主要类型
用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度;有时则要测定材料表面的覆盖层厚度，以保证产品质量和生产安全。根据测定原理的不同，常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。
超声波测厚仪超声波在各种介质中的声速是不同的，但在同一介质中声速是一常数。超声波在介质中传播遇到第二种介质时会被反射，测量超声波脉冲从发射至接收的间隔时间，即可将这间隔时间换算成厚度。在电力工业中应用广的就是这类测厚仪。常用于测定锅炉锅筒、受热面管子、管道等的厚度，也用于校核工件结构尺寸等。这类测厚仪多是携带式的，体积与小型半导体收音机相近，厚度值的显示多是数字式的。对于钢材，大测定厚度达2000 mm左右，精度在±0.01~±0.1 mm之间。
磁性测厚仪在测定各种导磁材料的磁阻时，测定值会因其表面非导磁覆盖层厚度的不同而发生变化。利用这种变化即可测知覆盖层厚度值。常用于测定铁磁金属表面上的喷铝层、塑料层、电镀层、磷化层、油漆层等的厚度。
涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离(即覆盖层的厚度)有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。
同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。
使用注意事项
测厚仪的测试方法主要有:磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
测量注意事项:
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
瓶壁测厚仪适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度检测。仪器在传统的厚度测量仪基础上，增加了稳固瓶子的托盘，避免因瓶子摇摆不定带来的测量误差。
产品特点
7寸触控彩色液晶屏，微电脑控制，自动分组统计最大值、最小值、平均值。
旋转角度位移实时显示，保证测量准确回位。
满足玻璃瓶底厚和壁厚两种测试方式。
测量平台新增托瓶装置支持上下调节，让测试轻松便捷。
系统自带微型打印，上位机数据无限保存。
专业电脑测试软件，曲线图显示，数据保存，EXCEL统计，打印A4试验报告。
软件用户分级权限管理，数据统计及审计功能满足行业要求。
安装仪器
小心拆开包装箱，清点整理合格证、说明书及附件；
将试验机平稳安置在固定的工作台面上；
配备带有保护接地线的单相交流220V（3线）电源座；
认真阅读用户手册；
妥善保存包装箱，以备返厂维保运输之用。
结构原理
电子瓶壁测厚仪采用容栅传感技术，通过测量表头接触瓶子，与镖头对应。两个系统中容栅传感器采集响应的数据，进而通过系统计算出对应的瓶壁或瓶底的厚度值。
覆层测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
由于该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。 本仪器符合以下标准： GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法JB/T 8393─1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪JJG 889─95《磁阻法测厚仪》。
覆层测厚仪主要功能：
可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正：
具有两种测量方式地：连续测量方式（continue）和单次测量方式（single）;
具有两种工作方式：直接方式和成组方式；
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
设有五个统计量：平均值地（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、测试次数（NO.）、标准偏差（S.DEV）；
具有打印功能，或打印测量值、统计值；
具有欠压指示功能；
操作过程有蜂鸣声提示；
具有错误提示功能；
具有自动关机功能。
覆层测厚仪技术参数：
测头类型：F。
测量原理：磁感应。
测量范围：0-1250um。
低限分辨力：1?m（10um以下为0.1um）。
探头连接方式：一体化。
示值误差：一点校准（um）±[3%H 1]。
两点校准（um）： ±[（1～3）%H 1]。
测量条件：小曲率半径（mm） 凸 1.5 凹9。
基体小面积的直径（mm）：ф7。
小临界厚度（mm）：0.5。
温湿度：0~40℃，20%RH～90%RH。
统计功能：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、测试次数（NO．）、
标准偏差（S．DEV）。
工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）。
测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）上下限设置。
存储能力：15 个测量值。
打印/连接计算机：可选配打印机/不能连接电脑。
关机方式：自动。
电源：二节3.6V镍镉电池。
外形尺寸：150×55.5×23mm。
重量：150g。
基本配置：主机。
标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）。
铁基体。
充电器。
可选附件。
TA230打印机。
基本配置：
TT220主机 一台
标准样片 1盒
标准基体 1块
充电器 1个
覆层测厚仪优点：
测量速度快：测量速度比其它TT系列快6倍；
精度高 ：本公司产品简单校0后精度即可达到1-2%是目前市场上为数不多能达到A级的产品,其精度远高于时代等国内同类.比EPK等进口产品精度也高；
稳定性：测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品；
功能、数据、操作、显示全部是中文。
覆层测厚仪功能特点：
采用了磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆盖层的厚度（如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）。
基本原理：
本仪器采用了磁性测厚法，可无损伤地测量磁性金属基体上的非磁性覆盖层的厚度（如钢、铁、非奥氏体不锈钢基体上的铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆镀层）。 基本工作原理是：当测头与覆盖层接触时。测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆层的厚度。
特点：
性价比优势：同类进口产品中具有很高的价格性能比。
服务优势：具有zui多的服务网点和强大的。
探头：配备有世界上zui优秀的检测探头。
简介：
该仪器应用于喷涂电镀、涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面涂层及各种薄膜厚度的测量，CMI 200型测厚仪是高科技电子技术和软件的zui佳组合，多功能、耐用的设计，专为适应zui恶劣的工作环境而制造，典型应用于表面处理工业。
参数：
测量方法：磁感应或涡流式
分辨率：0.1μm/0.01mil
适用标准：磁感应遵守ASTM B499 & B530；DIN 50981；ISO 2178BS 5411 PART9&11有关规定。涡流式遵守ASTM B244 & B259；DIN 50984；ISO 2360BS 5411 PART3有关规定
存储量：12，400条读数
低铁和无铁层厚度：12 mils（305μm）
尺寸及重量：14.9X7.94X3.02 CM；重量：260克（含电池）
单位：英制和公制，可转换
电池：9伏干电池或充电电池
统计数据显示：读取次数，平均值，标准差，zui高值，zui低值，由打印机或连续输出支持的直方图和CPK图
接口：RS-232串行输出端口
显示：1/2英寸背光液晶显示屏
键区：密封膜。基本-9键；增强-16键
扫描特征：在指定扫描时间内自动平均读数（或可提供实际高低值）
品牌及产地：英国牛津；产地：美国
标准配置：主机和指定型号的探头·9伏干电池·标准膜片2片·操作手册
应用范围：
磁感应：铁/钢等磁性基材上的非磁性涂层，例如锌、铬、镉、锡、铜、聚四氟乙烯、环氧树脂、油漆、粉末涂料或亚铁基底的搪瓷上的珐琅。
涡流：铝/铜等导电基材上的非导电性涂层，例如阳极电镀、油漆、珐琅/瓷釉、粉末涂料或在非亚铁基底上的环氧化物。
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