操作注意事项：
1、近红外荧光光谱仪光谱区范围，是介于可见光和中红外光之间的电磁波，在检测样品前我们首先需要了解测试光谱范围
2、在使用前还需要对仪器进行校正，近红外荧光光谱仪的校正相对比较麻烦，为了得出准确的数值，一般需要80个以上的代表性样品用来进行校正，这一步骤我们通常称为模型建立
3、在检测过程中，首先用近红外荧光光谱仪测定样品的光谱区，通过软件自动对模型库进行检索，选择正确模型计算待测样品质量参数
近红外荧光光谱仪可以分为固定波长滤光片、光栅色散、快速傅立叶变换、声光可调滤光器和阵列检测五中类型。不同类型都有其自身的有缺点，另外近红外光谱仪重要的是模型库建立和光谱范围，用户在选择前一定要搞清楚自己使用要求再进行购买，否则容易花冤枉钱。
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X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。
荧光光谱仪的性能特点：
1、专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
2、电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
3、内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
4、抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析
5、针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
6、任意多个可选择的分析和识别模型
7、相互独立的基体效应校正模型
8、多变量非线性回归程序
9、智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
该技术的主要特征为：
利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率;
采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比; 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性;
利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;
采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响;
采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
荧光光谱仪分析对象主要有各种磁性材料、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等；
以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。
X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。
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