测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。
这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。
注意事项
测厚仪的测试方法主要有:磁性测厚法,放射测厚法,电解测厚法,涡流测厚法,超声波测厚法。
测量注意事项:
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
不同种类的测厚仪的应用
1、激光测厚仪是利用激光的反射原理,根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度,是一种非接触式的动态测量仪器。
它可直接输出数字信号与工业计算机相连接,并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,沧州欧谱从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。
它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。
主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。
3、纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
4、薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
5、涂层测厚仪:用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.
6、超声波测厚仪:超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
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漆膜测厚仪的校验方法,今日小编为大家介绍下:
1、取以上各种厚度的校准箔片在未涂层的基体上,各测量5次,计算出测量平均值。
2、显示值与标准箔片厚度值不符,用“Δ”和“▽”键改变显示值直到显示值与标准箔片厚度一致。
3、按CAL键,校正结束。
判定示值误差,在±1%范围内为合格。
对校验过程进行记录并将记录填写在《监视和测量设备校验记录》上。
对校验合格的漆膜测量仪贴合格证标签,不合格的则进行修理、调试,完后重新校验。
校验周期为一年。
该仪器测定油漆涂料干膜厚度。试验技术特征:通过涂覆前后的比较测量干膜厚度。
技术参数
A、测量范围:0-1250/3000μm(超过1250μm要提前告知厂家另行定制)
B、使用环境:温度:0℃-50℃,湿度:20%RH—90%RH,无强磁场环境下使用
C、最薄基体:0.3mm
D、测量精度:±(1%-3%)H+1.5μm
E、分辨率:0.1μm /1μm(100μm以下为0.1μm,100μ以上为1μm)
F、最小基体面积10*8mm
G、最小曲率:凸5mm;凹25mm
H、外形尺寸:130mm*70mm*24mm
I、重量:100g
J、电源:三节(7号)碱性电池
校验条件
1、温度20±5℃,相对湿度50%-80%。
2、标准箔片47.8μm±1%、98.6μm±1%、257.2μm±1%、489μm±1%、1002μm±1%厚
涂层测厚仪屏幕有正常化、校正、简易校准、删除四个不同功能。
1.正常化指的就是仪器归零,按OK键即可进入,按屏幕提示选择对应底材测量3-5次有提供一块铁板和一块铝板)。按OK键确认,屏幕会显示正常完成成功,再按OK键即完成正常化归零.
2.校正,这就我们常使用的功能,可以检测仪器测量是否有误差,选择校正按钮,按屏幕提示测量底材3-5次(千万不要选择屏幕提示跳过这一步骤)。再按OK键确认,这时候将随机提供的膜片(一般厚度在72微米左右)在底材上,测量3-5次膜片的厚度,按设置键,通过上下箭头调整测量数值与标准片一样,仪器提示进入第二片膜片,校正方法同上,如果您有2片膜片可按上面方法再进行一次校正,如果只有一片膜片则直接可跳过第二片膜片校正过程,直接按OK键即可完成校正。