数显磁性测厚仪分类：
测厚仪按照测量的方式不同，可大致分为：
1、接触式测厚仪
接触面积大小划分：
▲点接触式测厚仪
▲面接触时测厚仪
2、非接触式测厚仪
非接触式测厚仪根据其测试原理不同，又可分为以下几种：
▲激光测厚仪
▲超声波测厚仪
▲涂层测厚仪
▲X射线测厚仪
▲白光干涉测厚仪
▲电解式测厚仪
相关设备六角梳规湿膜测厚仪
数显磁性测厚仪应用：
▲激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
▲X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.
纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
▲薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
▲涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。
▲超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
数显磁性测厚仪用途：
该测厚仪测定磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。专用于铁磁性材料表面上非磁性涂镀层厚度的测定。
数显磁性测厚仪参数：
▲测量范围： O-200μm。
▲执行标准： GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74。
▲测量精度：±（ 0.7μm 3%H ）*H为标准厚度。
GT810F数显磁性测厚仪简介：
该仪器是磁性便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。Fe质探针可检测所有非磁性涂层厚度，例如涂在钢、铁上的漆、粉末涂层、塑料、瓷、铬、铜、锌等。采用了磁感应测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度；可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；操作过程有蜂鸣声提示；电池电压指示：低电压提示；自动关机。
参数：
▲使用环境：温度：0-40℃ 湿度：10-85%RH。
▲准确度：±（1.5～3%h）或±2um。
▲公制/英制：可转换。
▲电源：2节5号电池。
▲仪器尺寸：02mm×66mm×24mm。
▲重量：99g（含电池）。
▲测量范围：0-1250um （标准量程） 。
▲分辨率：0.1/1。
▲zui小曲面:F: 凸 5mm/ 凹 5mm。
▲zui小测量面积：10mm。
▲zui薄基底：0.3mm。
随着客户的需求，涂层测厚仪已经发展为多元化，那在如今市场如何选姐一款好的仪器很重要，它关系到您以后的使用方便。
1.为什么涂层测厚仪有时测量不准确?
这是一个比较笼统的问题。因为就仪器不准的原因来说是多种多样的。单对涂层测厚仪来说，主要有下面几种原因引起测量不准确。
(1)强磁场的干扰。我们曾做过一个简单实验，当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时，测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。
(2)人为因素。这种情况经常会发生在新用户的身上。涂层测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化，并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体，使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时，要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响，在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长，以免造成基体本身磁场的干扰。
(3)在系统矫正时没有选择合适的基体。基体最小平面为7mm，最小厚度为0.2mm，低于此临界条件测量是不可靠的。
(4)附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统矫正时，选择的基体的表面也必须是裸露的、光滑的。
(5)仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。
2.涂层测厚仪测量过程中，为什么有时候测量数据会出现明显偏差?
因为就仪器不准的原因来说是多种多样的。单对涂层测厚仪来说，主要有下面几种原因引起测量不准确。
（1）强磁场的干扰。我们曾做过一个简单实验，当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时，测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。 （2）人为因素。这中情况经常会发生在新用户的身上。涂层测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化，并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体，使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时，要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响，在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长，以免造成基体本身磁场的干扰。 （3）在系统校准时没有选择合适的基体。基体最小平面为7mm，最小厚度为0.2mm，低于此临界条件测量是不可靠的。 （4）附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统校准时，选择的基体的表面也必须是裸露的、光滑的。 （5）仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。 （6）测量过程当中由于探头放置方式不正确或者外界干扰因素的影响可能会造成测量数据明显偏大。这时可以按住CAL键把该数据清除以免进入数据统计中去。3.涂层测厚仪如何系统校准?
校准的方法、种类，这是新用户经常会遇到的问题。系统校准、零点校准还有两点校准其实都已经在说明书上写到了，用户只需仔细阅读就可以了。需要注意的是：在校准铁基时可以是多测量几次以防止错误操作;系统校准的样片要按照从小到大的顺序进行。如果个别标准片丢失可以找与其数值相近的样片代替。
4.如何选择合适的仪器型号?
选择什么型号的仪器可以，要根据用户测量物体的厚度来定。一般来说测量450um以下的物体时可以选择MC-2000系列，对0~450um的厚度来说该型号已经达到2%~3%的精确度，而且对450um以下的厚度值它也能够很好的确保测量精度。如果测量物体厚度在0-5000um，建议选择mc-2000c型测厚仪。更厚的话就要选择mc-2000d型磁性涂层测厚仪。
5.有时开机出现干扰是什么原因?
开机后仪器屏幕出现测量状态箭头不能再次进行测量，就说明仪器受到了干扰。主要有两个原因:
(1)开机时探头离铁基太近，因为铁基磁场的影响而受到了干扰。
(2)没插好探头或者探头线有损伤。
涂层测厚仪磁感应的测量原理
涂层测厚仪采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。时代涂层测厚仪利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。
磁性原理测厚仪可应用来测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。
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