厂家整理的冷热冲击试验机常见问题
科文冷热冲击试验机用途:电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化的理想测试工具. 电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化的理想测试工具.东莞市科文试验设备有限公司是国内生产冷热冲击试验机厂家,专注研发设计12年,精心为冷热冲击机用户提供的冷热冲击测试机。现在,厂家科文为您整理了冷热冲击试验机常见问题,希望能帮助冷热冲击箱用户更深入掌握该设备。
说明:
整理与介绍目前环境试验当中,使用者在使用环境试验设备,以及对于规范的要求常遇见的问题与迷失,若您有下述相关问题欢迎您与业务部,我们将竭诚为您服务。
温度冲击试验温变率是否是越快越好?
说明:温度冲击试验中的温变率是否是越快越好,温变率到底对于试验结果有没有影响,怎么样的温变率才是好的冲击温变率?
温度冲击与温度循环如何分辨?
说明:温度冲击与温度循环两者的差异性在哪里,还是都一样只是称呼不一样而已?
温度冲击试验驻留时间如何决定?
说明:在冲击过程当中有所谓的驻留时间,待测品的驻留时间要如何决定,是依据待测品的数量,还是看待测品的材质而定?
冲击温度需OVER或低于设定值?
说明:冲击过程中,冲击温度因该是高于设定值,还是低于设定值才是正确的?
冲击试验的温度感知器,因放置于测试区还是风道里面?
说明:冲击试验机的温度传感器,其放置位置因该要放在测试区里面还是风道里面?
先冲高温还是先冲低温?
说明:温度冲击试验中,因该是要先冲高温还是先冲低温,如果规范没有要求的话怎么决定?
为什么有些冲击要过常温?
说明:为什么有些冲击要过常温,而有些冲击不需要过常温,过常温的冲击试验对于产品有什么影响?
使用烤箱与冷冻柜是否可以取代冷热冲击机来进行试验?
说明:如果没有钱买冷热冲击机的话,是否可以使用烤箱与冷冻柜透过人工搬运的方式来取代冷热冲击机
如何透过冷热冲击机来计算产品预估寿命?
说明:使用冷热冲击机使否可以计算预估产品可能的使用寿命
试验中的问题:
手持待测品的要点?
说明: 要将待测品拿到试验炉内放置,怎么样拿才正确
试验炉壁多久需要擦拭?
说明:试验炉壁多久需要擦拭,是年保养还是季保养还是周保养,如果不擦的话又会怎么样
我想要缩短试验时间应该怎么做?
说明:我在进行高温高湿试验或是冲击试验时,有没有办法缩短我的试验时间,让试验结果一样
东莞科文12年只做一件事“为用户制造高品质的试验设备”,冷热冲击试验机厂家真诚为您服务,如在操作或使用冷热冲击机时遇到任何疑点,请您务必科文。
超高速高低温气流冲击试验机适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB电路板IC、光通讯(如收发器transceiver高低温测试、SFP光模块高低温测试等)、电子行业等进行IC特性分析、高低温循环测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。
工作原理
1、试验机输出气流罩将被测试品罩住,形成一个较密闭空间的测试腔,试验机输出的高温或低温气流,使被测试品表面温度发生剧烈变化,从而完成相应的高低温冲击试验;
2、可针对众多元器件中的某一单个IC或其它元件,将其隔离出来单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件,与传统冷热冲击试验箱相比,温变变化冲击速率更快。
工作模式
A)2路主空气管输出,由分布头分为8路供气,带2套1拖8系统
B)2种检测模式AirMode和DUTMode
测试和循环于高温/常温/低温(或者不要常温)
主要技术参数
设备型号:HE-ATS750
样品盒尺寸:直径140mm×高50mm
制冷方式:采用风冷式HFC环保制冷剂复叠系统,温度可达-70℃
噪音:≤65dB(A声级)
条件:风冷式环境温度在+23℃时
温度控制范围:-70℃~+250℃
冲击温度范围:-60℃~+200℃
温度转换时间:≤10秒
温度偏差:测试品恒定在-40℃时,温度偏差为±1℃
冲击气流量:1.9~8.5L/s(分为8路,每路0.23~1.06L/s)连续气流
温变速率降:RT+10℃降至-40℃≤60s
试品表面温度:RT+10℃降至-40℃约1分钟试品表面温度达到,气体温度与样品温度可选择测控
控制系统:采用进口智能PLC触摸屏控制,7寸彩色屏
试品:带2套1拖8系统,金属封装PCB板模块8片;
前端空气经干燥过滤器处理,产品测试区及附近无明显结露现象。设备可以连续运转不需进行除霜。
外形尺寸:宽790×高1600×深1080(mm)以实物为准
使用电源:AC三厢五线380V50/60HZ
标准仪据
GB/T2423.1-2008试验A:低温试验方法;
GB/T2423.2-2008试验B:高温试验方法;
GB/T2423.22-2012试验N:温度变化试验方法
GJB/150.3-2009高温试验
GJB/150.4-2009低温试验
GJB/150.5-2009温度冲击试验
悬臂梁摆锤冲击试验机为半自动控制试验机,操作简单工作效率高,扬摆、冲击、放摆电气控制,并能利用冲断试样后的剩余能量自动扬摆作好下次试验准备,特别适用于连续做冲击试验的实验室和大量做冲击试验的冶金、机械制造等行业。
冲击试验机被冲击的试样在受锤冲击的瞬间,分为手动摆锤式冲击试验机,半自动冲击试验机,非金属冲击试验机,数显半自动冲击试验机,微机控制冲击试验机。
悬臂梁摆锤冲击试验机通过高速负荷测量传感器产生信号,经高速放大器放大后,由A/D快速转换成数字信号送给计算机进行数据处理,同时通过检测角位移信号送给计算机进行数据处理,精确度高。
加装高速角位移监控系统和力检测传感器和放大器,经计算机高速采样,数据处理,可显示N-T和J-T曲线,数据存盘,数据报告打印等,能瞬时测定和记录材料在受冲击过程中的特性曲线,通过更换摆锤和试样底座,可实现简支梁和悬臂梁两种形式的试验。
悬臂梁摆锤冲击试验机是一款常见的,力学检测设备。在使用中有一些小的问题大家可以自己检测维修,确保冲击试验机的精准和良好运行。下面是常见问题的维修和检查方法:
1、搬动过程中应将摆锤卸下,以免晃动破坏有关零件
2、不使用的摆锤和附近切勿放在一起,以免摆杆受压弯曲导致变形。
3、摆锤的零件不得随意拆卸或更换,以免摆锤力矩及打击中心位置发生变化。
4、如发觉操作机构不灵,挂不上摆锤或插销脱不开时可将有关零件拆下用煤油清洗后,并涂少许的润滑油,按原位重新装复。
5、如无不正常原因,空击后指针应指到表盘的零点位置,计算机显示为0.01J,如空击后指针偏离零位超过相应摆锤最大冲击能量的0.1%,计算显示不为0,则可对下述个点检查,悬臂梁摆锤冲击试验机是否找好水平,主动针的位置是否调整正确并紧固,摆杆是否有弯曲变形,试验机摩擦是否增大,应将螺母与法兰盖可靠的紧固,以免滚珠轴承及摆轴产生轴向窜动。
挂摆插销和挂摆钩的工作表面是否有磨损迹象。牙嵌式电磁离合器磁磙与衔铁之间距离不合适,如断电情况下嵌铁端面三个钢球接触磁磙端面,会使摩擦力增大,这2者之间的距离在1.2~2mm为宜,出厂时已调好。
6、扬摆失灵可能是电机皮带过松,电磁离合器出现故障,此时需要调整皮带松紧,检修电磁离合,排除故障
原理
悬臂梁冲击试验机冲击实验时,摆锤从垂直位置挂于机架扬臂上,把扬臂提升一扬角α,摆锤就获得了一定的位能。释放摆锤,让其自由落下,将放于支架上的样条冲断,向反向回升时,推动指针,从刻度盘读数读出冲断试样所消耗的功A,就可计算出冲击强度:
(公斤?厘米/厘米2)b、d分别为试样宽及厚,对有缺口试样,d为除去缺口部分所余的厚度。从刻度盘上读出的数值,是冲击试样所消耗的功,这里面也包括了样品的"飞出功",以关系式表示为:
W为摆锤重,L为摆锤摆长,α、β分别为摆锤冲击前后的扬角;A为冲击试样所耗功;Aα、Aβ分别为摆锤在α、β角度内克服空气阻力所消耗的功;
为“飞出功”,一般认为后三项可以忽略不计,因而可以简写成:对于一固定仪器,α、W、L均为已知,因而可据β大小,绘制出读数盘,直接读出冲击试样所耗功。实际上,飞出功部分因试样情况不同,试验仪器情况不同而有较大差别,有时甚至占读数A的50%。脆性材料,飞出功往往很大,厚样品的飞出功亦比薄样大。因而测试情况不同时,数值往往难以定量比较,只适宜同一材料,同一测定条件下的比较。试样断裂所吸收的能量部分,表面上似乎是面积现象,实际上它涉及到参加吸收冲击能的体积有多大,是一种体积现象。若某种材料在某一负荷下(屈服强度)产生链段运动,因而使参与承受外力的链段数增加,即参加吸收冲击能的体积增加,则它的冲击强度就大。
脆性材料一般多为劈面式断裂,而韧性材料多为不规整断裂,断口附近会发白,涉及的体积较大。若冲击后韧性材料不断裂,但已破坏,则抗冲强度以“不断”表示。
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