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涂层测厚仪选购要点 测厚仪如何做好保养

时间:2020-06-30    来源:仪多多仪器网    作者:仪多多商城     
【导读】涂层测厚仪是一种常用的测厚仪产品,采用电磁感应法测量涂层的厚度,主要有连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。在我们的工业现场及



    涂层测厚仪是一种常用的测厚仪产品,采用电磁感应法测量涂层的厚度,主要有连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。在我们的工业现场及实验设备中常见的涂层测厚仪主要超声波涂层测厚仪、数字式涂层测厚仪以及电涡流涂层测厚仪,每一种涂层测厚仪的品牌型号都形式各异,该如何挑选出适宜属于自己的涂层测厚仪,是仪器选购极为重要的一步。
    涂层测厚仪的选购要点:
    1、塑料上的铜、铬层:建议用库仑法测厚仪(会破坏镀层)或X射线测厚仪(无损测量),如铜层在10m~200m可考虑电涡流法测厚仪(无损测量)。
    2、金属件上镀锌层:如在钢铁基体上应使用经济的磁感应法测厚仪(无损测量)。其它金属基体用库仑法测厚仪(会破坏镀层)或X射线测厚仪(无损测量)。
    3、铁基体上的电泳漆,油漆应使用经济的磁感应法测厚仪(无损测量)。其它金属基体上的电泳漆,油漆应使用经济的电涡流法测厚仪(无损测量)。
    4、干膜是指己固化了的油漆涂层。
    5、镀铬层参考2项、1项。
    6、车内外饰件喷漆只有用切锲法(PIG,会破坏涂层),超声波法(无损测量)可测10微米以上涂层,但有时测不到。
    7、价格:磁感应法、电涡流法0.6~3万;库仑法0.8~6万;超声波法5.5~6万;X射线测厚仪25~40万。





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 超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。在实际检测工作中,经常碰到超声波测厚仪示值与设计值(或预期值)相比,明显偏大或偏小,原因分析如下:
1、声速选择错误。测量工件前,根据材料种类预置其声速或根据标准块反测出声速。当用一种材料校正仪器后(常用试块为钢)又去测量另一种材料时,将产生错误的结果。
2、温度的影响。一般固体材料中的声速随其温度升高而降低,有试验数据表明,热态材料每增加100°C,声速下降1%。对于高温在役设备常常碰到这种情况。
3、层叠材料、复合(非均质)材料。要测量未经耦合的层叠材料是不可能的,因超声波无法穿透未经耦合的空间,而且不能在复合(非均质)材料中匀速传播。对于由多层材料包扎制成的设备(像尿素高压设备),测厚时要特别注意,超声波测厚仪的示值仅表示与探头接触的那层材料厚度。
4、耦合剂的影响。耦合剂是用来排除探头和被测物体之间的空气,使超声波能有效地穿入工件达到检测目的。如果选择种类或使用方法不当,将造成误差或耦合标志闪烁,无法测量。实际使用中由于耦合剂使用过多,造成探头离开工件时,仪器示值为耦合剂层厚度值。
5、被测物体(如管道)内有沉积物,当沉积物与工件声阻抗相差不大时,超声波测厚仪显示值为壁厚加沉积物厚度。
6、金属表面氧化物或油漆覆盖层的影响。金属表面产生的致密氧化物或油漆防腐层,虽与基体材料结合紧密,无名显界面,但声速在两种物质中的传播速度是不同的,从而造成误差,且随覆盖物厚度不同,误差大小也不同。
7、应力的影响。在役设备、管道大部分有应力存在,固体材料的应力状况对声速有一定的影响,当应力方向与传播方向一致时,若应力为压应力,则应力作用使工件弹性增加,声速加快;反之,若应力为拉应力,则声速减慢。当应力与波的传播方向不一至时,波动过程中质点振动轨迹受应力干扰,波的传播方向产生偏离。根据资料表明,一般应力增加,声速缓慢增加。
8、当材料内部存在缺陷(如夹杂、夹层等)时,显示值约为公称厚度的70%(此时要用超声波探伤仪进一步进行缺陷检测)。

涂层测厚仪的影响因素

  a、基体金属磁性质

  磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

  b、基体金属电性质

  基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

  c、基体金属厚度

  每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。

  d、边缘效应

  本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

  e、曲率

  试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

  f、试件的变形

  测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。

  g、表面粗糙度

  基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。

  g、磁场

  周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。

  h、附着物质

  本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

  i、测头压力

  测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。

  j、测头的取向

  测头的放置方式对测量有影响。在测量中,应当使测头与试样表面保持垂直。

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