万用表可以测量晶体管直流参数吗？答案是一定的，万用表真的是“物如其名”，可以进行测量的交流直流/直流电压，电阻，电容，电感等等，当然还有晶体管智力参数。下面一起来看看~
晶体管直流参数较常用的有晶体管直流放大倍数β、发射极开路时的集电极与基极间反向截止电流Icbo,基极开路时的集电极与发射极间反向截止电流Iceo。
(1)测量晶体管直流放大倍数
测量晶体管直流放大倍数时，首先将万用表上的测量选择开关转动至校准挡位，将两表笔短接，调节欧姆挡调零旋钮使指针对准hFE刻度线的“300”刻度（如下图：测量晶体管前先校准）
然后分开两表笔，将测量选择开关转动至“hFE”挡位，即可插入晶体管进行测量，如图（晶体管放大倍数的测量）。万用表上的晶体管插孔的左半边供测量NPN型管用，右半边供测量PNP型管用。
(2)测量晶体管集电极与基极间反向截止电流
测量晶体管集电极与基极间反向截止电流Icbo时,万用表 置于“R*1K”挡，并短接两表笔后调节欧姆挡调零旋钮，使指针准确地指在0Ω上（如下图）。
测量Icbo前先调零
调零结束后分开两表笔。将被测晶体管发射极悬空，基极 插入b插孔，集电极插入c插孔，如下图所示。由于此时满度电流值为60μA，可看0~10的线性刻度，将读数乘以6μA即是被测晶体管的Icbo值。
(3)测量晶体管集电极与发射极间反向截止电流
测量晶体管集电极与发射极间反向截止电流Iceo时，万用表仍用“R*lk”挡，被测晶体管基极悬空，发射极插入e插孔，集电极插入c插孔，如下图2所示。读数方法与测量Icbo相同。
如果被测晶体管的Iceo值大于60μΩ，可改用万用表的“Rxl00”挡进行测量（换挡后应重新校零），此时满度电流值为600μΩ，仍然观察0~10的线性刻度，将读数乘以60μA即得到被测晶体管的Iceo值。
运用万用表电阻档对电容充电时电流随时间变化过程而测得电容值，用秒表测得接通电容起到选定结束点的时间来计算电容值。首先万用表置电阻档并调节机械和调零，然后接电容并计时，到接近∞某一点计时结束。
i=i0e-t/τ（τ=RC）
C=t/﹛r0×[-ln(i终/i0)]﹜……①
C=-t/﹛r0×ln[r0/(r0+r终)……②
其中t：从接通电容起到选定结束点的时间（秒）
r0：万用表选定电阻档的中心电阻值乘以该档倍率（如R×10档即用中心电阻值乘以10即r0）单位：Ω
r终：电容充电时选定结束点的电阻值。（单位：Ω）
i终：万用表选定电阻档的满度电流值，即电阻档的开路电压值E除以中心电阻值乘以该档倍率。（单位：A）
i0：电容充电结束电流点【i0=E/(r0+r终】（单位：A）
选定结束点方法：
可选用接近∞带数字电阻刻度线用式②计算电容值；或电压电流档第一分格点作为结束点，此时用式①计算(i终/i0=1/50万用表一般为50分格）
注意事项：
测量前先将短路放电并确定接触良好；
电解电容必须正相连接；
合理选用电阻档位使充电时间较大便于计时准确；
接入电容前调节电气和机械零位；
耐压小于12V的电容器不能用R×10K档测量。
模拟万用表是万用表中的一种，所以能够测量的东西也是一样的，下面通过一些介绍，讲讲万用表的常见故障及维修方法：
1、指针摆动不正常，时摆时阻
解决方法：
(1)打开表壳，用小镊子和螺丝刀修整机械摆动部位，使指针摆动灵活；
(2)重新焊接表头线，分流电阻断开时重新连接，烧断时要换同型号的分流电阻；
(3)用镊子重新调整游丝外形，使其外环圈圆滑，布局均匀；
(4)修整支撑部位
2、电阻档无指示
(1)重新装配万用表电池，或更换新电池；
(2)重新焊接连线，并调整电位器中心触片使其与电阻丝接触良好；
(3)擦净触点油污，并修整触片，若焊接连接线断幵，要重新焊接；
3、在表笔短路时，指针调整不到零位，或指针来回摆动不稳定
(1)更换同型号新电池；
(2)更换串联电阻；
(3)调整插座弹片，使其接触良好，并去掉表笔插头及插座上的氧化层；
(4)用酒精清洗万用表转换幵关接触触点，并校正动触点与静触片的接触距离；
(5)用镊子把调零电位器中间的动触片往下压一些，使其与静触点电阻丝接触良好；
4、电阻档量程不通或误差太大
(1)更换同样阻值、功率的电阻；
(2)用酒精檫洗并修理接触不良处；
(3)更换该挡分流电阻；
(4)更换同型号的新电池；
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