光合有效辐射（PAR）和叶面积指数（LAI）是评估植物健康状况和植物冠层结构的重要指标。
PAR表示有多少光能可被植物光合作用利用；LAI可用于估计冠层密度和生物量，是植物冠层结构的一项重要表征参数。
可以同时测量PAR和LAI。仪器出厂前经过校验，校验值储存于内存中，故在使用过程中无须校验。
植物冠层分析仪被广泛应用于农业、林业和植物学等研究领域。
产品特点：
1.经济、便携；
2.实时测量PAR；
3.简便直观的6键控制；
4.自动记录模式功能；
5.强大的数据存储能力，1M内存；
6.既可用随机所带软件，也可用计算机超级终端下载数据；
7.低电消耗，4节7号碱性电池可使用2年；
8.外置PAR传感器可用于探杆校准和实时测量冠层上、下的PAR值。
规格参数：
数据存储容量：1M（可存2000次以上测量结果）
传感器数量：80个GaAsP光敏传感器
PAR传感器量程：0~>2500 μmol·m-2·s-1
PAR传感器分辨率：1μmol·m-2·s-1
波长范围400 ~ 700nm
探杆长度：86.5cm(84cm)
探杆截面：1.9*0.95cm
仪器总长：99cm
无人值守采样间隔：1~60 min可选
产品重量：0.56 kg
数据传输：RS-232数据线
键盘：6键菜单驱动
工作环境：0~50 ℃，0~100%RH
电源：4节7号电池
最小空间分辨率：1cm
系统组成：
1.带传感器的控制单元
2.测量探杆和外置PAR传感器
3.RS-232数据线、数据传输软件、用户说明书及手提箱
工作原理：
探头中包括80个间隔为1 cm的PAR光量子传感器，用于测量环境光照中PAR的变化，输入研究区域的经纬度和时间，仪器可自动计算出天顶角;
通过设置叶角分布参数（X）和测量冠层上、下PAR的比率，可以计算出植物冠层的LAI值。
元素分析仪是指同时或单独实现样品中几种元素的分析的仪器。各类元素分析仪虽结构和性能不同，但均基于色谱原理设计。
其工作原理是在复合催化剂的作用下，样品经高温氧化燃烧生成氮气、氮的氧化物、二氧化碳、二氧化硫和水，并在载气的推动下，进入分离检测单元。
在吸附柱将非氮元素的化合物吸附保留后，氮的氧化物经还原成氮气后被检测器测定。其他元素的氧化物再经吸附-脱附柱的吸附解析作用，按照C、H、S的顺序被分离测定。
样品中氟、磷酸盐或大的重金属物质的存在会对分析结果产生负效应，而强酸、碱或能引起爆炸性气体的物质禁止使用元素分析仪进行测定。
由于土壤样品矿物质成分、晶：型结构比较复杂，为保证测定结果的准确性和稳定性，在使用元素分析仪时样品颗粒必须充分均匀。
产品智能化水平大幅提高，操作者可以在选择所测元素后，产品即自动调整至检测该元素所需的波长，为产品的推广使用，提供便利。
采用计算机实现程序控制和数据处理。元素分析仪不定量称样功能，准确可靠，方便用户操作。
可快速更换不同厚度比色杯；
采用冷光源技术、进口光电元件，自校零点和满度；
电子天平联机不定量称样，计算机自动读入重量或人工键入可选，方便分析操作。
系统稳定性好，抗干扰能力强，分析结果准确、可靠。
机外溶样、操作方便，没有阀门和管道老化，延长使用寿命。
可记忆贮存99条曲线（可根据用户需要任意增加），采用回归方法，建立曲线方程。
是不是每次测量一个新的项目前都必须做校准?
这个是不一定需要的，尽量将每次校准的state存入VNA，名字可以为校准状态，例如频率范围，输入激励功率等。如果有新的测试项目，但是它的测试条件和已有状态相似，且loadstate后，检查校准状态良好，就可用使用以前的校准状态，而不需要重新校准。
将校准state保存并调用的好处在于：CalibrationKit也是有使用寿命的，多次的校准，会是的校准件多次和校准电缆接触，可能污染校准件，使得校准件特性发生改变，影响下一次校准。
尽量养成如下习惯：将网络分析仪的port不用的时候加上防尘套;对测试电缆进行标号，使得VNA每个port尽可能固定连接某个电缆;对测试电缆不用时，也需要加上防尘套;尽量不用很脏的测试电缆等。
VNA的校准是精确测量前必要的准备。
以单端口DUT测量为例，测试模型参考oneporterrormodel，
由于VNA的输出和DUT的待测输入一般都存在中间过渡件/连接件，使得理想网络分析仪的测试平面和DUT的待测平面间出现了一个误差网络。对于单端口误差模型，有三个误差项。为了求解三个误差项，由线性矩阵理论，需要建立三个不相关的方程来求解。校准的原理就是建立这三个方程。
通过在测试面加入三个已知特性的校准件，例如开路件，反射系数理论上为1，短路件，反射系数理论上为-1，负载件反射系数理论上为0。通过VNA测量这三个校准件，得到实际测量结果。也就得到包含三个误差模型的线性方程，通过求解就能得到三个误差项。在后续的测量中，在直接获得的测试结果中，先通过数学运算，消除三个误差项带来的影响，显示给用户的就是校准后DUT的特性。
当然两端口误差模型更加复杂，分为正向和反向，正向具有6个误差项，反向也有6个误差项，总共有12个误差项需要求解，求解方法可用参考“RFMeasurementofDieandPackages”
当然一般网络分析仪提供的二端口矢量校准方法为SOLT，通过单端口的分析，其实校准件的本质是建立误差模型方程，选择不同已知反射系数的校准件，就得到了很多不同的校准方法，例如LRM，LRRM，TRL等等。
当然校准的本质也是去嵌入（De-embedding）的过程，去嵌入的本质得到误差网络的S参数，通过转换到T参数，运用级联运算进行消除。去嵌入还能够消除非传输线网络的S参数，应用也比校准广泛。
实际校准的方法：
尽管一般VNA的UserGuider上都有仪器校准的方法，但是还有很多细节需要注意的：
1.设定测试参数
选择测试频率范围：一般的频率范围要稍微大于测试指标规定的范围，选择VNAPort激励功率，对于无源器件，可以选择稍微大的激励功率，例如0dBm，但是对于测试Amplifier等小信号器件，一般激励信号要小于器件的1dB压缩点，对于PowerAmplifier等大功率器件，需要减小VNA的输入信号功率，同时要在PA的输出和VNA的输入间加入衰减器。但是过分减小VNA的输入信号功率，可能会使得S11和S22测量误差增大。如果对于多端口VNA，还需要选择测试port
2.选择校准件，选择校准方法，通过仪器校准的Guide完成校准
每个公司都有不同的规格的校准件，例如N型的，SMA型的，这个在校准之前一定要选择好，这个是因为厂家提供的校准件，开路短路负载等也不是理想的反射系数分别为1，-1和0。同公司的VNA中会定义校准件，将校准件的特性预先存入VNA，以便校准时求解误差方程。因此，如果校准件选择不当，校准的意义也就没有了。
在校准过程中，显示format对于校准是没有影响的，可用选择显示S11或者S21，显示可用为VSWR或者SmithChart，这个不影响校准。
已SOLT为例，首先进行单端口校准，分别将开路短路负载加至VNA的port1和port2，按照仪器指示进行完成校准，再连接Thru件，完成直通校准。
3.校准结果检查
这一步不是必须的，但个人觉得作为一个优秀的射频工程师，这一步是至关重要的。
开路校准特性的检查：校准完成后，将开路件取下，显示S11和S22的SmithChart，良好的校准使得测试显示曲线在整个测量频率范围内都在SmithChart的开路点
负载校准特性的检查：校准完成后，将测试端口连接负载件，测试S11和S22的SmithChart，良好的校准使得测试曲线在整个测量频率范围内都在SmithChart的中心点
直通检查：校准完成后，将两端口连接Thru件，测试S12或者S21的dB曲线，良好的校准使得测试曲线在整个频率范围内平坦，且都在0dB。
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