影响磁性涂层测厚仪测量因素有哪些
1，基体金属磁性变化。为了避免热处理、冷加工等因素的影响，应使用与镀件金属具有相同性质的铁基片上 对仪器进行校对。
2，测量基体金属厚度，基体金属有一定临界厚度，超过厚度测量就不受基体厚度的影响。
3，边缘效应，在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不的，校对试片尽量在试片中间以减少误差。
3，测量件曲率，试件的曲率对测量有影响，这种影响是随着曲率半径减小明显增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。
5，被测物体表面粗糙度，基体金属和表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差。每次测量时，在不同位置上增加测量的次数，克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙还必须在未涂覆的粗糙相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用没有腐蚀性的溶液除去在基体金属上的覆盖层，再校对仪器零点。
6，磁场，被测物体周围磁场会干扰磁性测量，影响涂层测厚仪精度。
7，附着物质，本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。
8，测量过程中探头的放置，探头的放置方式对测量有影响，在测量中使探头与试样表面保持垂直。这是涂层测厚仪（其他测厚仪，如超声波测厚仪也是这样）测量中要注意的问题。
9，试片的变形及试片本身的误差，探头使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上会出现一定的误差。
10，测量次数，对于数据要求经度比较高的测量要实行多次测量求平均值，精度要求更高的可以多台仪器测量求平均值。
11，还有一些其它不确定因素。
覆层测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
由于该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。 本仪器符合以下标准： GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法JB/T 8393─1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪JJG 889─95《磁阻法测厚仪》。
覆层测厚仪主要功能：
可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正：
具有两种测量方式地：连续测量方式（continue）和单次测量方式（single）;
具有两种工作方式：直接方式和成组方式；
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
设有五个统计量：平均值地（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、测试次数（NO.）、标准偏差（S.DEV）；
具有打印功能，或打印测量值、统计值；
具有欠压指示功能；
操作过程有蜂鸣声提示；
具有错误提示功能；
具有自动关机功能。
覆层测厚仪技术参数：
测头类型：F。
测量原理：磁感应。
测量范围：0-1250um。
低限分辨力：1?m（10um以下为0.1um）。
探头连接方式：一体化。
示值误差：一点校准（um）±[3%H 1]。
两点校准（um）： ±[（1～3）%H 1]。
测量条件：小曲率半径（mm） 凸 1.5 凹9。
基体小面积的直径（mm）：ф7。
小临界厚度（mm）：0.5。
温湿度：0~40℃，20%RH～90%RH。
统计功能：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、测试次数（NO．）、
标准偏差（S．DEV）。
工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）。
测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）上下限设置。
存储能力：15 个测量值。
打印/连接计算机：可选配打印机/不能连接电脑。
关机方式：自动。
电源：二节3.6V镍镉电池。
外形尺寸：150×55.5×23mm。
重量：150g。
基本配置：主机。
标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）。
铁基体。
充电器。
可选附件。
TA230打印机。
基本配置：
TT220主机 一台
标准样片 1盒
标准基体 1块
充电器 1个
覆层测厚仪优点：
测量速度快：测量速度比其它TT系列快6倍；
精度高 ：本公司产品简单校0后精度即可达到1-2%是目前市场上为数不多能达到A级的产品,其精度远高于时代等国内同类.比EPK等进口产品精度也高；
稳定性：测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品；
功能、数据、操作、显示全部是中文。
覆层测厚仪功能特点：
采用了磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆盖层的厚度（如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）。
基本原理：
本仪器采用了磁性测厚法，可无损伤地测量磁性金属基体上的非磁性覆盖层的厚度（如钢、铁、非奥氏体不锈钢基体上的铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆镀层）。 基本工作原理是：当测头与覆盖层接触时。测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆层的厚度。
特点：
性价比优势：同类进口产品中具有很高的价格性能比。
服务优势：具有zui多的服务网点和强大的。
探头：配备有世界上zui优秀的检测探头。
简介：
该仪器应用于喷涂电镀、涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面涂层及各种薄膜厚度的测量，CMI 200型测厚仪是高科技电子技术和软件的zui佳组合，多功能、耐用的设计，专为适应zui恶劣的工作环境而制造，典型应用于表面处理工业。
参数：
测量方法：磁感应或涡流式
分辨率：0.1μm/0.01mil
适用标准：磁感应遵守ASTM B499 & B530；DIN 50981；ISO 2178BS 5411 PART9&11有关规定。涡流式遵守ASTM B244 & B259；DIN 50984；ISO 2360BS 5411 PART3有关规定
存储量：12，400条读数
低铁和无铁层厚度：12 mils（305μm）
尺寸及重量：14.9X7.94X3.02 CM；重量：260克（含电池）
单位：英制和公制，可转换
电池：9伏干电池或充电电池
统计数据显示：读取次数，平均值，标准差，zui高值，zui低值，由打印机或连续输出支持的直方图和CPK图
接口：RS-232串行输出端口
显示：1/2英寸背光液晶显示屏
键区：密封膜。基本-9键；增强-16键
扫描特征：在指定扫描时间内自动平均读数（或可提供实际高低值）
品牌及产地：英国牛津；产地：美国
标准配置：主机和指定型号的探头·9伏干电池·标准膜片2片·操作手册
应用范围：
磁感应：铁/钢等磁性基材上的非磁性涂层，例如锌、铬、镉、锡、铜、聚四氟乙烯、环氧树脂、油漆、粉末涂料或亚铁基底的搪瓷上的珐琅。
涡流：铝/铜等导电基材上的非导电性涂层，例如阳极电镀、油漆、珐琅/瓷釉、粉末涂料或在非亚铁基底上的环氧化物。
漆膜测厚仪用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点
漆膜测厚仪的校验方法：
1、取以上各种厚度的校准箔片在未涂层的基体上，各测量5次，计算出测量平均值。
2、显示值与标准箔片厚度值不符，用“Δ”和“▽”键改变显示值直到显示值与标准箔片厚度一致。
3、按CAL键，校正结束。
判定示值误差，在±1%范围内为合格。
对校验过程进行记录并将记录填写在《监视和测量设备校验记录》上。
对校验合格的漆膜测量仪贴合格证标签，不合格的则进行修理、调试，完后重新校验。
校验周期为一年。
该仪器测定油漆涂料干膜厚度。试验技术特征：通过涂覆前后的比较测量干膜厚度。
校验条件
1、温度20±5℃，相对湿度50%-80%。
2、标准箔片47.8μm±1%、98.6μm±1%、257.2μm±1%、489μm±1%、1002μm±1%厚。
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