一、目前测量直流电阻的方法及存在的问题

　　目前测量直流电阻的方法有电桥法和电压降法两种。电桥法是用单臂电桥或双臂电桥进行测量，这种方法可以直接读取数据，准确度较高，电压降法是对每相绕组进行直流电阻的测量，然后利用测量数据，计算得出线圈的直流电阻。在不具备电桥的地方，一般采用这种测量方法。这种方法的主要缺点是需要较长的时间才能测到准确值。

　　由于变压器铁心的磁导率很高，需要几十分钟甚至更长时间，才能测出直流电阻的准确值。这无疑不符合当今快节奏、高效率的工作方式。

　　二、三相绕组同时加压法测量直流电阻

　　用电压降法测量直流电阻需要很长的时间才能获得准确值，主要由于线圈中通入的电流在变化过程中，在高导磁率的铁心中产生磁通，致使L增大。若使磁通减少，也就降低了L值，则电流变化的时间便减小。在变压器的三相绕组同时加电压，同时测量每相的直流电阻，可以达到此目的。三相绕组同时加电压时，在每相绕组中通入的电流从零开始增加，由右手螺旋定则可知，三相电流在每个铁心柱中产生的磁通方向不同，它们的作用相互抵消，结果是使铁心中的合成磁通近似为零。这使电感值L大为减小，因此时间常数τ也就降为最低，测试时电流变化的过渡过程大为缩短，短时间内便能获得稳定的电流值，进而求出绕组的直流电阻值。

　　三、结论

　　三相绕组同时加电压测量变压器的直流电阻，是根据楞次定律，使各相电流所产生的磁通在铁心中相互抵消，合成磁通为零，从而减小电感L值，使电路的时间常数减小，即减少了测量直流电阻的时间，提高了工作效率。在测量时，还应考虑绕组电阻的大小受温度影响的因素和直流电阻的不平衡率等问题。

在变压器直流电阻测试中，会发现绕组的直流电阻值会不平衡，究其原因可分为人为因素、绕组结构及材质问题和变压器自身缺陷三种情况。

一、人为因素主要包括仪器选择不正确、测试方法不正确及测试要点未按规定执行等，这些问题主要通过人员自身素质的提高来解决。

绕组结构设计不合理和导体材质不合格等因素也会引起直流电阻不平衡度超标。

二、变压器内部结构件链接不良  

若绕组引线与导电杆或分接开关链接不，或套管将军帽与导电杆接触不良，将导致变压器直流电阻不平衡度超标。这种情况下一般表现为相应相别的某档或某几档的直流电阻值偏大。

解决此类问题的关键是提高安装与检修质量，检查各连接部位是否连接良好。此外，在运行中，可通过红外线测试和色谱分析仪得到的分析结果综合判断，及时查处故障位置，尽早处理。

三、变压器绕组存在缺陷  

绕组缺陷主要包括绕组与引线连接处虚焊、脱焊、绕组断线、断股及层间短路等。若绕组和引线连接处发生虚焊将造成电阻偏大，多股并联的绕组有一两股未焊接时，一般电阻也偏大。三角形连接的绕组，若有一相断线，则此相线间电阻为正常值的3倍，另两个线间电阻为正常值的1.5倍。 

当系统发生短路故障时，易造成绕组断股、匝间短路，因此当变压器收到短路电流冲击后，应及时测量器直流电阻，发现问题及时检修；另外可利用色谱分析结果进行综合分析判断。 

四、有载分接开关故障  

1.有载分接开关档位指针移位：有载分接开关档位指针位移也会导致变压器直流电阻不平衡度超标，在变压器出厂前进行的有载分接开关试验中，有核对有载分接开关位置这一项内容。此外，在有载分接开关大修后，也必须进行核对。 

正常情况下，有载分接开关各档位的直流电阻值应符合递增或递减的规律。如果不符合这个规律，且三相情况又相同，则可能是由于有载分接开关档位指针位移引起的。对于分相切换档位的有载分接开关，这种不规律现象可能只发生在一相上，这就是有载分接开关的错位。  

2.有载分接开关引线接错：由于有载分接开关档位较多，引线也较多，在出厂和检修过程中，可能发生引线接错的情况。有载分接开关引线接错表现为接错的档位直流电阻不平衡度超标，不符合递增或递减。  

3.有载分接开关东京触头接触不良：有载分接开关动静触头接触不良的缺陷，在变压器各类缺陷中所占比例多，主要表现为某档或某几档的电阻值较大，直流电阻不平衡度偏高。其主要原因有触头被污染、电镀层脱落及弹簧压力不足等。有载分接开关触头接触点压力不足将导致触头表面镀层材料氧化，进而引发触头接触不良。这种情况在运行时间长的变压器中为多见。

对于新装的又在分接开关，主触头上可能存在未清除的油膜。运行时间较久又长期未动作的有载分接开关，其触头表面多有一层氧化膜或油膜。氧化膜和油膜的存在，使得分接开关的触头接触电阻增大，造成直流电阻不平衡度超标。主要表现为数据杂乱无章，分散性较大，无规律可循。  

需要注意的是，对于有载分接开关选择器，其触头之间的接触是摩擦式的，因此可采用有载分接开关的切换开关动作来清楚动静触头表面的氧化膜和油膜；而对于切换开关，由于动静触头之间的接触是对开式的，分接开关动作时，触头表面没有摩擦现象，因此只能通过吊芯检查来处理触头表面的污 。