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如何选取激光功率计和能量计 功率计是如何工作的

时间:2020-08-04    来源:仪多多仪器网    作者:仪多多商城     
激光功率和能量计主要用来测量光源的输出。无论光发射是来源于弱光源(如荧光),还是来源于高能量的脉冲激光器,功率和能量计都是实验室、生产部门或是工作现场等多种应用环境中必不可少的工具。
虽然功率计和能量计是分别提供的,但随着能够适用大量不同类型的光学传感器的通用型仪表盘或显示装置的发展,它们也被合起来称作单独的一类仪器——功率和能量计,或PEM。仪器所采用的光学传感器的类型,决定了其能测量光功率还是光能量,通常单位分别瓦特(W)或焦耳(J)。具体来讲,功率计能够测量连续波(CW)或者重复脉冲光源,其所使用的传感器通常是热电堆或光电二极管。能量计则通常用于测量脉冲激光,即单脉冲或者重复脉冲光源,其所使用的传感器包括热释电、热电堆,或者带有专门为测量脉冲光源而设计的电路的光电二极管。 系统配置
一些制造商将功率或能量计分为具有控制和示值读数功能的测量部分(或仪表盘)和传感器部分(也称为探测器或探头),两者结合在一起就组成一套“测量系统”。另一些厂商将这两者统称为测量仪。无论哪种分类方式,传感器都存储有校准信息,仪表盘则测量传感器的输出电流,并参考校准表来输出数据。
在某些配置中,仪表盘会作为探测器与用户之间的接口,通过RS-232或者USB连接方式直接向电脑传输测量数据,在这种情况下,显示装置就不再是必需的了。测量数据可能包括功率、差值、总和、线性、对数值和几个通道同时衰减的曲线。大部分PEM仪表盘是数字式的,但是对于功率只有小幅波动的应用而言,模拟式测试仪就足以胜任了。
传感器的选择比较复杂。目前市场上应用的三种主要传感器类型有:光电二极管、热传感器和热释电传感器。光电二极管传感器由光电二极管和ND)滤光片组成,以确保入射到探测器上的功率能够保证传感器线性工作,其中光电二极管通常选用硅(Si)、锗(Ge)或铟砷化镓等材料,每种光电二极管具有不同的峰值波长和响应范围。每个光电二极管在不同的波长处具有不同的响应度。响应度的单位是A/W,代表了传感器将入射光转换为电流的效率。具有快速响应时间的传感器对波长敏感,因此较为适用于测量低功率激光。
热传感器通过将入射光转换成热能来测量功率或能量。热传感器在186nm~10.6μm的波长范围内具有平坦的光谱响应,因此其适用于多波长或者非单色光的测量。光电二极管也可以测量紫外(UV)到红外(IR)波段的波长,但是其在不同波长处具有不同的响应度,因此必须将激光波长输入测量仪以获得正确的读数。在1800 nm或更长的波长处,热探测器通常是唯一的选择。热传感器可以承受高功率激光,但是如果功率变化范围较大的话,则需要几秒钟才能达到平衡。由于不像光电二极管那样灵敏,因此热传感器不适合用于低功率测量。
热释电传感器通过将光脉冲能量转换成电压信号来测量脉冲能量。热释电传感器能响应较宽的波长范围,但是其响应曲线不如热传感器那么平坦。热释电传感器只能测量脉冲光源,并有最小带宽要求以使传感器能够“看到”脉冲。
目前市场上的许多功率和能量计都兼容这三类传感器(见图1)。如果将通用型仪表盘和功率传感器一起使用,这套装置就是功率计;如果将通用型仪表盘和能量传感器一起使用,这套装置就是能量计。 选择何种传感器?
这部分内容将介绍哪些类型的传感器可用于测量功率,哪些可用于测量能量,以及它们的测量范围。用于测量功率的热电堆探测器往往面积较大,具有较高的损伤阈值,功率测量范围从毫瓦到千瓦。基于半导体的光电二极管探测器不但体积较小,而且灵敏度高,功率测量范围从皮瓦到毫瓦。
这三种类型的探测器都可用于测量能量。热电堆探测器是毫秒(ms)量级单脉冲测量、或者每个脉冲能量达几焦耳的高能量光束测量的理想选择。热释电探测器比较适合短脉冲(脉宽从fs到ms)和宽能量范围(从50nJ到焦耳量级)的测量。光电探测器则适合测量低能量(从fJ到mJ量级)的短脉冲(脉宽从fs到ms)。每个探头和仪器模块的关键指标的性能范围有较大差异,用户在选择之前,可以要提前与产品专家了解具体情况。
光电二极管探测器可与积分球一起使用,以获得对光源的均匀和准确测量。Lasermet公司带有积分球的光电二极管探头,通常能够测量的功率小至1μW;紧凑型探头能够测量的功率小至1nW,光束可以直接照射到这种光电二极管上(见图2)。热探头通常可以测量的功率低至1mW。 选择何种传感器? 这部分内容将介绍哪些类型的传感器可用于测量功率,哪些可用于测量能量,以及它们的测量范围。用于测量功率的热电堆探测器往往面积较大,具有较高的损伤阈值,功率测量范围从毫瓦到千瓦。基于半导体的光电二极管探测器不但体积较小,而且灵敏度高,功率测量范围从皮瓦到毫瓦。
这三种类型的探测器都可用于测量能量。热电堆探测器是毫秒(ms)量级单脉冲测量、或者每个脉冲能量达几焦耳的高能量光束测量的理想选择。热释电探测器比较适合短脉冲(脉宽从fs到ms)和宽能量范围(从50nJ到焦耳量级)的测量。光电探测器则适合测量低能量(从fJ到mJ量级)的短脉冲(脉宽从fs到ms)。每个探头和仪器模块的关键指标的性能范围有较大差异,用户在选择之前,可以要提前与产品专家了解具体情况。
光电二极管探测器可与积分球一起使用,以获得对光源的均匀和准确测量。Lasermet公司带有积分球的光电二极管探头,通常能够测量的功率小至1μW;紧凑型探头能够测量的功率小至1nW,光束可以直接照射到这种光电二极管上(见图2)。热探头通常可以测量的功率低至1mW。 Juno是一种多功能紧凑型PEM,其与OSI公司的所有“智能型”热释电、热电堆和光电二极管传感器兼容。Juno的波长测量范围从紫外到远红外,能量测量范围从100fJ到几百焦,功率测量范围从10pW到10kW,光源的重复频率可高达10kHz。Juno通过USB接口将笔记本或台式电脑转换成一个激光PEM,是现场和实验室应用的理想选择,另外其也可作为内置的OEM传感器。 每种型号的探头和测量仪器的关键指标的工作范围相差巨大。选择的关键是要使激光器或光源的输出参数与探测器和仪器的指标相匹配,即测量仪器的指标应该覆盖激光器的输出参数。
权衡与取舍
选择PEM时需要进行许多权衡与取舍。例如,如果用户需要测量光束直径小的高功率激光,就需要具有高损伤阈值的探头。但是具有高损伤阈值的PEM的灵敏度并不高,所以无法用同一个探头读取极高和极低的功率。用于更高读数的能量探测器也会碰到同样的情况。此外,某些特定产品可以测量单个脉冲的高能量,但是它们只能在低重复频率下工作,不能在高功率下应用。因此,在实际应用中,用户需要根据具体情况进行一定的权衡。 虽然PEM已经出现了很长一段时间,但激光和太赫兹源技术的新进展,已经为光源测量创造了新的挑战,这些测量需要独特的传感器和仪器。自从高重复频率DPSS和光纤激光器出现以来,测量和控制重复频率为100kHz甚至更高频率的脉冲激光器的输出,曾一度让人们面临很大的困难。

该产品用于高功率激光功率的直接测量。仪器的大口径探测器可以对光束直径达Φ200mm的激光功率进行直接计量测试。
特别适用于经光学天线输出激光功率的测量以及在激光设备生产和使用现场对远场或大口径激光功率进行准确地测量。
产品特点
探测器采用的经特殊处理的接收面材料解决了抗激光破坏的问题
探测器光谱响应平坦可用于多种激光的测试
产品采用风冷设计,冷却无须水源,极大的扩展了使用范围,很好的方便了用户
技术指标
双 极 性:3位数字显示光谱范围 400nm-11um
校准波长:1064nm或10.6um
量程范围:600W
探测器光敏面直径:Φ200mm
小分辨率:1W
响应时间;≤3.0min
恢复时间;≤3.0min
可承受大激光峰值功率密度:6MW/cm2
不确定度:5%
电    源:AC 220V±10%, 50Hz±5%
大功耗:50W
外型尺寸:(L×W×H) 探测器 375mm×370mm×225mm
显 示 器:245mm×115mm×255mm
重量 探测器:≤16.0 kg
显 示 器:≤3.0 kg
可以根据用户需求订制个性化产品




    激功率计、能量计测试设备的研发和生产经验。其产品种类齐全;测试准确、使用方便,被广泛应用于科研、工业和医疗等各领域。

 


    光电探头


    光电二极管原理:光电二极管的核心部分是个PN 结,当在PN 结加上适当反向电压时,由于缺乏载流子, PN 结内无电流通过。当光子照射在PN 结上时,电子或空穴摆脱束缚,在PN 结内形成光生载流子,光生载流子在电场的作用下产生漂移而形成电流,电流的大小和入射光的能量成比例。


    热电堆探头


    热电堆原理:热电堆功率计就是利用当激光被探头表面的膜层吸收掉转化成热量,热量向热电偶传递并形成温度梯度场,热电堆探头内外两个节点由于温度差产生温差电动势,电动势的大小与入射光转化的热量成比例。


    热释电探头


    热释电原理:当某些晶体受热时,晶体就会产生极化现象,使晶体两端产生极化电荷,在晶体的两端镀上金属层,构成了一个电容器。则在温度梯度作用下,极化的电荷集结在电容器的两端,产生电压信号。电压信号与探测器膜层吸收光转化的热量形成的温度梯度成正比。热释电探头不适合探测连续或长脉宽的激光,因为电容器的存储的电荷容易饱和。


    BeamTrack


    BeamTrack 原理:BeamTrack 可以探测功率、能量中心的位置、光斑大小。BeamTrack 将由热电偶串连起来的热电堆再引出三个电极,从而可以分别得到四个象限的电压值,根据四个象限的电压信号,可以计算到能量中心在四个象限的位置。


    校准能力


    对于激光量测产品来讲,校准是较为重要。为了保证您激光测量设备的校准;从膜层吸收曲线上,我们可以了解到只校准一个波长是远远不够的。可以校准客户要求的波长或在要求波长附近给予高精度的校准。


    更进一步同时使用NIST 和PTB 可追溯的波长去核对校准曲线,必要时予以校正。除了校准波长这个因素外,同时还有许多有待校准的错误源。比如探头表面不同位置处的非线性的变化、脉冲频率对热释电探头的影响等。我们在校准的同时,考虑了所有的可能引起校准精度的因素。


    功率测量原理


    激光探头是一个涂有热电材料的吸收体,热电材料吸收大部分的光能量并转化成热量,只有少部分反射。吸收与反射比例与材料的光谱响应曲线有关,吸收体的储热体和它的厚度决定了热量传输到探头的速度和反应时间。探头温度变化,能够产生电流,电流通过薄片环形电阻转变成电压信号传输出来。


    激光入射,测得的电压随时间快递上升,然后在缓慢衰减,一段时间后恢复到零。这就是测量的热现象,上升和衰减时间不受负载电阻影响。


    最大电压与初使电压的差值就是测量电压,测量精度得到NIST校准授权。只要最大能量不超负荷,测量精度可以得到保证。

 


    功率计的标定


    功率计标定的目的,是校准自身测量精度,保证测量数值在功率计使用报告的误差范围内,从而保证功率计正常的使用精度。


    功率计标定采用第三方功率计来测量,根据出厂标定报告,采用不同的功率,在不损坏功率计的前提下,检验功率计实际标定的准确性和稳定性。







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