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扫描电子显微镜的性能特点介绍 扫描电子显微镜是如何工作的

时间:2020-07-11    来源:仪多多仪器网    作者:仪多多商城     
扫描电子显微镜的性能特点介绍
扫描电子显微镜类型多样, 不同类型的扫描电子显微镜存在性能上的差异。根据电子枪种类可分为三种:场发射电子枪、钨丝枪和六硼化镧 [5]  。其中, 场发射扫描电子显微镜根据光源性能可分为冷场发射扫描电子显微镜和热场发射扫描电子显微镜。冷场发射扫描电子显微镜对真空条件要求高, 束流不稳定, 发射体使用寿命短, 需要定时对针尖进行清洗, 仅局限于单一的图像观察, 应用范围有限;而热场发射扫描电子显微镜不仅连续工作时间长, 还能与多种附件搭配实现综合分析。在地质领域中, 我们不仅需要对样品进行初步形貌观察, 还需要结合分析仪对样品的其它性质进行分析, 所以热场发射扫描电子显微镜的应用更为广泛。
扫描电子显微镜 (scanning electron microscope, SEM) 是一种用于高分辨率微区形貌分析的大型精密仪器 。具有景深大、分辨率高, 成像直观、立体感强、放大倍数范围宽以及待测样品可在三维空间内进行旋转和倾斜等特点。另外具有可测样品种类丰富, 几乎不损伤和污染原始样品以及可同时获得形貌、结构、成分和结晶学信息等优点。目前, 扫描电子显微镜已被广泛应用于生命科学、物理学、化学、司法、地球科学、材料学以及工业生产等领域的微观研究, 仅在地球科学方面就包括了结晶学、矿物学、矿床学、沉积学、地球化学、宝石学、微体古生物、天文地质、油气地质、工程地质和构造地质等。
扫描电镜虽然是显微镜家族中的后起之秀, 但由于其本身具有许多优点, 发展速度是很快的。
1 仪器分辨率较高, 通过二次电子象能够观察试样表面6nm左右的细节, 采用LaB6电子枪, 可以进一步提高到3nm。
2 仪器放大倍数变化范围大, 且能连续可调。因此可以根据需要选择大小不同的视场进行观察, 同时在高放大倍数下也可获得一般透射电镜较难达到的高亮度的清晰图像。
3 观察样品的景深大, 视场大, 图像富有立体感, 可直接观察起伏较大的粗糙表面和试样凹凸不平的金属断口象等, 使人具有亲临微观世界现场之感。
4 样品制备简单, 只要将块状或粉末状的样品稍加处理或不处理, 就可直接放到扫描电镜中进行观察, 因而更接近于物质的自然状态。
5可以通过电子学方法有效地控制和改善图像质量, 如亮度及反差自动保持, 试样倾斜角度校正, 图象旋转, 或通过Y调制改善图象反差的宽容度, 以及图象各部分亮暗适中。采用双放大倍数装置或图象选择器, 可在荧光屏上同时观察放大倍数不同的图象。
6 可进行综合分析。装上波长色散X射线谱仪(WDX) 或能量色散X射线谱仪 (EDX) , 使具有电子探针的功能, 也能检测样品发出的反射电子、X射线、阴极荧光、透射电子、俄歇电子等。把扫描电镜扩大应用到各种显微的和微区的分析方式, 显示出了扫描电镜的多功能。另外, 还可以在观察形貌图象的同时, 对样品任选微区进行分析;装上半导体试样座附件, 通过电动势象放大器可以直接观察晶体管或集成电路中的PN结和微观缺陷。由于不少扫描电镜电子探针实现了电子计算机自动和半自动控制, 因而大大提高了定量分析的速度。



    台式扫描电子显微镜具有由三极电子枪发出的电子束经栅极静电聚焦后成为直径为50mm的电光源


    在2-30KV的加速电压下,经过2-3个电磁透镜所组成的电子光学系统,电子束会聚成孔径角较小,束斑为5-10  nm的电子束,并在试样表面聚焦。


    末级透镜上边装有扫描线圈,在它的作用下,电子束在试样表面扫描。高能电子束与样品物质相互作用产生二次电子,背反射电子,X射线等信号。


    这些信号分别被不同的接收器接收,经放大后用来调制荧光屏的亮度。


    由于经过扫描线圈上的电流与显像管相应偏转线圈上的电流同步,因此,试样表面任意点发射的信号与显像管荧光屏上相应的亮点一一对应。


    也就是说,电子束打到试样上一点时,在荧光屏上就有一亮点与之对应,其亮度与激发后的电子能量成正比。


    换言之,扫描电镜是采用逐点成像的图像分解法进行的。


    光点成像的顺序是从左上方开始到右下方,直到最後一行右下方的像元扫描完毕就算完成一帧图像。这种扫描方式叫做光栅扫描。


    台式扫描电子显微镜由电子光学系统,信号收集及显示系统,真空系统及电源系统组成。


    (以下提到扫描电子显微镜之处,均用SEM代替)


    真空电源


    真空系统主要包括真空泵和真空柱两部分。真空柱是一个密封的柱形容器。


    真空泵用来在真空柱内产生真空。有机械泵、油扩散泵以及涡轮分子泵三大类,机械泵加油扩散泵的组合可以满足配置钨枪的SEM的真空要求,但对于装置了场致发射枪或六硼化镧枪的SEM,则需要机械泵加涡轮分子泵的组合。


    成像系统和电子束系统均内置在真空柱中。真空柱底端即为右图所示的密封室,用于放置样品。


    之所以要用真空,主要基于以下两点原因:


    电子束系统中的灯丝在普通大气中会迅速氧化而失效,所以除了在使用SEM时需要用真空以外,平时还需要以纯氮气或惰性气体充满整个真空柱。


    为了增大电子的平均自由程,从而使得用于成像的电子更多。





   扫描电子显微镜精心合理的设计    

   扫描电子显微镜是用极细的电子束在样品表面扫描,将产生的二次电子用特制的探测器收集,形成电信号运送到显像管,在荧光屏上显示物体。(细胞、组织)表面的立体构像,可摄制成照片。
   扫描电子显微镜样品用戊二醛和饿酸等固定,经脱水和临界点干燥后,再於样品表面喷镀薄层金膜,以增加二波电子数,扫描电镜样品用戊二醛和饿酸等固定,经脱水和临界点干燥后,再于样品表面喷镀薄层金膜,以增加二波电子数。扫描电子显微镜能观察较大的组织表面结构,由於它的景深长,1mm左右的凹凸不平面能清所成像,故放样品图像富有立体感。扫描电镜能观察较大的组织表面结构,由于它的景深长,1mm左右的凹凸不平面能清所成像,故放样品图像富有立体感。
   扫描电子显微镜自动定性分析是根据能量位置来确定峰位,直接单击"操作/定性分析"按钮,即可实现自动定性分析,在谱的每个峰的位置显示出相应的元素符号。
   扫描电子显微镜优点是识别速度快,但由于能谱谱峰重叠干扰严重,自动识别极易出错,比如把某元素的L系误识别为另一元素的K系,这是它的缺点。为此分析者在仪器自动定性分析过程结束后,还必须对识别错了的元素用手动定性分析进行修正。所以虽然有自动定性分析程序,但对分析者来说,具有一定的定性分析技术实在是必不可少的。
   扫描电子显微镜是通过X射线强度来获取组成样品材料的各种元素的浓度,根据实际情况,人们寻求并提出了测量未知样品和标样的强度比方法,再把强度比经过定量修正换算呈浓度比。扫描电子显微镜两种定量分析方法:无标样定量分析法和有标样定量分析析法。
   电子束只打到试样上一点,得到这一点的X射线谱的分析方法是点分析方法。与此不同的是,用扫描像观察装置,使电子束在试样上做二维扫描,测量特征X射线的强度,使与这个强度对应的亮度变化与扫描信号同步在阴极射线管上显示出来,就得到特征X射线强度的二维分布的像。这种观察方法称为元素的面分布分析方法,它是一种测量元素二维分布的非常方便的方法。
 


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