Filmetrics F50系列产品可以快速映射薄膜厚度,每秒两个点。电动R-Theta平台可接受标准和定制卡盘,适用于直径达450mm的样品。(这是在我们的生产系统中执行数百万次测量的高寿命阶段!)
地图图案可以是极坐标,矩形或线性,也可以创建自己的图案,但不限制测量点的数量。提供了数十种预定义的地图模式。
F50胶片厚度映射系统连接到Windows?计算机的USB端口,可在几分钟内完成设置。
不同的F50仪器主要区别在于厚度和波长范围。标准F50是受欢迎的。通常需要较短波长(例如F50-UV)来测量较薄的薄膜,而较长的波长允许测量较厚,较粗糙和较不透明的薄膜。
膜厚仪又名膜厚测试仪,分为手持式和台式二种,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。
台式的荧光X射线膜厚仪,是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子,俗称为二次荧光,,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值·
Filmetrics F50膜厚仪的常见故障及处理方法
[1]?涂镀层测厚仪/膜厚仪的常见故障及处理方法 今天为大家讲解涂镀层测厚仪(简称膜厚仪)使用频繁、工作环境等原因造成仪器测量时有故障总结使用中常见故障及处理方法:
折叠涂镀层测厚仪仪器不开机:
①请检查确认电池是否有电,或更换新的电池。
②请检查电池是否接触良好,且电极片没有氧化或生锈等-(如生锈—可用工具刮掉氧化层)
③请检查按键是否按压到位,且按键正常有弹性。
④其它主机线路故障咨询公司售后服务或返厂检修
折叠涂镀层测厚仪仪器测量不准:
①请先行系统校准仪器,标定,使之符合误差范围误差遵循≦3%(厚度值)±1um如需测试更加请在被测工件的光滑裸基(而不是随机带的的铁块)进行系统校准。
②请检查探头前端是否磨损,是否变形,有附着物质等探头外护套是否不在水平等,变形可适当用砂纸打磨修正,处理干净.
③被测件基材表面粗糙度影响,引起系统误差和偶然误差测量时在不同位置增加测量次数,克服偶然误差。或用砂纸打磨基材重新校对仪器零点。
④测量手法以及探头的放置需保持探头与试样垂直
⑤被测件曲度在该探头所适应的曲率半径下,重新校准。尤其管道凸面,注意探头V型卡槽稳定放置。
折叠涂镀层测厚仪仪器不测量:
①检查探头是否连接良好,插到位 查看探头插头插针情况
②检查探头线是否有断的地方重点检查探头接插件处(接头处可以旋钮拧开查看)
③探头频繁大量使用,传感器老化或损坏等
④其它主机线路元件故障咨询公司售后服务或返厂检修
拍击式均质器又名为无菌均质器、拍打式均质器,使从固体样品中提取细菌的过程变得非常简单,只需将样品和稀释液加入到无菌的过滤器样品袋中 ,然后将样品袋放入均质仪中,关上门即开始和完成样品的处理。
减少了样品的处理和准备时间,通常30-60秒的处理时间是充分的。处理后的样品溶液可以直接进行取样和分析,没有样品的变化和交叉污染的危险。
拍击式均质器是在国外系列产品技术基础上改进并放大的先进产品,具有均质柔和、样品无污染、无损伤、不升温、不需灭菌处理,不需洗刷器皿的特点。
此产品广泛用于动物组织、生物样品、食品、药品、化妆品,如:肉、鱼、蔬菜、水果、饼干、烟草……稀释和混合等等的均质处理,特别适用于微生物检测样本的制备,样品无污染、无损伤、不升温、不需灭菌处理。
拍击式均质器的操作:
1、先将拍击式均质器放置在牢固且水平的平面上,放置滴液盘于透明门的下部,连接好电源线,打开电源开关。
2、将样品袋平整地放入混合仓内(应先检查样品袋是否漏液)。
3、扳动锁紧手柄,将其定位锁紧。
4、锁紧门的同时,电机会自动启动,若发现异常情况,应及时开启仓门,电机会自动停止。
5、在仪器工作前可旋转均质器后面的行程调节旋钮,设定所需的均质行程。
6、工作过程中,可调节拍击速度的快慢和更改设定的均质时间。
7、可从窗口观察样品状态,待定时时间结束时取出样品即可。
8、工作结束若不打开仓门,拍击式均质器的蜂鸣器会提示报警10秒钟。
拍击式均质器广泛用于动物组织、生物样品等均质处理,在食品、药品、化妆品、临床、分子学、毒素及细菌检测等领域均可应用,特别适合于微生物检测样本的制备。
也适合肿瘤组织(如肝癌、肠癌、胃癌、乳腺癌)的匀浆,既可得到大量的单细胞,必要时,可通过延长均质时间,对组织细胞(如肝脏等)实现柔软的破碎。
拍击式均质器也可有效地分离固体样品表面和被包含在内的微生物均一样品,样品装在一次性无菌均质袋中,不与仪器接触,运行快速、结果准确、重复性好的要求。
如何正确选购膜厚仪,下面小编为大家简单介绍:
首先取决于你所测产品的结构.如果只是简单的涂层,铜箔使用普通的膜厚仪就可以解决了.如:铜箔测厚仪,涂层测厚仪.
如果测电镀层的厚度,而且具有几层镀层,那么就要使用x-射线膜厚仪.单镀层厚度大于0.5um的还可以采用金相法观察.
膜厚仪采用了磁性测厚法:是一种超小型测量仪,它能快速,无损伤,精确地进行铁磁性金属基体上的喷涂.电镀层厚度的测量.可广泛用于制造业,金属加工业,化工业,商检等检测领域.特别适用于工程现场测量.
膜厚仪采用二次荧光法:它的原理是物质经X射线或粒子射线照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。