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激光粒度仪的检测对象及特点 激光粒度仪操作规程

时间:2020-06-21    来源:仪多多仪器网    作者:仪多多商城     
【导读】激光粒度仪的测试对象:    1.各种非金属粉:如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土等。  2.各种金属粉:如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以

激光粒度仪的测试对象:
  
 1.各种非金属粉:如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土等。
 
 2.各种金属粉:如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等。
 
 3.其它粉体:如催化剂、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、荧光粉、河流泥沙、陶瓷原料、各种乳浊液
 
  激光粒度仪仪器特点:
  
  测试范围宽
  
 由于激光粒度仪采用了大尺寸光电探测阵列(70个通道)、侧向辅助光电探测阵列(12个通道)及其它相应技术,使单透镜测试范围达到0.1-450微米;并且由于本仪器使用过程中无须更换镜头及调整光学系统,提高了系统的稳定性,简化了操作过程。
 
 重复性好
  
 激光粒度仪采用Furanhofer衍射及Mie散射理论,测试过程不受温度变化、介质黏度,试样密度及表面状态等诸多因素的影响,只要将待测样品均匀地展现于激光束中,即可获得准确的测试结果。而且区别于沉降法,由于不需要沉降过程,因此在一次测试中可以多次采样(5-20次任意设定),有效的滤除了由于电噪声,样品分布不均等因素造成的影响,使仪器的测试重复性变好。
 
  采用半导体激光发生器
  
 激光粒度仪具有光参数稳定、效率高、寿命长、不怕振动等一系列优点,克服了传统气体激光器由于自然漏气,需定期更换的缺点。
 
 自动化程度高操作简单
  
 GSL-101BI型激光颗粒测量仪采用微机进行实时控制,自动完成数据采集、分析处理、结果保存、打印等功能,操作简单,自动化程度高。
 
  测试迅速
  
 激光粒度仪由于无须沉降过程,使测试速度大幅度提高,在通常情况下,1分钟内即可完成一次样品测试。(注:不包括样品制备时间)。
 
 采用了独特的机械搅拌装置
 
 激光粒度仪具有搅拌力矩大、速度快、搅拌均匀等一系列优点。
 
  软件
  
 激光粒度仪测试程序采用MSVC/C6.0编制,在中文Windows95/98/ME/2000/NT/XP人机接口界面,操作直观简便,通俗易懂。数据输出内容丰富,并且可以输出英文测试报告,对于彩色打印机还可以输出彩色测试报告。

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激光粒度仪获得颗粒的散射光能谱分布的方法

    所谓激光粒度仪是专指通过颗粒的衍射或散射光的空间分布(散射谱)来分析颗粒大小的仪器。根据激光散射原理,颗粒大小不同,散射光能量随散射角度的分布也不同,此种分布称为散射谱。激光粒度仪就是通过检测颗粒群的散射谱反演颗粒大小及其分布的。    1、为什麽散射/衍射激光粒度仪必须采用激光作光源?    激光粒度仪是通过检测颗粒的散射谱来分析颗粒大小与分布的,因此能否获得清晰的散射谱至关重要,激光是一种准直性,单色性良好的光源,只有采用激光才能在散射/衍射粒度仪器中得到清晰的散射谱分布。用多种波长混合的光源不可能获得清晰的散射谱,只能获得多种散射谱的叠加,因此不能用于粒度仪。    在多种激光器中半导体激光与气体激光相比,气体光源波长短,线宽窄,单色性好,稳定性远优于半导体光源。因此微纳与大多数专业公司选用了气体激光器作为测量光源。    2、激光粒度仪与其他方法相比有什么优势?    激光粒度仪的光路实际是一个二维傅立叶变换器,因此具有傅立叶变换的许多特点:    1、所有颗粒的散射信息是以光速并行传输到达光电探测器的,因此速度快无与伦比;    2、探测器可以做的非常窄大约几个微米,因此分辨率非常高;    3、测试过程颗粒散射不会受到人为因素的干扰,因此测试重复性超群;    4、根据傅立叶变换的平移不变性,颗粒在样品池中的运动速度不会影响频谱分布,因此适用于动态颗粒的测试,这是其他粒度测试方法所无法比拟的,这成为了颗粒在线测试理论依据。    3、激光粒度仪测量下限是多少?    激光粒度仪测量粒度的原理是MIE散射理论。 MIE散射理论用数学语言精确描述了折射率为n、吸收率为m的特定物质的,粒径为d球型颗粒,在波长为λ单色光照射下,散射光强度随散射角θ变化的空间分布函数,此函数也称为散射谱。根据MIE散射理论可以看出颗粒越大,前向散射越强而后向散射越弱;随着颗粒粒径的减小,前向散射迅速减弱而后向散射逐渐增强。激光粒度仪正是通过设置在不同散射角度的光电探测器阵列,测试颗粒的散射谱,由此确定颗粒粒径的大小。这种散射谱对于特定颗粒在空间具有稳定分布的特征,因此称此种原理的仪器为静态激光粒度仪。    但是当颗粒粒径小到一定的程度dm,与另一种更小颗粒dm-δ相比,如果二种颗粒的散射谱非常相似,以至不能被光电探测器阵列所分辨,就认为达到了激光粒度仪的测量极限,此粒径dm就是激光粒度仪的测量下限。    此极限还与激光波长有关,研究表明红光635nm波长的激光测量极限为50纳米,而蓝光405nm波长的激光测量理论极限为20nm。    理论上,静态激光粒度仪欲分辨纳米级的颗粒至少需要二个条件:    1、具有测量后向散射的光电探测器阵列,2、需要用波长更短的激光器。在可见光的范围内,20nm是静态激光粒度仪的理论测量下限。

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