有一些人把原子荧光光度计与X射线荧光光谱仪误认为是同一种仪器，其实它们是有区别的。首先我们分别了解下它们的定义。 1、原子荧光光度计是利用硼氢化钾或硼氢化钠作为还原剂，将样品溶液中的待分析元素还原为挥发性共价气态氢化物（或原子蒸汽），然后借助载气将其导入原子化器，在氩—氢火焰中原子化而形成基态原子。基态原子吸收光源的能量而变成激发态，激发态原子在去活化过程中将吸收的能量以荧光的形式释放出来，此荧光信号的强弱与样品中待测元素的含量成线性关系,因此通过测量荧光强度就可以确定样品中被测元素的含量。 2、X射线荧光光谱仪用Ｘ射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光Ｘ射线，需要把混合的Ｘ射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的Ｘ射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫Ｘ射线荧光光谱仪。由于Ｘ光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，Ｘ射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。 尽管二者都是把物质激发后检测其荧光，但二者的区别很大，从大的方面看主要有两点： 1、激发光源不同。 原子荧光用的光源很多，如各种激光等，但很少见有用X-射线的；而X-射线荧光则是用X-射线作激发光源。 2、用途不同。 原荧主要用来作定量分析，尤其是金属元素的定量分析；而X荧主要用来作定性分析和结构分析。当然二者的仪器构造、使用方法、检测范围、样品制备等等都不一样。
在紫外分光光度计的测试指标中准确度是至关重要的，只有保证了准确度才能保证样品数据的准确性和真实性。
影响紫外可见分光光度计准确度的因素有：
（1）波长准确度。波长准确度在确保紫外可见分光光度计的准确度中起着十分重要的作用。因为测试样品物质不同，那么它对不同波长的光有着不同的摩尔吸光系数。由朗伯比尔定律可知，不同的摩尔吸光系数所对应的吸光度会有差异，由此就会产生不一致的分析误差。
（2）杂散光。杂散光是准确度分析误差的一个重要来源，直接影响着样品物质在测试时所能配制的最大浓度。有研究结果表明，越高浓度的测试样品杂散光的影响越大，如果是在一个比较大的浓度下，杂散光增强，吸光度和浓度成比例的范围缩小。
（3）噪声。影响紫外可见分光光度计光度准确度的噪声包括光噪声和电噪声。其中光噪声是由光源产生的，具体来说就是光源的发光强度分布因子导致光噪声的出现。电噪声的来源是光电倍增管、各种电源以及放大器等。作为紫外可见分光光度计光度准确度最关键的技术参数之一，噪声是分析测试中主要误差源头，它是影响紫外可见分光光度计光度准确度检测下限的因素。
（4）基线平直度。基线平直度是全波段内每个波长上的噪声体现，基线平直度直接影响紫外可见分光光度计光度准确度的灵敏度以及影响检测下限或使用范围，是紫外可见分光光度计中一个十分重要的技术参数。购买者和使用者在选购和使用紫外可见分光光度计的时候，对基线平直度会有这特别的重视程度，会作为选购和使用的重要技术指标。但是相对于其他影响紫外可见分光光度计光度准确度的因素来说，基线平直度是受到目前国内外研究工作者重视程度远远不够的技术指标。
（5）光谱带宽。光谱带宽是影响紫外可见分光光度计光度准确度的一个十分重要的因素。当光谱带宽不同时，测试得到的数据就会不同，因而不同光谱带宽下的分析误差也大相径庭。
449717568