测厚仪英文名称为thicknessgauge，是一类用来测量材料及物体厚度的仪表，在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度。那么我们常见的几种测厚仪的工作原理是什么？下面就来了解下：
1、激光测厚仪
激光测厚仪：此类测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。
2、X射线测厚仪
X射线测厚仪：此类测厚仪利用的是当X射线穿透被测材料时，X射线强度的变化与材料厚度相关联的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。
3、超声波测厚仪
超声波测厚仪：这种测厚仪是根据超声波脉冲反射的原理来对物体厚度进行测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲会发生反射而返回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间，来计算被测材料的厚度。
4、涂层测厚仪
涂层测厚仪：主要采用的是电磁感应法来测量涂层的厚度。涂层测厚仪会在部件表面的探头处产生一个闭合的磁回路，伴随着探头与铁磁性材料之间距离的变化，该磁回路将会发生不同程度的改变，因此会引起磁阻及探头线圈电感的变化。
使用超声波测厚仪测量铸件材料时，因铸件材料其特殊性，晶粒比较大，组织不够紧密，再加上往往处于毛面状态就进行测量，因此使测量遇到较大的困难。
首先是晶粒的粗大和组织不紧密性造成声能的极大衰减，衰减是由材料对声能的散射和吸收造成的。衰减的程度与晶粒尺寸和超声频率是有密切关系的，相同频率下衰减随晶粒直径的增大而增大，但有一最高点，超过这一点，晶粒直径再增大，衰减基本趋于一固定值。对于不同频率的衰减随频率的增大而增大。
其次，由于晶粒粗大和铸造中存在粗大异相组织时，将产生异常反射，即草状回波或树状回波，使测厚出现错误读数，造成误判。
另外，随着晶粒的粗大，金属结晶方向上的弹性各向异性表现得更为显着，从而使不同方向上的声速造成差异，最大差异甚至可达5.5%。而且工件内不同位置上组织的致密性也不一致，这也将造成声速的差异。这些都将产生测量的不准确。因此对铸件测量要特别小心。对铸件测量时应注意：
在测量表面不加工的铸件时，必须采用粘度较大的机油、黄油和水玻璃作耦合剂。可以用与待测物相同的材料，测量方向与待测物也相同的标准试块校准材料的声速。必要时可进行两点校准。
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