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如何校准铁基涂层测厚仪 测厚仪如何操作

时间:2020-07-11    来源:仪多多仪器网    作者:仪多多商城     

如何校准铁基涂层测厚仪

校零
1.将测量探头压在铁基上(或不带涂层的测  量体上),再轻按一下校零键ZERO进行校零.需要注意的是,在按ZERO键时,测量探头一定要压紧在铁基上,而且不要晃动。若按校零键ZERO时,探头未压紧在零板(基块)上,则是显示器清零,而不是校零。
2.将测量探头提起1厘米以上,然后再将探头压放铁基上(或不带涂层的测量体上)观察铁基上的测量值,若测量值在0附近,说明校零成功,否则,应重新校零。
 
校满度
1.根据要测量的涂层厚度,选择适当的标准膜片,进行满度校准。
2.先将标准膜片放在铁基上(或不带涂层的测量体上)。
3.再将测量探头压在标准膜片上,测量值就显示在显示器上,若测量值与标准膜片不同,测量值可通过加I键或减1键来修正。修正时,测量探头应远离铁基或测量体至少2厘米。
4.为保证校满度的准确性,可通过多次测量同一标准膜片上同一点来验证。

 

超声波测厚仪减小测量误差的方法

  在使用超声波测厚仪过程中,如果使用方法不当,就会增大测量误差。下面为大家讲解一些减小测量误差的方法,希望能帮助大家。  1、超薄材料超声波测厚仪  使用任何超声波测厚仪,当被测材料的厚度降到探头使用下限以下时,将导致测量误差,必要时,小极限厚度可用试块比较法测得。  当测量超薄材料时,有时会发生一种称为“双重折射”的错误结果,它的现象为:显示读数是实际厚度的二倍;另一种错误结果被称为“脉冲包络、循环跳跃”,它的现象是测量值大于实际厚度,为防止这类误差,测临界薄材料时应反复测量核对。  2、锈斑、腐蚀凹坑等超声波测厚仪  被测材料另一表面的锈斑凹坑(很小的锈点有时是很难发现的)等将引起读数无规则地变化,在极端情况下甚至无读数。当发现凹坑或感到怀疑时,对这个区域的测量就得十分小心,可选择探头串音隔层板不同角度的定位来作多次测试。  3、材料识别错误超声波测厚仪  当用一种材料校正了仪器后,又去测量另一种材料时,将发生错误的结果,应注意选择正确的声速。  4、探头的磨损超声波测厚仪  探头表面为丙烯树脂,长期使用会使其粗糙度增高,导致探头灵敏度下降,如果探头磨损严重导致测量结果误差较大,可用砂纸或油石少量打磨探头表面使其平滑并保证平行度。如测值仍不稳定,则需更换探头。  5、多层材料、复合材料超声波测厚仪  要测量结合面不紧密的多层材料是不可能的,因超声波无法穿透未经耦合的结合面。因为超声波不能在复合材料中以匀速传播,所以用超声反射原理测量厚度的仪器均不适于测量多层材料和复合材料。  6、金属表面氧化层的影响超声波测厚仪  有些金属可能在其表面产生较致密的氧化层,例如铝等,这层氧化层与基体间结合紧密,无明显界面,但超声波在这两种物质中的传播速度是不同的,故会造成测量误差,且氧化层厚度不同误差的大小也不同。请用户在使用时注意这种情况。可以在同一批被测材料中选择一块制成样块,用千分尺或卡尺测量测量其厚度,并用该样块对仪器进行校准。  7、反常的厚度读数超声波测厚仪  操作者应具备辨别反常读数的能力,通常锈斑、腐蚀凹坑、被测材料内部缺陷都将引起反常读数。具体解决方法可联系北京金泰科仪检测仪器有限公司为您解答。  8、耦合剂的选择和使用超声波测厚仪  耦合剂是用来作为探头与被测材料之间的超声信号传播载体。如果耦合剂的种类或使用方法不当将有可能造成较大误差,或者耦合标志闪烁,测值无法稳定。耦合剂应适量使用,涂沫均匀。  选择合适类型的耦合剂非常重要。当使用在光滑材料表面时,可以使用低粘度的耦合剂(如随机配置的耦合剂、轻机油等);当使用在粗糙材料表面,或垂直表面及顶面时,需要使用粘度较高的耦合剂(如甘油膏、黄油、润滑脂等)。

标签: 超声波测厚仪
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选择测厚仪的基本原因

  即使相同的涂层测厚仪,不同的人或对不同种类、状态基材上的相同涂层测量出来的数据也可能会存在较大差别,这是因为测量人员因素、测量漆膜的基体材质、厚度、表面状况以及测量位置等造成的。

  使用前应仔细阅读仪器使用说明书,不同厂家、不同品牌的仪器在结构、按键、校准等方面各不相同,因此使用前必须先仔细阅读仪器的使用说明书,避免误操作造成测量数据的错误。

  注意金属基体材质:

  不同金属基体材料的磁性、导电率是不相同的,这都会对测量结果造成影响[9]。采用磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准,亦可用待涂覆试件进行校准。由于基体金属的成分及热处理方法不同,导致其电导率不同,因此应使用与被检测试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

  注意检测试件形状:

  在实际生产中,工件的材料厚度、形状、表面粗糙度等存在差异,这些差异会对实际测量结果造成影响。每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度,大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响,如果试件材料厚度小于仪器所要求的临界厚度,检测结果就会与实际厚度有差别。一些仪器对试件表面形状的陡变十分敏感,因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量的数值会不可靠,实际测量时应选择远离边缘和内转角的部位。试件表面不仅存在形状的陡变,还可能存在不同的曲率,一些仪器的测量结果总是随着曲率半径的减小明显地增大。因此,即使在选择仪器时考虑了最小曲率半径,测量时仍应尽可能选择在平面部位进行测量。

  以上也是在选择测厚仪器时需要考虑最小曲率半径、最小测量面积、最小基体厚度的原因。

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