荧光光谱仪的历史
1．原理
在吸收紫外和可见电磁辐射的过程中，分子受激跃迁至激发电子态，大多数分子将通过与其它分子的碰撞以热的方式散发掉这部分能量，部分分子以光的形式放射出这部分能量，放射光的波长不同于所吸收辐射的波长。
后一种过程称作光致发光。分子发光包括荧光、磷光、化学发光、生物发光和散射光谱等。基于化合物的荧光测量而建立起来的分析方法称为分子荧光光谱法。
由光源发出的光通过切光器使其变成断续之光，通过激发光单色器变成单色光，此光即为荧光物质的激发光。被测的荧光物质在激发光照射下所发出的荧光，经过单色器变成单色荧光后照射于光电倍增管上，由其所发生的光电流经过放大器放大输至记录仪。一个激发，一个发射，采用双单色器系统，可分别测量激发光谱和荧光光谱。
2．分类
荧光光谱仪是测定材料发光性能的基本设备。通用荧光光谱仪大致可分为3种：
(1)基本型：在200-800 nm的紫外可见波段的稳态光谱仪。
(2)扩展型：覆盖200-1700 nm波段的紫外可见-近红外稳态光谱仪。
(3)综合型：覆盖上述两个波段，同时可测瞬态光谱的光谱仪。
3．主要用途
（1）荧光激发光谱和荧光发射光谱；
（2）同步荧光（波长和能量）扫描光谱；
（3）3D（Ex Em Intensity)；
（4）Time Base和CWA(固定波长单点测量）；
（5）荧光寿命测量，包括寿命分辨及时间分辨；
（6）计算机采集光谱数据和处理数据（Datamax和Gram32)。
4．发展历史
次记录荧光现象的是16世纪西班牙的内科医生和植物学家N.Monardes，1575年他提到在含有一种称为“LignumNephriticum”的木头切片的水溶液中，呈现了极为可爱的天蓝色。在17世纪，Boyle（1626—1691）和Newton（1624—1727）等科学家再次观察到荧光现象。之后荧光就引起了许多科学家的研究兴趣，荧光分析方法也越来越多的被应用到生物和化学分析当中。
当然荧光分析方法的发展，与仪器应用的发展是分不开的。总体来说，荧光光谱仪自问世以来经过了三个阶段的发展过程：
（1）手动式；
（2）自动扫描；
（3）微机化。
X荧光光谱仪(XRF)主要由激发源X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：
λ=K(Z-s)-2
式中K和S是常数。
而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为：
E=hν=hC/λ
式中，E为X射线光子的能量，单位为keV;h为普朗克常数;ν为光波的频率;C为光速。
因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。
光纤光谱仪又称分光仪，广泛为认知的为直读光谱仪。以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。它由一个入射狭缝，一个色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。
以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上（或扫描某一波段）进行强度测定。
光纤光谱仪故障的检查：
1、检查仪器和所有附件插座都插好并接通电源。
2、保证光纤光谱仪(如果附带电源)都插好并接通，由于光纤光谱仪有不同种类，可参照每个激光器的说明书获取进一步的帮助。
3、在有两个或多个激光器的系统中，确保联锁系统设置在正确的位置上，正确的激光器被接通。
4、检查仪器的外罩处于安全的关闭状态，联锁装置正在运转。
5、如果以上操作都已经检查过，你就可以准备进行光谱测试了。将样品放置在显微镜下，启动光谱操作软件，如果你仍不能得到光谱，检查下面各项。
6、保证样品被正确地放置在显微镜下，即样品被精确地聚焦并照射在样品正确的位置上。测量时经常需改变不同的测试区域以避免因样品不纯带来一些非期望结果的可能。
7、保证激光正确辐照在样品上，保证显微镜光圈的孔径设置正确并处于正确的位置上(不同品牌的光纤光谱仪按各自的要求处理)。
8、检查光纤光谱仪所有软件窗口的设置是否正确。
光纤光谱仪解决了快速测量问题，避免测量过程中环境和光照等变化引起误差。没有机械运动部件，波长定位取决于探测器的光敏元序号，因此重复性好、精度高，同时具有结构简单、体积小、重量轻、功耗低等特点，是一种携带式仪器。
该仪器全部操作由微处理器控制，软件丰富。
具有显示或修改时间；手动或自动寻找积分时间，并显示及修改控制方式和积分时间；求平均值可在1~15之问任意选择；显示测量数据记录器；由RS232接口与微机通讯；微机屏幕作图及打印数据表；计算积分；计算一阶导数功能等。
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