涂层测厚仪如何使用才可避免降低误差
在使用涂层测厚仪测量的时候尽量使用被测材料来作为调零的基体，以避免由于不同的材料而导致导磁性不同，而出现测量误差。等到在被测材料的同一部位调零以后，再进行相同部位的测量，如在侧脸工件边缘及中间部分时应当分别调零。
在利用涂层测厚仪进行测量的时候还应当注意探头和被测料面保持垂直，以免产生大的误差。若是测量的同一个点，可将探头每次都离开10公分以上，间隔几秒以后再进行测量，以免被测材料探头磁化而影响测量结果。
涂层测厚仪作为调零用的表面需要尽量保持光滑，如果表面不光滑，应当视情况取平均值，因为表面粗糙度对测量的数值影响较大。结构不同应分别进行调零测量，平面调零侧脸平面，测量凹面调零后测量，测量凸面调零后进行测量，避免由于结构不同而在测量上产生误差。
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今天为大家讲解涂镀层测厚仪（简称膜厚仪）使用频繁、工作环境等原因造成仪器测量时有故障总结使用中常见故障及处理方法：
涂镀层测厚仪仪器不开机：
①请检查确认电池是否有电，或更换新的电池。
②请检查电池是否接触良好，且电极片没有氧化或生锈等-（如生锈—可用工具刮掉氧化层）
③请检查按键是否按压到位，且按键正常有弹性。
④其它主机线路故障咨询公司售后服务或返厂检修
涂镀层测厚仪仪器测量不准：
①请先行系统校准仪器，标定，使之符合误差范围误差遵循≦3%(厚度值）±1um如需测试更加精准请在被测工件的光滑裸基（而不是随机带的的铁块）进行系统校准。
②请红外线测温仪检查探头前端是否磨损，是否变形，有附着物质等探头外护套是否不在水平等,变形可适当用砂纸打磨修正，处理干净.
③被测件基材表面粗糙度影响，引起系统误差和偶然误差测量时在不同位置增加测量次数，克服偶然误差。或用砂纸打磨基材重新校对仪器零点。
④测量手法以及探头的放置需保持探头与试样垂直
⑤被测件曲度在该探头所适应的曲率半径下，重新校准。尤其管道凸面，注意探头V型卡槽稳定放置。
涂镀层测厚仪仪器不测量：
①检查探头是否连接良好，插到位 查看探头插头插针情况
②检查探头线是否有断的地方重点检查探头接插件处（接头处可以旋钮拧开查看）
③探头频繁大量使用，传感器老化或损坏等
④其它主机线路元件故障咨询公司售后服务或返厂检修
测量无数据变化：
①探头是否连接良好探头是否损坏等
②相关主机线路故障
开机测量仅测“0000”（有测量符号并伴随蜂鸣声非正常断电引起数据丢失可以试着系统校准恢复数据
仪器开机不能进入测量界面（“全力以赴打造精品”不动了）
①探头线是否连接良好有断点
②其它主机线路故障
涂镀层测厚仪仪器开机无显示（有背光有蜂鸣声）
①液晶模块器件有故障
②仪器外力冲击导致液晶排线断裂
③相关主机线路故障
无损检测技术是一门理论上综合性较强，它涉及到材料的物理性质、产品设计、制造工艺、断裂力学以及有限元计算等诸多方面。
在化工、电子、电力、金属等行业中，为了实现对各类材料的保护或装饰作用，通常要采用喷涂、有色金属覆盖以及磷化、阳极氧化处理等方法；
这样，便出现了涂层、镀层、敷层、贴层或化学生成膜等概念，我们称之为“覆层”。
覆层的厚度测量已成为金属加工工业已用户进行成品质量检测必备的重要的工序。是产品达到优质标准的必备手段。
目前，国内外已普遍按统一的国际标准测定涂镀层厚度，覆层无损检测的方法和仪器的选择随着材料物理性质研究方面的逐渐进步而更加至关重要。
有关覆层无损检测方法，主要有：
楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线莹光法、β射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。
这些方法中除了后五种外大多都要损坏产品或产品表面，系有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线和β射线反射法可以无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围小。
因有放射源，故使用者必须遵守射线防护规范，一般多用于各层金属镀层的厚度测量。
电容法一般仅在很薄导电体的绝缘覆层厚度测试上应用。
磁性测量法及涡流测量法，随着技术的日益进步，特别是近年来引入微处理机技术后，测厚仪向微型、智能型、多功能、高精度、实用化方面迈进了一大步。
测量的分辨率已达0.1μm，精度可达到1%。又有适用范围广，量程宽、操作简便、价廉等特点。是工业和科研使用广泛的仪器。
采用无损检测方法测厚既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，故能使大量的检测工作经济地进行。
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