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易高测厚仪涂层/基体的相应探头选择 如何挑选购买测厚仪

时间:2020-07-21    来源:仪多多仪器网    作者:仪多多商城     

各种涂层/基体的相应探头选择

下表显示的是常见涂层/基体组合。如果您的需求不在其中,请联系 Elcometer 进行商讨。

Elcometer提供免费的测试样本报告。请联系Elcometer安排我们的技术部门为您推荐适合的仪器。

基体
涂层黄铜青铜不锈钢
----F-----
阳极化NF----NF----
黄铜----F-----
青铜----F-----
----F-----
----F-----
铬(硬)NF*--NF*F-----
----F-----
阳极氧化铝NF---F-----
环氧树脂NFNFNFNFF-NFNF-NF
镀锌----F-----
瓷漆NFNFNFNFF-NFNF-NF
金属喷涂----F-----
二硫化钼----F-NF---
镍 (非电镀)NF*NF*-NF*F-----
油漆NFNFNFNFFNFNFNFNFNF
塑料NFNFNFNFFNFNFNFNFNF
电镀----F-----
橡胶NF---F---NF-
抗蚀剂---NF------
----F-----
清漆NFNFNFNFF-----
----F-----

NF: 使用非铁基探头
F: 使用铁基探头
* : 要求有已知样本进行校准

笃挚仪器代理供应英国易高测厚仪,易高有全面系列的涂层检测,超声波无损检测,外观和光泽度测量以及混凝土和金属检测设备,具备测量所需的一切; 表面轮廓到清洁; 相对湿度到露点; 湿膜至干膜涂层厚度; 材料厚度到探伤; 涂层附着力到光泽度; 针孔到孔隙度检测; 金属探测到混凝土检测。

---文章摘自易高guan网(侵删)


超声波测厚仪显示值偏大偏小的因素分析

 (1)、层叠材料、复合(非均质)材料。要测量未经耦合的层叠材料是不可能的,因超声波无法穿透未经耦合的空间,而且不能在复合(非均质)材料中匀速传播。对于由多层材料包扎制成的设备(像尿素高压设备),测厚时要特别注意,测厚仪的示值仅表示与探头接触的那层材料厚度。
  (2)、声速选择错误。测量工件前,根据材料种类预置其声速或根据标准块反测出声速。当用一种材料校正仪器后(常用试块为钢)又去测量另一种材料时,将产生错误的结果。
  (3)、温度的影响。一般固体材料中的声速随其温度升高而降低,有试验数据表明,热态材料每增加100°C,声速下降1%。对于高温在役设备常常碰到这种情况。
  (4)、耦合剂的影响。耦合剂是用来排除探头和被测物体之间的空气,使超声波能有效地穿入工件达到检测目的。如果选择种类或使用方法不当,将造成误差或耦合标志闪烁,无法测量。实际使用中由于耦合剂使用过多,造成探头离开工件时,仪器示值为耦合剂层厚度值。
  (5)、被测物体(如管道)内有沉积物,当沉积物与工件声阻抗相差不大时,测厚仪显示值为壁厚加沉积物厚度。
  (6)、金属表面氧化物或油漆覆盖层的影响。金属表面产生的致密氧化物或油漆防腐层,虽与基体材料结合紧密,无名显界面,但声速在两种物质中的传播速度是不同的,从而造成误差,且随覆盖物厚度不同,误差大小也不同。
  (7)、当材料内部存在缺陷(如夹杂、夹层等)时,显示值约为公称厚度的70%(此时要用超声波探伤仪进一步进行缺陷检测)。
  (8)、应力的影响。在役设备、管道大部分有应力存在,固体材料的应力状况对声速有一定的影响,当应力方向与传播方向一致时,若应力为压应力,则应力作用使工件弹性增加,声速加快;反之,若应力为拉应力,则声速减慢。当应力与波的传播方向不一至时,波动过程中质点振动轨迹受应力干扰,波的传播方向产生偏离。根据资料表明,一般应力增加,声速缓慢增加。


涂层测厚仪测量结果不准的原因

  涂层测厚仪测量结果不准确主要是由下面几种原因引起:  1、强磁场的干扰。  当仪器在强电磁场附近工作时,测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。  2、人为因素。  在使用仪器测量过程中如果用户对测厚仪不熟悉就可能使探头偏离被测机体,使磁通量发生变化造成错误测量。所以初次使用本仪器时,要掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响,在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长,以免造成基体本身磁场的干扰。  3、在系统矫正时没有选择合适的基体。  基体最小平面为7mm,最小厚度为0.2mm,低于此临界条件测量是不可靠的。  4、附着物质的影响。  涂层测厚仪对妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此必须清除附着物质,以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统矫正时,选择的基体的表面也必须是裸露的、光滑的。  5、仪器发生故障。  技术人员修理或返厂维修。

标签: 涂层测厚仪
涂层测厚仪 涂层测厚仪测量结果不准的原因_涂层测厚仪

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