．各种金属粉：如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等。
3．其它粉体：如催化剂、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、荧光粉、河流泥沙、陶瓷原料、各种乳浊液。
激光粒度仪是通过激光散射的方法来测量悬浮液，乳液和粉末样品颗粒分布的多用途仪器 。
具有测试范围宽、测试速度快、结果准确可靠、重复性好、操作简便等突出特点，是集激光技术、计算机技术、光电子技术于一体的新一代粒度测试仪器。
激光粒度仪是全球范围内公认的先进，快捷的颗粒测试仪器，国内国外有不少研制激光粒度仪的厂家，产品种类也比较繁多，如何才能选择一款适合自己的激光粒度仪呢？以下这几个产品关键点是必须要考虑的： 一、激光器选择： 激光粒度仪的重要部件之一，主要有HE-NE激光器和半导体激光器两种，其中HE-NE激光器的各项性能均优于半导体激光器，且成本也远高于半导体激光器，半导体激光器单向性差的问题，对测试结果的稳定性影响很大。因此推荐用户选择HE-NE激光器。 二、光电探测器： 国内产品采用的光电探测器的种类大同小异，一般就是半环式、点阵式等，半环式的优势是能够以较少的通道数达到很高的探测精度。而且在出现断环时可以临时采取并环操作，对测试结果影响很小。点阵式属于比较老的探测器类型，现在用的比较少。 三、仪器结构问题： 主要分为整体式和分体式，整体式就是将分散系统和测试系统整合为一体，协同操作，分体式则是分散系统独立于测试系统，测试者需要先操作分散系统，将样品分散好再将分散好的样品通过管道导入测试系统进行测试。这样的缺点是协同操作性不好，比较重的颗粒容易在管道中沉淀，清洗不便且对测试结果有一定影响，现在整体式结构的仪器是发展方向，进口产品大都采用整体式结构，国内的产品也慢慢在向整体式结构发展。 四、光路设计问题： 光路设计是激光粒度仪研制的基础，进口产品的优势不但在制造工艺上，光路的设计水平也是技术先进的标志，国内的厂家现在大都采用简单的平行光路设计。
所谓激光粒度仪是专指通过颗粒的衍射或散射光的空间分布（散射谱）来分析颗粒大小的仪器。根据激光散射原理，颗粒大小不同，散射光能量随散射角度的分布也不同，此种分布称为散射谱。激光粒度仪就是通过检测颗粒群的散射谱反演颗粒大小及其分布的。 1、为什麽散射/衍射激光粒度仪必须采用激光作光源? 激光粒度仪是通过检测颗粒的散射谱来分析颗粒大小与分布的，因此能否获得清晰的散射谱至关重要，激光是一种准直性，单色性良好的光源，只有采用激光才能在散射/衍射粒度仪器中得到清晰的散射谱分布。用多种波长混合的光源不可能获得清晰的散射谱，只能获得多种散射谱的叠加，因此不能用于粒度仪。 在多种激光器中半导体激光与气体激光相比，气体光源波长短，线宽窄，单色性好，稳定性远优于半导体光源。因此微纳与大多数专业公司选用了气体激光器作为测量光源。 2、激光粒度仪与其他方法相比有什么优势？ 激光粒度仪的光路实际是一个二维傅立叶变换器，因此具有傅立叶变换的许多特点： 1、所有颗粒的散射信息是以光速并行传输到达光电探测器的，因此速度快无与伦比； 2、探测器可以做的非常窄大约几个微米，因此分辨率非常高； 3、测试过程颗粒散射不会受到人为因素的干扰，因此测试重复性超群； 4、根据傅立叶变换的平移不变性，颗粒在样品池中的运动速度不会影响频谱分布，因此适用于动态颗粒的测试，这是其他粒度测试方法所无法比拟的，这成为了颗粒在线测试理论依据。 3、激光粒度仪测量下限是多少？ 激光粒度仪测量粒度的原理是MIE散射理论。 MIE散射理论用数学语言精确描述了折射率为n、吸收率为m的特定物质的，粒径为d球型颗粒，在波长为λ单色光照射下，散射光强度随散射角θ变化的空间分布函数，此函数也称为散射谱。根据MIE散射理论可以看出颗粒越大，前向散射越强而后向散射越弱；随着颗粒粒径的减小，前向散射迅速减弱而后向散射逐渐增强。激光粒度仪正是通过设置在不同散射角度的光电探测器阵列，测试颗粒的散射谱，由此确定颗粒粒径的大小。这种散射谱对于特定颗粒在空间具有稳定分布的特征，因此称此种原理的仪器为静态激光粒度仪。 但是当颗粒粒径小到一定的程度dm，与另一种更小颗粒dm-δ相比，如果二种颗粒的散射谱非常相似，以至不能被光电探测器阵列所分辨，就认为达到了激光粒度仪的测量极限，此粒径dm就是激光粒度仪的测量下限。 此极限还与激光波长有关，研究表明红光635nm波长的激光测量极限为50纳米，而蓝光405nm波长的激光测量理论极限为20nm。 理论上，静态激光粒度仪欲分辨纳米级的颗粒至少需要二个条件： 1、具有测量后向散射的光电探测器阵列，2、需要用波长更短的激光器。在可见光的范围内，20nm是静态激光粒度仪的理论测量下限。
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