X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的最大尺寸要求为直径51mm，高40mm。
X射线荧光光谱仪的基本原理：
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。
X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。
波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析, 顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。
光谱仪又称分光仪，广泛为认知的为直读光谱仪。以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。它由一个入射狭缝，一个色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上（或扫描某一波段）进行强度测定。
光谱仪的四大优点介绍： 第一、工作性能稳定 专业的光谱仪采用了高集成化的采集与控制系统，自动化程度高，故障率也很低，其工作性能也是极为稳定。除此之外，性能稳定的光谱仪还采用进口的光电倍增管以保证其具有信噪比高、暗电流小和使用寿命长等优势特点。 第二、分析速度很快 分析速度快是光谱仪的一大优势特点，这是因为该仪器在测控系统中采用单板机测量与控制，可以与上位计算机进行数据交换，提高了其运行速度。另外，光谱仪的在分析扫描的过程中，不仅能够实现同时对所有元素进行扫描，同时能快速分析出每个元素相对于基体元素的偏差。 第三、检测结果精确 一流的光谱仪不仅保证了较快的分析速度，同时也保证了高精准的检测结果。这一方面是因为其仪器采用了高稳定的激发光源，以确保较佳的分析效果；一方面是因为其仪器本身还具有分辨率高、重复性好和灵敏度高等众多优势的体现，以保证精准的分析结果。 第四、使用方便，维护简单 一般来说，光谱仪的各项系统是独立供电，组成单元的，因而其使用起来方便，维护起来也简单。而且通过专业配套的计算机软件即可在计算机上对其进行操作，非常好用。另外，还可以实现网络远程的数据传输。
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