影响涂层测厚仪测量精度的因素，主要有基质金属磁特性、基本金属的厚度、贱金属电气性能、边缘效应、曲率、变形的试样、表层粗糙度等等。接下来我们就来具体的介绍影响涂层测厚仪测量精度的因素。
影响涂层测厚仪测量精度的因素：
1、基质金属磁特性
磁法厚度受基体金属磁性变化(实际上，低碳钢磁可以被认为是一个细微的变化，为了避免影响热处理、冷加工的因素，应使用金属试样基体具有相同性质的标准的涂层厚度量测仪校准;也可以用于涂层试件校准。
2、基本金属的厚度
每一种仪器有一个临界厚度的贱金属。大于厚度量测不受厚度的贱金属。
3、贱金属电气性能
对涂层测厚仪测量精度有影响的导电性基体金属和贱金属的电导率有关，其材料组成和热处理。使用金属试样基体具有相同性质的标准仪器校准。
4、边缘效应
涂层测厚仪灵敏度来突然改变的标本的表层形状。所以靠近试样在边缘或角落措施是不可靠的。
5、曲率
标本的曲率量测。这种影响是总是随着曲率半径减小显着增加。结果，弯曲试样表层的量测是不可靠的。
6、变形的试样
量测头可以使软涂层试样变形，因此可靠的量测数据在标本。
7、表层粗糙度
基质金属和表层粗糙度量测的涂层。粗糙度增加，效果增加。粗糙表层会引起系统误差和随机误差，每次量测，应该增加数量的量测在不同的位置，克服随机误差。
如果矩阵金属粗糙，还必须相似矩阵没有涂层粗糙的金属样品需要几个零位校准的涂层测厚仪;或者没有腐蚀到金属基体溶液去除盖，校对零再次。
8、磁场
在各种各样的强磁场产生的电气设备，会严重干扰磁法的厚度。
9、胶粘材料
该仪器到妨碍测头与密切接触表层的涂层附着力的材料，因此，必须转移到材料，确保仪器量测头和被直接接触表层的测试。
10、量测头的压力
压力强加的探针在样品尺寸会影响量测的读数，因此，保持压力恒定。
11、量测头取向
有一个影响量测探头布置方式。在量测中，应保持垂直探针与样品表层。
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漆膜测厚仪低电压提示，采用了磁感应测厚方法。漆膜测厚仪快速无损精密的进行测量。漆膜测厚仪操作过程有蜂鸣声提示。
漆膜测厚仪参数：
千分表精度：1μm。
测量范围：0-1000μm。
执行标准：ISO2808-74 GB/T134522-92 GB/T1764-79。
漆膜测厚仪注意事项：
测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
测量注意事项：
在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
测量时侧头与试样表面保持垂直。
测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
漆膜测厚仪检校：
校验条件
1、温度20±5℃，相对湿度50%-80%。
2、标准箔片47.8μm±1%、98.6μm±1%、257.2μm±1%、489μm±1%、1002μm±1%厚。
校验过程
1、取以上各种厚度的校准箔片在未涂层的基体上，各测量5次，计算出测量平均值。
2、显示值与标准箔片厚度值不符，用“Δ”和“▽”键改变显示值直到显示值与标准箔片厚度一致。
3、按CAL键，校正结束。
判定示值误差，在±1%范围内为合格。
对校验过程进行记录并将记录填写在《监视和测量设备校验记录》上。
对校验合格的漆膜测量仪贴合格证标签，不合格的则进行修理、调试，完后重新校验。
校验周期为一年。
该仪器测定油漆涂料干膜厚度。试验技术特征：通过涂覆前后的比较测量干膜厚度。
使用方法：
把涂料涂覆在适宜的硬度平板（钢性底材）上，试板面积必须足够大，以便漆膜厚度测定处和试板任一边的距离至少为25mm,涂覆后立即测定湿膜厚度。
把试板固定在一合适的水平基础上，这样在测定漆膜过程中试板就不会产生移动或跳动，将该仪器放在待测厚度湿膜上，使其zui小读数在顶部，而仪器偏心轮和湿膜之间zui大间隙正好在湿膜上方，然后将其向前滚动半周（180°）并反方向重复滚动半周（180°）后移动，检查仪器中央轮缘与湿膜表面首先接触的位置，读出读数并计算平均值成为一个读数。
如果面漆含有挥发性快的溶剂或其固体含量低时，那么zui好在刚涂好的涂膜上，另外至少再取一个单独的读数并计算这些单独读数的平均值。
注：虽本仪器适用于测定涂在平整试板上的湿膜厚度，但在现场或工厂也可以用于只向一个方向弯曲的工件表面，只要底材在两同心轮间不弯曲变形以至影响仪器的测定即可。
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