其测量原理建立在分散在液体颗粒的布朗运动基础之上，颗粒越小，运动速度越快，颗粒越大，运动速度越慢。它采用高性能光电倍增管和我公司自主研制的高速数字相关器作为核心器件，通过测试某一角度的散射光的变化并求出自相关函数（即扩散系数），根据Stokes－Einstein方程计算出颗粒粒径及分布。
它具有快速、高分辨率、重复及准确等特点，同时还具有不破坏、不干扰纳米颗粒体系原有状态的优点，是纳米颗粒粒度测试的shou选产品。
粒度分析仪采用更先进的颗粒识别算法，对各种形状的粘连颗粒都能自动分割，显著提高粘连颗粒分割准确率，减少人为参与，有效缩短图像处理时间；
粒度分析仪性能特点
先进的测试原理 该仪器采用动态光散射原理，其测试方法具有不破坏、不干扰纳米颗粒体系原有状态的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性；
高灵敏度与信噪比 探测器采用光电倍增管（PMT），其具有极高的灵敏度和信噪比，从而保证了测试结果的准确度；
超高速数据采集 核心部件采用我公司自主研制CR256数字相关器，它实时完成动态散射光强的采集和自相关函数运算，从而有效地反映不同大小颗粒的动态光散射信息，为测试结果的准确度奠定基础；
稳定的光路系统 采用光纤技术搭建而成的光路系统，使光子相关谱探测系统不仅体积小，而且具有很强的抗干扰能力，从而保证了测试的稳定性；
高精度恒温控制系统 采用半导体温控技术，温控精度高达±0.2℃，使样品在整个测试过程中始终处于恒温状态，避免温度变化而引起液体黏度及布朗运动速度变化导致的测试偏差，保证测试结果准确度及稳定性。
分析仪器在使用过程中也会出现一定的故障问题，会导致分析仪器产品无法正常使用，那么这个时候分析仪器的检修该如何进行呢？
1、观察法
通过人的眼睛主观察、发现故障的方法称为观察法。该方法主要用于检查零件变质损坏、电路板漏焊、虚焊、线间的短路饶焦、断线和元器件焊错等。
2、触模法
通过人的手指或其他部位去触模元器件，从而发现元器件是否有过热或应该发热而不热的现象如电源变压器及电子管等应该有发热现象、，从而间接地判断故障部位的方法，称为触授法。
3、静态测量法
这主要是通过万用表去测量线路中的直流工作电压相电流，从而确定故障。迟是排除故障常用的—种方法，它对于测试线性电路尤为重要。
4、动态观察法
通过示按器去观察有关点的波形，从而寻找故障相排除故障的方法称为动态观实法。
5、跟踪法
在寻找故障的过程中发现一点线索，顺着线索追查下去的方法称为跟踪法。
6、分割法
在查找故障的过程中，通过拔掉部分转括、拔下部分电路板或在电路板上断线来逐步缩小故障的范围，最后把故障点孤立出来的方法，称为分割法。
7、替换法
通过更换电细线、电路板、电子管或其他每部件，以确定故障在某一范围的方法称为替换法。
8、模拟法
在查寻故障过程中，可通过分别测试无故障仪器和行故阳仪器的相同点，将所得的数据进行比较来确定故障的方法，称为模拟法。
9、试探法
在查寻故障的过程中，如经测量和分析，几种原因都能造成此种故障，那么此时，可先试探用一种方法去排除故障，如无效，再改用另一种方法试探去排除故障，这称为试探法。
10、局部受热法
仪器由于湿度升高而发生故障，通常用局部受热泌夫排除。比如，其一仪器在温度40℃时，不能正常工作，而温度降低后又能正常工作。此队可将仪器恢复在常温下工他用电热吹风机或电烙铁使其局部受池从而发现故障所在，这称为局部受热法。
以上这些方法只是分析仪器调试或维修中的一些常用方法，实际应用时彼此间并不是孤立的，有时需要几种方法交错使用，对测试结果进行综合分析，才能做出正确的判断。
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