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傅立叶变换红外光谱仪的基本原理 光谱仪工作原理

时间:2020-05-25    来源:仪多多仪器网    作者:仪多多商城     

傅立叶变换红外光谱仪基本原理

傅立叶变换红外光谱仪(Fourier Transform Infrared Spectrometer,简写为FTIR Spectrometer),简称为傅立叶变换红外光谱仪(如图1)。它不同于色散型红外分光的原理,是基于对干涉后的红外光进行傅立业变换的原理而开发的红外光谱仪, 主要由红外光源、光阑、干涉仪(分束器、动镜、定镜)、样品室、检测器以及各种红外反射镜、激光器、控制电路板和电源组成。可以对样品进行定性和定量分 析,广泛应用于医药化工、地矿、石油、煤炭、环保、海关、宝石鉴定、刑侦鉴定等领域。

图一

傅立叶变换红外光谱仪工作原理:

红外线和可见光一样都是电磁波,而红外线是波长介于可见光和微波之间的一段电磁波。红外光又可依据波长范围分成近红外、中红外和远红外三个波区,其中中红外区(2.5~25μm;4000~400cm-1)能很好地反映分子内部所进行的各种物理过程以及分子结构方面的特征,对解决分子结构和化学组成中的各种问题zui为有效,因而中红外区是红外光谱中应用zui广的区域,一般所说的红外光谱大都是指这一范围。

红外光谱属于吸收光谱,是由于化合物分子振动时吸收特定波长的红外光而产生的,化学键振动所吸收的红外光的波长取决于化学键动常数和连接在两端的原子折合质量,也就是取决于的结构特征。这就是红外光谱测定化合物结构的理论依据。

红外光谱作为“分子的指纹”广泛的用于分子结构和物质化学组成的研究。根据分子对红外光吸收后得到谱带频率的位置、强度、形状以及吸收谱带和温度、聚集状态等的关系便可以确定分子的空间构型,求出化学建的力常数、键长和键角。从光谱分析的角度看主要是利用特征吸收谱带的频率推断分子中存在某一基团或键,由特征吸收谱带频率的变化推测临近的基团或键,进而确定分子的化学结构,当然也可由特征吸收谱带强度的改变对混合物及化合物进行定量分析。而鉴于红外光谱的应用广泛性,绘出红外光谱的红外光谱仪也成了科学家们的重点研究对象.

傅立叶变换红外(FT-IR)光谱仪是根据光的相干性原理设计的,因此是一种干涉型光谱仪,它主要由光源(硅碳棒,高压汞灯),干涉仪,检测器,计算机和记录系统组成,大多数傅立叶变换红外光谱仪使用了迈克尔逊(Michelson)干涉仪,因此实验测量的原始光谱图是光源的干涉图,然后通过计算机对干涉图进行快速傅立叶变换计算,从而得到以波长或波数为函数的光谱图,因此,谱图称为傅立叶变换红外光谱,仪器称为傅立叶变换红外光谱仪。

光学原理:

图2是傅立叶变换红外光谱仪的典型光路系统,来自红外光源的辐射,经过凹面反射镜使成平行光后进入迈克尔逊干涉仪,离开干涉仪的脉动光束投射到一摆动的反射镜B,使光束交替通过样品池或参比池,再经摆动反射镜C(与B同步),使光束聚焦到检测器上。

傅立叶变换红外光谱仪无色散元件,没有夹缝,故来自光源的光有足够的能量经过干涉后照射到样品上然后到达检测器,傅立叶变换红外光谱仪测量部分的主要核心部件是干涉仪,图3是单束光照射迈克尔逊干涉仪时的工作原理图,干涉仪是由固定不动的反射镜M1(定镜),可移动的反射镜M2(动镜)及分光束器B组成,M1和M2是互相垂直的平面反射镜。B以45°角置于M1和M2之间,B能将来自光源的光束分成相等的两部分,一半光束经B后被反射,另一半光束则透射通过B。在迈克尔逊干涉仪中,当来自光源的入射光经光分束器分成两束光,经过两反射镜反射后又汇聚在一起,再投射到检测器上,由于动镜的移动,使两束光产生了光程差,当光程差为半波长的偶数倍时,发生相长干涉,产生明线;为半波长的奇数倍时,发生相消干涉,产生暗线,若光程差既不是半波长的偶数倍,也不是奇数倍时,则相干光强度介于前两种情况之间,当动镜移动,在检测器上记录的信号余弦变化,每移动四分之一波长的距离,信号则从明到暗周期性的改变一次,(图3)

  图2

 

 

 

                                                         图3


红外光谱仪一般都有哪些特点?

  在目前产品加工设备的应用过程之中,精准的图谱分析测试效果是提高生产质量的重要因素;

  因此拥有多年的技术积淀和良好的生产能力,才能够让选材尽量的红外光谱仪发挥更好的属性功能。

  而在相关的设备应用过程之中,别具特色的红外光谱仪也展现了自身仪器的特点和具体的功能差异。

 

  红外光谱仪具备哪些特点

  1.光学部件操作稳定性

  在任何高精度的光学仪器测试过程之中,其本身的震动可能会影响到精密部件的寿命;

  而目前选材精良的红外光谱仪各个部件搭配更加精密,在使用的过程之中能够有效的抵御外界震动造成的光学部件错位问题;

  因此应用高品质的红外光谱仪能够保证测试效果的精确度。

  此同时采用一体化专业的加工技术,提高了其成型的质量,也让相应的光纤系统各个部件更加稳定,在应用的过程之中降低了产生共振的几率提高了设备反应的质量。

  2.机器设计和相关反应可靠性

  高精度的测试效果和光谱分析的能力是评判相应测量仪器的关键,而专业的加工效果和机器的精准检查调试,让目前品质可靠的红外光谱仪展现了更好的生产工艺。

  从目前这种别具特色的红外光谱仪角度分析,可以发现相关的仪器拥有了更好的技术支持;

  其稳定性和其具体的检测效果也得到了更加全面的达成,在综合应用之下,品质可靠的红外光谱仪相应的系统可靠性大幅度提升。

  简言之独特的设计和各种优质的结构提升了红外光谱仪的具体效果,而技术的支持和一系列应用技术的全面匹配,更让质量好价格低的红外光谱仪受到了市场的接受。

  与此同时这种红外光谱仪也展现了良好的可扩展性特点,使用的过程之中检测精准同时功能更加丰富。

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荧光光谱仪的特点有哪些?

    X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。

    荧光光谱仪的性能特点:

    1、专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。

    2、电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。

    3、内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。

    4、抽真空样品腔,有利于低含量轻元素的分析

    5、针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。

    6、任意多个可选择的分析和识别模型

    7、相互独立的基体效应校正模型

    8、多变量非线性回归程序

    9、智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。

    该技术的主要特征为:

    利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率;

    采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性;

    利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;

    采用相似自动分类技术使分类更准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;

    采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。

    荧光光谱仪分析对象主要有各种磁性材料、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等;

    以及各种形态样品的无标半定量分析,对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金,结果接近于定量分析的准确度。

    X荧光分析快速,某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。

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