所谓激光粒度仪是专指通过颗粒的衍射或散射光的空间分布（散射谱）来分析颗粒大小的仪器。根据激光散射原理，颗粒大小不同，散射光能量随散射角度的分布也不同，此种分布称为散射谱。激光粒度仪就是通过检测颗粒群的散射谱反演颗粒大小及其分布的。
1、为什麽散射/衍射激光粒度仪必须采用激光作光源
激光粒度仪是通过检测颗粒的散射谱来分析颗粒大小与分布的，因此能否获得清晰的散射谱至关重要，激光是一种准直性，单色性良好的光源，只有采用激光才能在散射/衍射粒度仪器中得到清晰的散射谱分布。用多种波长混合的光源不可能获得清晰的散射谱，只能获得多种散射谱的叠加，因此不能用于粒度仪。
在多种激光器中半导体激光与气体激光相比，气体光源波长短，线宽窄，单色性好，稳定性远优于半导体光源。因此微纳与大多数专业公司选用了气体激光器作为测量光源。
2、激光粒度仪与其他方法相比有什么优势？
激光粒度仪的光路实际是一个二维傅立叶变换器，因此具有傅立叶变换的许多特点：1、所有颗粒的散射信息是以光速并行传输到达光电探测器的，因此速度快无与伦比；2、探测器可以做的非常窄大约几个微米，因此分辨率非常高；3、测试过程颗粒散射不会受到人为因素的干扰，因此测试重复性超群；4、根据傅立叶变换的平移不变性，颗粒在样品池中的运动速度不会影响频谱分布，因此适用于动态颗粒的测试，这是其他粒度测试方法所无法比拟的，这成为了颗粒在线测试理论依据。
3、激光粒度仪测量下限是多少？
激光粒度仪测量粒度的原理是MIE散射理论。 MIE散射理论用数学语言精确描述了折射率为n、吸收率为m的特定物质的，粒径为d球型颗粒，在波长为λ单色光照射下，散射光强度随散射角θ变化的空间分布函数，此函数也称为散射谱。根据MIE散射理论可以看出颗粒越大，前向散射越强而后向散射越弱；随着颗粒粒径的减小，前向散射迅速减弱而后向散射逐渐增强。激光粒度仪正是通过设置在不同散射角度的光电探测器阵列，测试颗粒的散射谱，由此确定颗粒粒径的大小。这种散射谱对于特定颗粒在空间具有稳定分布的特征，因此称此种原理的仪器为静态激光粒度仪。
但是当颗粒粒径小到一定的程度dm，与另一种更小颗粒dm-δ相比，如果二种颗粒的散射谱非常相似，以至不能被光电探测器阵列所分辨，就认为达到了激光粒度仪的测量极限，此粒径dm就是激光粒度仪的测量下限。
此极限还与激光波长有关，研究表明红光635nm波长的激光测量极限为50纳米，而蓝光405nm波长的激光测量理论极限为20nm。
理论上，静态激光粒度仪欲分辨纳米级的颗粒至少需要二个条件：1、具有测量后向散射的光电探测器阵列，2、需要用波长更短的激光器。在可见光的范围内，20nm是静态激光粒度仪的理论测量下限。
激光粒度仪是根据颗粒能使激光产生散射这一物理现象测试粒度分布的。
由于激光具有很好的单色性和极强的方向性，所以在没有阻碍的无限空间中激光将会照射到无穷远的地方，并且在传播过程中很少有发散的现象。
激光粒度仪的光路由发射、接受和测量窗口等三部分组成。
发射部分由光源和光束处理器件组成，主要是为仪器提供单色的平行光作为照明光。
接收器是仪器光学结构的关键。测量窗口主要是让被测样品在完全分散的悬浮状态下通过测量区，以便仪器获得样品的粒度信息。
激光粒度仪系列产品采用全程米氏理论和多种分布模型的数据处理方式，使该仪器具有准确可靠、测试速度快、重复性好、操作简便等突出特点。
下面介绍下仪器的日常维护：
在日常存放和使用仪器时，以下几点都是必须做到的：
1、仪器的全套设备不论是否处于工作状态，都应放置在清洁干燥的环境中。
2、粒度仪的全套设备不用时应盖上致密的防尘布。
3、当测完一种样品，必须取下进样料斗，让仪器自动执行清洗料仓程序，确保下一种样品的测量的可靠性。
并且用毛刷清除进样料斗上的残余样品。
4、粒度仪测量单元连续开机时间不宜超过5小时。
5、空气压缩机应参照说明书定期更换机油。
6、吸尘器收到的测试废料要定期清理。或当仪器指示负压不足时，必须清理。
7、计算机关机必须按规定的步骤进行，切不可贸然关断电源，否则可能造成难以弥补的损失。
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