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超声波测厚仪的结构组成及应用领域及维修保养

时间:2020-05-10    来源:仪多多仪器网    作者:仪多多商城     

 

 

超声波测厚仪的结构组成及应用领域
 

 

 

 


超声波测厚仪按工作原理分:有共振法、干涉法及脉冲反射法等几种,由于脉冲反射法并不涉及共振机理,与被测物表面的光洁度关系不密切,所以超声波脉冲法测厚仪是zui受用户欢迎的一种仪表。 

 

超声波测厚仪主要有主机和探头两部分结构组成。

主机电路包括发射电路、接收电路、计数显示电路三部分,由发射电路产生的高压冲击波激励探头,产生超声发射脉冲波,脉冲波经介质介面反射后被接收电路接收

通过单片机计数处理后,经液晶显示器显示厚度数值,它主要根据声波在试样中的传播速度乘以通过试样的时间的一半而得到试样的厚度。 

2 超声波测厚仪应用领域 

由于超声波处理方便,并有良好的指向性,超声技术测量金属,非金属材料的厚度,既快又准确,无污染,尤其是在只许可一个侧面可按触的场合,更能显示其优越性

 

由上海甘坛仪器生产的AH332超声波测厚仪广泛用于各种板材、管材壁厚、锅炉容器壁厚及其局部腐蚀、锈蚀的情况,因此对冶金、造船、机械、化工、电力、原子能等各工业部门的产品检验

 

 

分体式涂层测厚仪的特点都有哪些?

    分体式涂层测厚仪能同时测量磁性基材表面(如钢、铁等)的非磁性涂镀层(如油漆、陶瓷、铬等),以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层(如油漆等)。


    本仪表内置高精密双探头,利用电磁感应和涡流效应,全自动探测基材属性,计算涂镀层厚度,并通过点阵液晶快速显示结果。


    同时,测量数据可分组保存,并实时显示统计值。用户可分别为每组设置上下限报警值、零校准、多点校准。


    全新的多点校准和零校准,让您非常方便的随时进行校准。标准化菜单,确保您非常容易的使用它。


    产品特点


    256*256分辨率点阵液晶屏,标准化菜单操作;


    两种测量模式:单次(Single)和连续(Continuous);


    两种组存储模式:直接组(DIR)和通用组(GEN),一个直接组和四个通用组,存储共五组数据;


    可灵活零校准和多点校准(较多四点)。各组有单独的零校准和多点校准,组与组之间不影响;


    用户可随时查看当前工作组已测得的数据,并删除指定数据或整组数据;


    实时显示当前工作组统计值:平均值(Mean),最小值(Min),最大值(Max),标准方差(Sdev);


    三种探头模式: 自动(Auto)、磁感应(Magnetic)和涡流(Eddy Current);


    可为各组单独设置高低限报警值,超限时屏幕指示报警,二手车检测更方便;


    可开启或关闭自动关机功能;


    USB接口可传输通用组数据到计算机;


    低电和错误提示;


    应用范围


    涂层测厚仪能无损伤、快速、精密地进行涂、镀层厚度的测量。


    它能广泛应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域,是材料表面处理工程必备的仪器。


    它可以稳定地工作于实验室、车间现场和户外。

标签: 分体式涂层测厚仪
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涂层测厚仪的影响测量因素有哪些

    涂层测厚仪基本结构由磁钢,接力簧,标尺及自动停机构组成。磁钢与被测物吸合后,将测量簧在其后逐渐拉长,拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸引力,磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得涂层厚度。

 


    这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源,测量前无须校准,价格比较低,很适合车间做现场质量控制。


    涂层测厚仪影响测量因素有哪些


    a) 基体金属磁性质


    磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。


    b) 基体金属电性质


    基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。


    使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。


    c) 基体金属厚度


    每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。


    d) 边缘效应


    本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。


    e) 曲率


    试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。


    f) 试件的变形


    测量头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。


    g) 表面粗糙度


    基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。


    粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。


    如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。


    h) 磁场


    周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。


    i) 附着物质


    本仪器对那些妨碍测量头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测量头和被测试件表面直接接触。


    j) 测量头压力


    测量头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。


    k) 测量头的取向


    测量头的放置方式对测量有影响。在测量中,应当使测量头与试样表面保持垂直。

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