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简述跌落试验机的维护保养 试验机维修保养

时间:2020-05-20    来源:仪多多仪器网    作者:仪多多商城     

跌落试验机将简单易学的操作原理与大气美观的外观理念融其一身,为了进行的跌落试验林频推出了跌落试验机。在一件产品或者多件产品进行运输时我们为什么不降颠簸随带来的破损程度降至低呢?不管是大小产品一旦有了破损就会给企业与消费者带来损失,现在又了跌落试验机我们可以将损失降到低将利益扩大化。
 


 

而跌落试验机也形成了经济产业链运用发多的仪器仪表设备中气候测试产品之一。

 

在使用完成后我们也要对它进行一定的维护,这样才可以是跌落试验机延长它的使用寿命。

 

眼下市场上用的较为广泛的有单翼跌落试验机、双翼跌落试验机、零跌落试验机。

 

在日常的使用中我们要注意这几点。

 

1、每次完成实验后,须把跌落臂落下以免长时间复位的跌落臂把弹簧拉变形,影响测试效果每次跌落前请先复位置电机停止转动后方可按跌落键;

 

2、 新机到厂安装完成后须在滑动圆杆处加适当低浓度机油。

 

3、 如果上油处时间长了有过多灰尘请将机器降到低部,擦试完以前的机油再重机上油;

 

4、 跌落机属冲击力机械性设备,新机使用过于五百次以上时须把各螺丝固定以免发生事故与故障。

 

跌落试验机是对在不同的高度与跌落颠簸途中所发生破损进行测试试验所打造的测试型机械设备

液压式万能试验机操作规程

  液压式万能试验机用途:适用于金属薄板、复合材料、紧固件(非金属)、线材和缆索(非金属)、筋材(非金属)等试样的拉伸试验。

  液压式万能试验机操作规程

  ①接通电源

  ②根据液压式万能试验机试样,选用测量范围,在摆杆上挂上或取下相应摆铊并调整缓冲阀手柄,对准标线。

  ③根据液压式万能试验机试样形状、尺寸把相应的钳口块装入上、下钳口座内。

  ④在描绘器的转筒上,卷压好记录纸(坐标纸),此项只是需要时才进行。

  ⑤开动油泵,再开启送油阀,使工作活塞上升、下降约100mm,活动2-3次,上升时关紧回油阀,下降时打开回油阀。试验时使工作活塞上升5-10mm然后关闭送油阀。

  ⑥液压式万能试验机将试样一端夹于上钳口中。

  ⑦液压式万能试验机调整指针,对准度盘零点。

  ⑧液压式万能试验机开动移动横梁升降电机,调整下钳口至适当位置,将试样另一端夹在下钳口,夹持平试样时,必须注意使试样铅垂,并位于中间位置。

  ⑨将推杆上的绘画笔放下进入描绘准备状态(需要描绘时才进行)。

  ⑩按试验要求的加荷速度,通过旋钮,调整加荷速度指示盘的旋转速度,缓慢的开启送油阀,并使指针的旋转速度与指示盘旋转速度一致,进行加荷;试验断裂后关闭送油阀;记录所需数值并抬起描绘笔;打开回油阀卸荷后被动针拨回零点;取下断裂后的试样;压缩及弯曲等试验可参照上述各项进行操作;试验结束后,停止油泵电动机。

标签: 液压式万能试验机
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电子拉力试验机的校准是怎样的?

    四探针电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置;

    可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻,主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。

    广泛用于半导体厂家、太阳能行业,还能满足科研单位的精密研究。

 

    电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数之一。测量电阻率的方法很多,四探针法是一种广泛采用的标准方法。

    它的优点是设备简单、操作方便,精确度高,对样品的形状无严格要求。

    常用的是直线型四探针。四根探针的针尖在同一直线上,并且间距相等,都是S,一般采用0.5mm的间距,不同的探针间距需要对测量结果做相应的校正。

    四探针电阻率测试仪测试四探针笔方法:

    一般情况下,更换钢针之类,不需要拆开探头,只需要用拔出要更换的钢针,再重新安装新针,如果断针在孔内并且不拆开难以取出,必须按照以下步骤进行操作:

    1、先松开笔身尾部端侧面的固定小螺丝,轻轻脱下尾部航空插口,保证探针头部旋转时同步旋转,防止扭线断线,短接;

    2、轻轻拧开探针头子,然后小心将铜片拉出,记住七片绝缘片与铜片之间的位置,(四片铜片每片间夹一片绝缘片,两边的铜片外侧各两片),将断针从铜片卡口座里取下即可;

    3、特别注意一定不能将铜片取下时的位置错乱,铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序一字排列,并且铜片之间按照宽窄顺序互相交叉排列,以免短接;

    4、安装时铜片及绝缘片按照拆下时的排列轻轻塞进探针头子,并先将探针头子拧紧,再将尾部航空头插上,并且旋紧小螺丝;

    5、将针装好,注意针头针尾方向,尖头为探针头部。

    仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。

    仪器采用了较新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。

    本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。

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