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沥青含量分析仪注意事项 分析仪是如何工作的

时间:2020-09-10    来源:仪多多仪器网    作者:仪多多商城     

沥青含量分析仪注意事项:
●试验时料筐要轻拿轻放,防止用力过大过猛导致托盘偏移,影响试验结果精度。
●每次试验结束时,请用钢丝刷将料筐清理干净,不留残渣。
●在市电不稳的场所增加一台电源稳压器,确保供电稳定不变。
●长途搬运燃烧时应将电子称、托盘拆下。燃烧炉门上的隔热保温层拆除,妥善保护,同时炉胆内填充柔软填充物,防止电炉丝脱落。用户搬运燃烧炉时也可向我公司售后服务人员咨询。
●试验人员必须戴好隔热手套,防止事故,严禁用身体各个部位直接接触燃烧炉。
●燃烧炉在执行操作步骤⑹、⑺两项时,严禁按动控制面板上的任何按键并且严禁打开炉门。
●电子天平预热时间为15分钟,为使测量更加准确,应在15分钟后再进行试验操作。
●由于燃烧时一部分矿粉随烟灰丢失,每次更换混合料类型时应在试验室用相同的料精拌后烧两到三次。燃烧完毕后记下计算油石比与燃烧真实值之差,此参数就是校正误差系数,添入校正参数中(即调节校正参数百分数,当损失误差系数偏大时,应按(键④)减小误差,当损失误差系数偏小时,应按(键③)补充修正实际值与燃烧值之间的误差。

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沥青含量分析仪特点:
●使用单片机和高精度电子天平进行试验和控制,操作简单易学,使用维护方便。
●使用单片机和高精度电子天平测量试样重量变化,按预先设定的试验稳定值准确地判断试验结束点。
●采用新型炉体结构,升温速度快,试验时间短。
●新型外观设计,炉体外形美观。炉体与天平机箱定位准确,保证试样中心位于天平中心。
●对于每一类型需要试验的沥青混合料,参照美国标准ASTM D6307-98和AASHTO T308-99的标准技术要求,用校准试样测定此种类型沥青混合料的校准系统,保证试验结果准确可靠。

 

沥青含量分析仪结构组成:
燃烧炉由三大部分组成,燃烧部件(炉膛,壳体),质量测定部件(电子 天平)和电子测控部分。

●燃烧部件:
燃烧炉膛由燃烧室,加热器,集烟室,排风烟道。燃烧室由耐高温板材 构成主体燃烧室大小为 300mm×320mm×450mm。燃烧室设定温度为 7 375-600℃。燃烧室能承受的高温为 1000℃。

●质量测定部件:
在燃烧室的下部有4 个直径30mm 的通孔,炉膛内的承烧板通过4 根不锈 钢钢管与底下的天平承烧板相联。沥青混合料的变化通过电子天平测量得到。 电子天平是燃烧炉的重要组成部分,天平的测量精度是保证沥青含量测量的 精度和仪器可靠性的重要部件。该天平使用的是进口产品,能够准确分辨至 0.1g

●电子控制部分:
电子控制部分的主体元件放置 在燃烧炉壳体的上部的蓝色控制器箱内,控制器内带有高压,未经授权的维 修人员严禁打开控制器。

 

沥青含量分析仪操作规程:
●检查试验室电源是否安全接通。
●检查单片机电源及燃烧炉电源,接通燃烧炉电源,打开控制机箱右侧的红色开关,使单机片进入工作状态,显示屏显示工作菜单。
●设定温度(通常为540度),校正参数(初次校正参数为0),混和料类型。
●按下加热键,加热指示灯亮,燃烧炉开始加热。
●当炉膛达到设置温度时,打开燃烧炉炉门,此时加热自动停止,将空料筐放入托盘(请小心轻放)。
●关上炉门,按下加热键加热,待显示屏显示的时实温度不低于500度,试样重量数值(此时为料筐重量)稳定后(此时加热为3~10min),再按去皮键,将试样重量清0,数值应小于0.2g。
●打开炉门取出料筐,请马上关上炉门以免炉膛温度下降,将所需要试验的沥青混和料放入料筐内,注意不要堆放在一起要平摊放入料筐内。
●将料筐放入燃烧炉内的托盘上,一定要将料筐放置在托盘的中央。才能确保试验结果的准确性。
●关上炉门,迅速按下加热键,加热指示灯亮,燃烧炉开始加热,显示屏显示试样重量(试验中此数值不变),加热30s后,风机开始工作,显示屏上的数值刷新一次,此时试验开始。
●试验中显示屏上不断的显示损失重量的数值,当损失的重量达到一定的值时,单机片自动知道试验是否结束,试验结束风机自动停止工作后,显示屏上显示试验结果,打印机自动打印试验报告。
●打开炉门取出料筐并清理干净,准备下次试验。
●如需要多份试验报告,请重复按下打印键。

 

沥青含量分析仪简介:
该仪器符合美国标准ASTM D6307-98和AASHTO T308-99的技术要求,可快速、准确、安全、可靠地测定沥青含量,能满足搅拌站大批量连续生产和公路监理检查的要求,进而保证筑路的质量。在中国燃烧法测定沥青含量试验标准编制前,可参照上述两个技术标准要求进行试验。

 

沥青含量分析仪技术指标:
●工作室尺长:350 mm。
●宽:440mm。
●高:330 mm。
●电源工作电压:380V±10 三相(星形),
●电流不大于:20A。
●天平量程:10Kg。
●分度值:0.1g。
●燃烧室zui高工作温度:800℃。
●zui大试样重量:3500g。
●推荐试样重量:1000~1500g。
●试验稳定系数:0.1%。
●单片机测量控制:控制面板设置在设备正面,操作员点触摸键可设定试验参数并进行试验操作。试验进行时显示屏实时显示试验参数和试验数据,测试结束后自动形成打印文件,打印机自动打印试验报告。

 

沥青含量分析仪原理和结构:
●原理:将加热搅拌后已知重量的沥青混合料放入高温燃烧室内燃烧,燃烧生成的沥青烟气经过过滤后排出。在燃烧过程中天平实时称量沥青混合料,计算沥青燃烧损失的重量,而后实时计算出沥青的百分比含量、油石百分比,试验测试自动结束。
●结构:HYRS-6型燃烧法沥青含量测试仪,沥青燃烧炉由三大部分组成:燃烧设备(即燃烧炉炉体)、重量测定设备(即电子天平)和试验测量控制和数据处理部分(即单片机测控系统)
●燃烧炉的构成:燃烧法沥青含量测试仪,沥青燃烧炉由燃烧室、加热器、集烟室和鼓风排气部分组成。燃烧室大小为350mm×440mm×330mm,燃烧室设定工作温度为100~540℃,zui大工作温度为室温至800℃,加热功率为7KW。
在燃烧室下部有四个Φ30mm通孔,通过托盘(材料为堇青石-莫来石板)与4根Φ16mm熔铸合成云母棒的连接体与燃烧炉下部控制柜内的电子天平称盘相连接,用以测量试料的重量变化。

 

 

参数:
★zui大载荷及精度:30kg±5g
★位移测量范围及精度:0~20mm±0.01mm。
★控温范围及精度: 60℃~-20℃±0.1℃。
★时间测量范围及精度:0-60min±1S。
★外形尺寸:880×480×1000mm。
★环境温度:≤30℃。 
★相对湿度:≤85%。
★整机功耗:2KW。
★仪器净重:130kg
★电源电压:220v

 

计算方法:
★从图1试验时间一跨中挠度曲线上按试验数据采样频率读取不同时间t1的跨中挠度d1,至时间一挠度曲线进入直线段(稳定期)后.读取直线段起点及终点的时间及变形(t1、d1及t2、d2)。
★当进行低温弯曲蠕变试验,且试验是在试验机环境箱中进行时,小梁的自重影响在计算时可略去不计。按式(1)~(5)计算蠕变弯拉应力σ0,梁底弯拉应变ε(t)及弯曲蠕变劲度模量S(t)、弯曲蠕变柔量J(t),弯曲蠕变速率ε。此组公式不适用于规定温度高于20℃的情况。

 

目的:
是对规定尺寸的小梁试件,在跨中施加恒定的集中荷载,测定随时间不断增长的蠕变变形。跨中断面下缘的总应变与应力之比值为弯曲蠕变柔量,以1/MPa计。在单位应力条件下,变形等速增长的稳定期内单位时间增加的应变值即蠕变速率,以1/s/MPa计。

 

性能: 
★液晶屏显示位移及时间关系曲线。
★并自动判断试验结果。
★自动控制整个试验过程(包括:加载、保护、试验、判断及卸载).
★设置电脑接口,通过电脑打印曲线及结果。
★具有分段采样功能。采样速率:在开始加载后的10秒内,采样速率不小于100HZ;此后5min 不小于1 HZ; 然后以不小于0.2HZ至试验结束。
★液晶屏显示位移及时间关系曲线。并自动判断试验结果。
★设置电脑接口,通过电脑打印曲线及结果。
★自动控制整个试验过程(包括:加载、保护、试验、判断及卸载)
★具有水循环系统,保证温度均衡。
★加载形式采取垂直加载避免了结构不合理造成的载荷不恒定的弊端,性能可靠。

 

准备工作:
★按本规程T 0703沥青混合料试件制作方法由轮碾成型的板块状试件上用切割法制作棱柱体试件,试件尺寸应符合长250mm±2mm、宽30mm±2mm、高35mm±2mm的要求,一块300mm×300mm×50mm的板块通常可切制6根试件。
★在跨中及两支点断面用卡尺量取试件的尺寸,当两支点断面的高度(或宽度)之差超过2mm时,试件应作废。跨中断面的宽度为b,高度为h,取相对两侧的平均值,准确至0.1mm。
★按本规程规定的方法测量试件的密度、空隙率等各项物理指标。
★将试件置于规定温度的恒温水槽中保温1h,试件之间的距离应不小于10mm。当进行沥青混合料的高温弯曲蠕变试验时,试件必须平放在支起的平板玻璃上。
★将试验机环境箱调到规定温度±0.1℃。
沥青弯曲蠕变试验系统将试验机梁式试件支座准确安放好
测定支点间距为200mm±0.5mm,使上压头与下压头钢棒保持平行且距离相等,然后将位置固定。从一组6根试件中随机选取2根试件,在规定温度条件下按本规程T 0715的方法进行弯曲试验,加载速率为50mm/min 。测定试件的破坏荷载P,求取平均值。以破坏荷载的10%作为弯曲蠕变试验的荷载P0。

 

方法步骤:
★将试件从恒温水槽中取出,立即对称安放在支座上,试件上下方向应与试件成型时方向一致。高温弯曲蠕变试验必须在恒温水槽中进行,低温弯曲蠕变试验可在恒温水槽或试验机的环境箱中进行。
★将荷载传感器、位移计与数据采集系统或双笔X-Y记录仪连接,以X轴为时间轴,Y轴记录荷载(Y1)及位移(Y2),选择适宜的量程后调零。 
★在梁跨正中央安放位移测定装置,跨中挠度可以用LVDT、电测百分表测定。位移计支座固定在试验机机身上。位移计测头支于试件跨中中央(1个位移计)或两测(用2个位移计)。位移计有效量程应大于预计的zui大挠度的1.2倍。当采用X-Y记录仪,为正确地从曲线读取数据,在开始加载后的60s内,记录仪的走纸速度(或扫描速度)宜不小于100mm/min,直至试验结束宜不小于10mm/min。当采用电子数据采集系统记录挠度变形时,为正确地根据输出数据,绘制曲线,在开始加载后的10s内,采样频率宜不小于100Hz,此后5min宜不小于1 Hz,然后以不小于0.2Hz的采样频率直至试验结束。
★施加荷载P0当采用砝码加载的杠杆式蠕变试验机时,直接不加振动地一次加上要求的砝码荷载,施加在试件上的荷载应符合破坏荷载的10%±1%的要求。当采用能施加恒定荷载的电液伺服材料试验机或压力机时,开动试验机、快速(宜为50mm/min)在跨中施以集中荷载达到要求的恒定荷载,并符合破坏荷载的10%±1%的要求。
★在施加荷载的同时开动记录仪。记录荷载变化过程及跨中挠度曲线,如图1所示。直至变形进人直线稳定发展的时间不得少于0.5h,根据需要可试验至试件断裂为止。
★按同样顺序对其它试件进行试验,一组试件重复试验的试件数不得少于3根。 

【导读】金相分析仪是一套用于各种铸铁(灰口、球墨)、合金钢、不锈钢、铜合金等材料金相分析的专业仪器,该系统采用了较新的计算机和信息技术,集成了数码采像装置和计



    金相分析仪是一套用于各种铸铁(灰口、球墨)、合金钢、不锈钢、铜合金等材料金相分析的专业仪器,该系统采用了较新的计算机和信息技术,集成了数码采像装置和计算机辅助金相分析软件,直接从显微镜上获取金相组织图像并以数字图像文件格式存储在计算机中,系统对图像做进一步处理和分析,以计算出所需检测参数,并可将检测结果以报告形式打印输出。
    (一)操作者必须熟练掌握并严格执行使用规程。
    (二)取送显微镜时一定要一手握住弯臂,另一手托住底座。显微镜不能倾斜,以免目镜从镜筒上端滑出。取送显微镜时要轻拿轻放。
    三)观察时,不能随便移动显微镜的位置。
    (四)凡是显微镜的光学部分,只能用特殊的擦镜头纸擦拭,不能乱用他物擦拭,更不能用手指触摸透镜,以免汗液玷污透镜。
    (五)保持显微镜的干燥、清洁,避免灰尘、水及化学试剂的玷污。
    (六)转换物镜镜头时,不要搬动物镜镜头,只能转动转换器。
    (七)切勿随意转动调焦手轮。使用微动调焦旋钮时,用力要轻,转动要慢,转不动时不要硬转。
    (八)不得任意拆卸显微镜上的零件,严禁随意拆卸物镜镜头,以免损伤转换器螺口,或螺口松动后使低高倍物镜转换时不齐焦。
    (九)使用高倍物镜时,勿用粗动调焦手轮调节焦距,以免移动距离过大,损伤物镜和玻片。
    (十)用毕送还前,必须检查物镜镜头上是否沾有水或试剂,如有则要擦拭干净,并且要把载物台擦拭干净,然后将显微镜放人箱内,并注意锁箱。





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正确选择和使用逻辑分析仪  逻辑分析在20世纪80 年代后期,逻辑分析仪变得更加复杂,当然使用起来也就更加困难。例如,引入多电平树形触发,以应付条件语句如IF、THEN、ELSE等复杂事件。这类组合触发必然更加灵活,同时对大多数用户来说就不是那样容易掌握了。
  逻辑分析仪的探头日益显得重要。需用夹子夹住穿孔式元件上的16根引脚和双列直插式元件上的只有0.1″间隙的引脚时,就出现探头问题。今天的逻辑分析仪提供几百个工作在200MHz频率上的通道信号连接就是个现实问题。适配器、夹子和辅助爪钩等多种多样,但是可以的办法的是设计一种廉价的测试夹具,逻辑分析仪直接连接到夹具上,形成可靠和紧凑的接触。
  逻辑分析仪的基本取向近年来在计算机与仪器的不断融合中找到了解决的办法。Tektronix公司TLA600系列逻辑分析仪着重解决导向和发展能力,亦即仪器如何动作和如何构建有特色的结构。导向采用微软的Windows接口,它非常容易驱动。改进信号发现能力必然涉及到仪器结构的变动。在所有要处理的数据中着重处理与时间有关联的数据,不同类型的信息采用多窗口显示。例如,对于微处理器来说,可以能同时观察定时和状态以及反汇编源码,而且各窗口上的光标彼此跟踪相连。
  关于触发,总是传统逻辑分析仪中的难题。TLA600系列逻辑分析仪为用户提供触发库,使复杂触发事件的设置简单化,保证你精力集中解决测试问题上,而不必花时间去调整逻辑分析仪的触发设置。该库中包含有许多易于掌握的触发设置,可以作为通常需要修改的触发起始点。需要特殊的触发能力只是问题的一部分。除了由错误事件直接触发外,用户还希望从过去的时段去观察信号,找出造成错误的根源和它前后的关系。精细的触发和深存储器可提高超前触发能力。
  在PC机平台上使用Windows,除了为广大用户提供了许多熟知的好处之外,只要给定正确的软件和相关工具,即可通过互联网进行远程控制,从目标文件格式中提取源码和符号,支持微软公司的CMO/DCOM标准,而且处理器可运行各种控制操作。
二、逻辑分析仪的选择
  如果数字电路出现故障,我们一般优先就考虑使用逻辑分析仪来检查数字电路的完整性,不难发现存在的故障;但是在其他情况下你是否考虑到使用逻辑分析仪呢?譬如说:第一点如何观察测试系统在执行我们事先编制好的程序时,是不是真正地在按照我们设计好的程序来执行呢?如果我们向系统写入的是(MOV A,B)而系统则是执行的(ADD A,B),那会造成什么样的后果?第二点:怎么样真正地监测软件系统的实际工作状态,而不是用DEBUG等方式进行设置断点后,查看预先设定的某些变量或内存中的数据是我们预先想得到的值。在这里我们有第三、第四等等很多问题有待解决。
  通常我们将数字系统分成硬件部分和软件部分,在研发设计这些系统时,我们有很多事情要做,譬如硬件电路的初步设计、软件的方案制定和初步编制、硬件电路的调试、 软件的调试、以及最终的系统的定型等等工作,在这些工作中几乎每一步工作都要逻辑分析仪的帮助,但是鉴于每个单位的经济实力和人员状况不同,并且在很多系统的使用中都不是要把以上的每个部分都进行一 遍,这样我们就把逻辑分析仪的使用分成以下几个层次:
  第一个层次:只要查看硬件系统的一些常见的故障,例如时钟信号和其他信号的波形、信号中是否存在严重影响系统的毛刺信号等故障;
  第二个层次:要对硬件系统的各个信号的时序进行很好的分析,以便可以地利用系统资源,消除由定时分析能够分析出的一些故障;
  第三个层次:要对硬件对软件的执行情况的分析,以确保写入的程序被硬件系统完整地执行;
  第四个层次:需要实时地监测软件的执行情况,对软件进行实时地调试。
  第五个层次:需要进行现有客户系统的软件和硬件系统性的解剖分析,达到我们对现有客户系统的软件和硬件系统全面透彻地了解和掌握的功能。
  对以上的几个层次的要求,我们可以看出,他们并不都需要很高档的逻辑分析仪,对于第一层次的使用者,他们甚至用一台功能比较好的示波器就可以解决问题,针对以上的几个使用层次,在选择仪器时可以选用相应的仪器。实际上逻辑分析仪也有几个层次,他们有:
  1、 普通2~4通道的数字存储器,例如TDS3000系列(加上TDS3TRG高级触发模块),利用它的一些高级触发功能(例如脉冲宽度触发、欠幅脉冲触发、各个通道之间的一定的与、或、与或、异或关系的触发)就可以找到我们希望看到的信号,发现并排除一些故障,况且示波器的功能还可以作为其他使用,在这里我们只不过用了一台示波器的附加功能,可以说这种方式是最节省的方式。
  2、当示波器的通道数不够时,也可以选用一些带有简单的定时分析功能的多通道定时分析仪器,如早期的逻辑分析仪和现在市面上还有的混合信号示波器,如Agilent的546××D示波器。
  3、一些功能比较简单,速度不是特别快的的计算机插卡 式,基于Windows、绝大部分功能都由软件来完成的虚拟仪器,这类产品在国内的很多厂家都有生产。
  4、采样速率、触发功能、分析功能都很强大的不可扩展的固定式整机。例TLA600系列。
  5、功能更强扩展性更好的模块化插卡式整机;对不同的用户,可以针对需要,选择不同档次的仪器。
  逻辑分析仪的一些技术指标:
  1、逻辑分析仪的通道数 :在需要逻辑分析仪的地方,要对一个系统进行全面地分析,就应当把所有应当观测的信号全部引入逻辑分析仪当中,这样逻辑分析仪的通道数至少应当是:被测系统的字长(数字总线数)+被测系统的控制总线数+时钟线数。这样对于一个16位机系统,就至少需要68个通道。现在几个厂家的主流产品的通道数多达340通道以上。例Tektronix等。
  2、定时采样速率 :在定时采样分析时,要有足够的 定时分辨率,就应当足够高的定时分析采样速率,我们应当知道,并不是只有高速系统才需要高的采样速率(见下表)现在的主流产品的采样速率高达2Gs/S,在这个速率下,我们可以看到0.5ps时间上的细节。
  以下是一些很常见的芯片的工作频率和建立/保持时间的列表,我们可以看出,即使它们的工作频率很低,但在时间分析(Timing)中要求的分辨率也很高。
 3、状态分析速率:在状态分析时,逻辑分析仪采样基准时钟就用被测试对象的工作时钟(逻辑分析仪的外部时钟)这个时钟的最高速率就是逻辑分析仪的高状态分析速率。也就是说,该逻辑分析仪可以分析的系统较快的工作频率。现在的主流产品的定时分析速率在100MHz,最高可高达300MHz甚至更高。
  4、逻辑分析仪的每通道的内存长度:逻辑分析仪的内存是用于存储它所采样的数据,以用于对比、分析、转换(譬如将其所捕捉到的信号转换成非二进制信号【汇编语言、C语言 、C++ 等】,等在选择内存长度时的基准是“大于我们即将观测的系统可以进行最大分割后的最大块的长度。
  5、逻辑分析仪的探头:逻辑分析仪通过探头与被测器件连接,探头起着信号接口的作用,在保持信号完整性中占有重要位置。逻辑分析仪与数字示波器不同,虽然相对上下限值的幅度变化并不重要,但幅度失真一定会转换成定时误差。逻辑分析仪具有几十至几百通道的 探头其频率响应从几十至几百MHz,保证各路探头的相对延时最小和保持幅度的失真较低。这是表征逻辑分析仪探头性能的关键参数。Agilent公司的无源探头和Tektronix公司的有源探头具有代表性,属于逻辑分析仪的高档探头。
  逻辑分析仪的强项在于能洞察许多信道中信号的定时关系。可惜的是,如果各个通道之间略有差别便会产生通道的定时偏差,在某些型号的 逻辑分析仪里,这种偏差能减小到最小,但是仍有残留值存在。通用逻辑分析仪,如Tektronix公司的TLA600型或Agilent公司的HP16600型,在所有通道中的时间偏差约为1ns。因而探头非常重要,详见本站“测试附件及连接探头”。

  a)探头的阻性负载,也就是探头的接入系统中以后对系统电流的分流作用的大小,在数字系统中,系统的电流负载能力一般在几个KΩ以上,分流效应对系统的影响一般可以忽略,现在流行的几种长逻辑分析仪探头的阻抗一般在20~200KΩ之间。
  b)探头的容性负载:容性负载就是探头接入系统时,探头的等效电容,这个值一般在1~30PF之间,在现在的高速系统中,容性负载对电路的影响远远大于阻性负载,如果这个值太大,将会直接影响整个系统中的信号“沿”的形状改变整个电路的性质,改变逻辑分析仪对系统观测的实时性,导致我们看到的并不是系统原有的特性。
 c)探头的易用性:是指探头接入系统时的难易程度,随着芯片封装的密度越来越高,出现了BGA、QFP、TQFP、PLCC、SOP等各种各样的封装形式,IC的脚间距最小的已达到0.3mm以下,要很好的将信号引出,特别是BGA封装,确实有困难,并且分立器件的尺寸也越来越小,典型的已达到0.5mm×0.8mm。
  d) 与现有电路板上的调试部分的兼容性。
  6、系统的开放性:随着数据共享的呼声越来越高,我们所使用的系统的开放性就越来越重要,现在的逻辑分析仪的操作系统也由过去的专用系统发展到使用Windows介面,这样我们在使用时很方便。
小结
  如果在你的工作中有数字逻辑信号,你就有机会使用逻辑分析仪。因此应选好一种逻辑分析仪,既符合所用的功能,又不太超越所需的功能。用户多半会找一种容易操作的仪器,它在功能控制上操作步骤较少,菜单种类也不多,而且不太复杂。
  从另一方面说,如果需要用较快速度的和最大型的分析能力很强的逻辑分析仪,已有现成的解决方案。这种新颖仪器几乎不会出现通道对通道的延时以及探头的负载影响。如果你稍有疏漏,则可能要花费几万美元的学费才能取得经验。
  确实能捕获到信号才是第一重要的事。当你知道正在捕获的 数据是有用的数据时就靠逻辑分析仪能力的发挥了。

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