金属涂层测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。测试过程应注意几点：
1.在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
2.测量时侧头与试样表面保持垂直。
3.测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
4.测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
5.测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
6.测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
7.在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
8.在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
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涂层测厚仪的应用行业分布在电镀、喷涂；管道防腐；铝型材；钢结构；印刷线路版、及丝网印刷等。
影响涂层测厚仪测量值精度的因素有那些？
1、基体金属磁性质：磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。
2、基体金属厚度：每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
3、基体金属电性质：基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
4、边缘效应，涂层测厚仪对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
5、曲率：试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
6、试件的变形：测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
7、表面粗糙度：基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
8、附着物质：本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
9、涂层测厚仪测头的取向：测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。
10、测头压力：测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
11、磁场：周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
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