电子天平在使用过程中除了人为因素外,以下八大环境因素也会影响其称量精准性,需要特别留意。就电子天平使用的常见问题小编总结以下,让你远离称量雷区,轻松应对精准称量困恼。
1、空气流动因素
避免空气流动
使用防风罩
使用网格称盘
2、温差因素
让天平在实验室稳定一段时间
把样品放置在天平附近
3、震动因素
平稳的实验地点
使用稳定的大理石实验台
4、静电因素
使用去静电装置消除静电
5、挥发和回潮因素
封闭样品盘
快速读数
6、热辐射因素
避免热源
穿着实验服
7、磁场因素
避免易磁化的材料(钢、铁)
在样品和秤盘之间放置不导磁的物品
如果准确度可以保证,使用应变片传感器的天平
8、空气浮力因素
使用浮力补偿公式计算浮力的影响
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电子天平有着众多不同型号的一个系列。独特的“意大利设计”蕴涵着革新与科技。
zui新一代的数据微处理器使天平在任何恶劣的环境下仍有表现出惊人的稳定性。
电子天平及其分类按电子天平的精度可分为以下几类:
超微量电子天平:超微量天平的zui大称量是2至5g,其标尺分度值小于(zui大)称量的10-6,如Mettler的UMT2型电子天平等属于超微量电子天平。
微量天平:微量天平的称量一般在3至50g,其分度值小于(zui大)称量的10-5,如Mettler的AT21型电子天平以及Sartoruis的S4型电子天平。
半微量天平:半微量天平的称量一般在20至100g,其分度值小于(zui大)称量的10-5,如Mettler的AE50型电子天平和Sartoruis的M25D型电子天平等均属于此类。
常量电子天平:此种天平的zui大称量一般在100至200g,其分度值小于(zui大)称量的10-5,如Mettler的AE200型电子天平和Sartoruis的A120S、A200S型电子天平均属于常量电子天平。
分析天平:其实电子分析天平,是常量天平、半微量天平、微量天平和超微量天平的总称。
精密电子天平:这类电子天平是准确度级别为Ⅱ级的电子天平的统称。
电子天平故障分析:
显示乱码
将原来的显示电路拆下,换一个正常的显示电路看是否正常。
如果显示正常说明显示电路出现问题,如果不正常,应检查驱动电路是否有故障,zui后检查处理器显示输出的引脚是否在合理的输出范围。
按键不好用
先更换新按键进行测试,如新按键功能正常时,则可判定为按键接触不良,测量按键与CPU之间线路有无断路、虚焊。
检查按键支座是否有接触不良现象。测量按键与CPU回路上的二极管、电阻等是否有短路、断路的情况。
无法称到满载
和无法回零的情况差不多,多数可能由于小信号输入范围发生了改变。按照无法回零的方法检测,如果找不出问题,就先检测供电电源、A/D电路是否正常,再检测传感器输出。
指针跳动
当横梁被托起时,如支点刀的刀口与刀垫间前后距离不等,则开启天平时,会产生指针跳动,可把横托架左臂前的螺丝放松,然后用手捻调节小支柱的高度,直至指针不再跳动。
称量不准确的故障分析
观测内码值是否稳定,传感器各部位是否有摩擦现象,稳压电源是否稳定,运放电路是否正常,使用砝码测试秤盘四脚秤量是否平均。依照说明书指示,进一步做仪表局部分析或重量校正。
称重物移除后无法回到零点的故障分析
检查传感器输出信号值是否于标准内(A/D的总放大码/使用内码范围/底码范围),如果信号值未在标准内,调节传感器可调电阻,将信号值调到标准内;
如无法补偿请检查传感器是否有问题,在保证传感器输出正常(秤体稳定)情况下,锁定仪表故障,一般是放大电路及A/D转换电路发生问题,再依据电路原理逐一判断测试分析,以zui终解决问题。
无法开机的故障
先确定非保险丝、电源开关、电源线及电压切换开关的问题所造成,检查变压器有无交流电压输入及交流电输出。
如果仪表带有电池将电池取下再以AC电源开机,以了解是否为电池电压不足所造成。
其次再检测整流电路、稳压电路以及显示驱动电路是否出现异常,如果这些都没问题检查处理器及附属电路是否烧坏。
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电子天平,用于称量物体质量。电子天平一般采用应变式传感器、电容式传感器、电磁平衡式传感器。应变式传感器,结构简单、造价低,但精度有限。
一.导致检定结果差异的因素:
(1)存放时间
(2)预热时间
(3)预压
(4)读数时间
(5)鉴别力的测试
二、解决方法:
1、对送检的电子天平,建议检定前在检定室开箱存放最少24h以上,使电子天平内部的机械机构达到一定的平衡,也使电子天平整机及称室的温度与环境温度相平衡。
2、电子天平检定前应预热0、5h以上,但0、5h以上多长的预热时间比较合适?这就需要依据各电子天平使用说明书上的要求,同时电子天平的预热时间和电子天平的精度有紧密的联系,通常状况下,电子天平精度越高,预热时间越长。在达到说明书规定的预热时间后,才能开始检定。
3、检定前可以多次加载砝码,否则电子天平进程示值与回程示值之差将明显增大。加载时不必在意称量结果和回零情况。
4、检定电子天平时读取示值的时间一般不在稳定符号出现(或不稳定符号消失)后即进行读数,而是延长相应的时间后。每次读数延长的时间应相对的一致,即在电子天平稳定符号出现(或不稳定符号消失)后延长一固定的时间读数。这对分度值较小的微量电子天平、超微量电子天平的检定尤其重要。据实际经验,电子天平按出厂时设定的稳定范围,当实际分度值大于或等于1mg时,在稳定符号出现或不稳定符号消失后延长3s读数比较合适,对实际分度值等于0、1mg的电子天平,延长5s读数比较合适,而对实际分度值小于或等于0、01mg的电子天平,则延长10s-30s读数比较合适,读数时注意每次间隔时间相同,谨作参考。
5、最后建议检定人要全面掌握检定流程,在进行检定时,对任何细节都不容忽视。只有这样,才能避免检定结果出现差异。
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