涂层测厚仪如何使用才可避免降低误差
在运用涂层测厚仪测量时尽量运用被测材质来作为调零的基体，以防止因为不同的材质而致使导磁性不同，而呈现测量误差。等到在被测材质的同一部位调零以后，再实行一样部位的测量，如在侧脸工件边缘及中间部分时当分别调零。
在应用涂层测厚仪实行测量时还该当注意探头和被测料面维持垂直，以免发生大的误差。若是测量的同一个点，可将探头每次都离开10公分以上，间隔几秒后再实行测量，以免被测材质探头磁化而影响测量结果。
涂层测厚仪作为调零用的外表面须要尽量维持光滑，假如外表面不光滑，该当视状况取平均值，由于外表面粗糙度对测量的数值影响较大。构造不同应分别实行调零测量，平面调零侧脸平面，测量凹面调零后测量，测量凸面调零后实行测量，防止因为构造不同而在测量上发生误差。
1.超薄材料
使用任何超声波测厚仪，当被测材料的厚度降到探头使用下限以下时，将导致测量误差，必要时，最小极限厚度可用试块比较法测得。当测量超薄材料时，有时会发生一种称为“双重折射”的错误结果，它的结果为显示读数是实际厚度的二倍，另一种错误结果被称为“脉冲包络、循环跳跃”，它的结果是测得值大于实际厚度，为防止这类误差，测临界探头使用下限的材料时应重复测量核对。
2.锈斑、腐蚀凹坑等
被测材料另一表面的锈斑凹坑等将引起读数无规则地变化，在极端情况下甚至无读数，很小的锈点有时是很难发现的。当发现凹坑或感到怀疑时，这个区域的测量就得十分小心，可选择探头串音隔层板不同角度的定位来作多次测试。
3.探头的磨损
探头表面为丙烯树脂，长期使用会使粗糙度增高，导致灵敏度下降，用户在可以确定为此原因造成误差的情况下，可用砂纸或油石少量打磨探头表面使其平滑并保证平行度。如仍不稳定，则需更换探头。
4.“ZERO”键的使用
此键只能用于将探头耦合在仪器面板上的标准试块上进行校准，而不得在其它任何试块上使用此键，否则将引起测量错误。
5.层迭材料、复合材料
要测量未经耦合的层迭材料是不可能的，因超声波无法穿透未经耦合的空间。又因超声波不能在复合材料中以匀速传播，所以用超声反射原理测量厚度的仪器均不适于测量层迭材料和复合材料。
6.反常的厚度读数
操作者应具备辨别反常读数的能力，通常锈斑、腐蚀凹坑、被测材料内部缺陷都将引起反常读数。解决办法可参考第6、7条。必要时可用超声波探伤仪做更仔细的检查。
7.耦合剂的使用和选择
耦合剂是用来作为探头与被测材料之间的高频超声能量传递的。如果选择种类或使用方法不当将有可能造成误差或耦合标志闪烁，无法测值。耦合剂应适量使用，涂抹均匀。选择合适种类的耦合剂是重要的，当使用在光滑材料表面时，低粘度的耦合剂(如随机配置的耦合剂、清机油等)是很合适的。当使用在粗糙材料表面、或垂直表面及顶面时，可使用粘度较高的耦合剂(如甘油膏、黄油、润滑脂等)。
数显磁性测厚仪测定磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。
专用于铁磁性材料表面上非磁性涂镀层厚度的测定。
数显磁性测厚仪参数：
测量范围：O-200μm。
执行标准：GB/T1764-89、GB/T13452.2-92、ISO2808-74。
测量精度：±（0.7μm3%H）*H为标准厚度。
测厚仪原理分类：
测厚仪按照测量的方式不同，可大致分为：
1、接触式测厚仪
接触面积大小划分：
点接触式测厚仪
面接触时测厚仪
2、非接触式测厚仪
非接触式测厚仪根据其测试原理不同，又可分为以下几种：
激光测厚仪
超声波测厚仪
涂层测厚仪
X射线测厚仪
白光干涉测厚仪
电解式测厚仪
测厚仪应用：
薄膜测厚仪：
用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
涂层测厚仪：
用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。
超声波测厚仪：
超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时;
脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。
它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。
它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。
主要应用行业：
有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。
纸张测厚仪：
适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
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