超声波测厚仪是采用较新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。
超声波测厚仪使用及注意事项：
1、测厚用探头一般要根据测厚范围，测量精度和工件条件来选择。双晶片探头比较好，它的测量范围较宽，下限较低。
2、测厚时被测工件的表面处理与探伤时的要求相同。对粗糙表面测厚，要求打磨的面积不大，关键在于平整。
3、耦合剂选用也同探伤时一样，对小径管管壁和坚立的壁等的测厚，采用甘油或水玻璃为宜。
4、测量时，为避免耦合剂薄膜的多次反射或其他杂波信号引起的假读数，一定要指示稳定且能重复呈现后再读取数据。假读数在绝大多数情况中指示是不稳定的。使用双晶探头时，对于一般无方向性问题的工件。探头放置方向无关，并且每个测点测一次即可。对于管道测厚，探头的放置方向要使其隔声层垂直于管道轴线，对于其他与探头放置方向有关的测厚，各测点应测量二次(先测一次，然后将探头旋转90°再测一次)，并做好标记和记录。
5、测量管材，尤其是测小径管时，要细心左右摆动探头，使其与管壁正交，这样才能获得稳定准确的厚度指示。如仪器工作正常，但测不出厚度时，首先要检查工件光洁度是否合格。耦合剂好不好，光洁度不够再打磨一下，耦合剂太稀，应换粘度大一些的。如果仍然测不出来，这可能是内部腐蚀严重引起的，可把探头稍移动一点再测。
6、测厚中要注意成倍读数或缺陷反射两种情况，当读数与预想值相差很多时，应该分析是什么原因引起的，看是出现了成倍读数(读数过大)还是缺陷反射(读数过小);这时如有其他种类测厚仪或探伤仪，应辅助测量一下，辨明原因。
7、对运行中高温工件的测量，要使用高温探头和特殊的耦合剂。
8、通常管道中沉积物的声阻抗与管材的声阻抗相差很大，所以对厚度测量没有影响。但在个别情况下，如炼油厂中提炼含硫量较高的天然石油时，管道和容器里形成一种剧铁盐沉积物，其声阻抗与钢的声阻抗相近，这时测得的壁厚有可能是管壁厚与沉积物厚度之和。所以测量时要特别小心，当对所测得厚度有怀疑时，用小锤敲打几下管壁，然后再测量一次。
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瓶壁测厚仪适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度检测。仪器在传统的厚度测量仪基础上，增加了稳固瓶子的托盘，避免因瓶子摇摆不定带来的测量误差。
产品特点
7寸触控彩色液晶屏，微电脑控制，自动分组统计最大值、最小值、平均值。
旋转角度位移实时显示，保证测量准确回位。
满足玻璃瓶底厚和壁厚两种测试方式。
测量平台新增托瓶装置支持上下调节，让测试轻松便捷。
系统自带微型打印，上位机数据无限保存。
专业电脑测试软件，曲线图显示，数据保存，EXCEL统计，打印A4试验报告。
软件用户分级权限管理，数据统计及审计功能满足行业要求。
安装仪器
小心拆开包装箱，清点整理合格证、说明书及附件；
将试验机平稳安置在固定的工作台面上；
配备带有保护接地线的单相交流220V（3线）电源座；
认真阅读用户手册；
妥善保存包装箱，以备返厂维保运输之用。
结构原理
电子瓶壁测厚仪采用容栅传感技术，通过测量表头接触瓶子，与镖头对应。两个系统中容栅传感器采集响应的数据，进而通过系统计算出对应的瓶壁或瓶底的厚度值。
镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。 1.影响因素的有关说明 a、基体金属磁性质 磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。 b、基体金属电性质 基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。、湿度传感器探头、,、,、不锈钢电热管、PT100、传感器、,、,、铸铝加热器、,、加热圈、、、流体电磁阀 c、基体金属厚度 每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。 d、边缘效应 本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。 e、曲率 试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。 f、试件的变形 测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。 g、表面粗糙度 基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。 g、磁场 周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。 h、附着物质 本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。 i、测头压力 测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。 j、测头的取向 测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。 2.使用仪器时应当遵守的规定 a、基体金属特性 对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。 对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。 b、基体金属厚度 检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。 c、边缘效应 不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。 d、曲率 不应在试件的弯曲表面上测量。 e、读数次数 通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。 f、表面清洁度 测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质
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