使用数字涂层测厚仪时,有些细节我们往往会忽略,下面为大家列举一些这些小细节。
a)基体金属特性
对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
b)基体金属厚度
检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,进行校准后,可以测量。
c)边缘效应
不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
d)曲率
不应在试件的弯曲表面上测量。
e)读数次数
通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
f)表面清洁度
测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。
g)磁场
周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作
h)测头取向
测头的放置方式对测量有影响,在测量时应该与工件保持垂直
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超声波测厚仪基于超声波测量原理,可以测量金属、玻璃、陶瓷等多种材料的厚度,并对材料的声速进行测量。
可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。
超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时;
脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
按此原理设计的测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量,也可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测;
监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。
可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。
超声波测厚仪检测厚度的方法有共振法、干涉法、脉冲回波法等。
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镀层测厚仪的工作原理:
镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等(在有关国家和国际标准中称为覆层(coating))。
镀层测厚仪的优点介绍:
1.测量速度快
2.精度高精度,可达到1-2%
3.稳定性高
4.功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法
5、覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
6、X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
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