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测厚仪使用及选购指南 如何挑选购买测厚仪

时间:2020-08-12    来源:仪多多仪器网    作者:仪多多商城     
测厚仪的测试方法主要有:磁性测厚法,放射测厚法,电解测厚法,涡流测厚法,超声波测厚法。 在做测厚的时候要注意以下八点: 1.在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。 2.在测量的时候要注意,侧头与试样表面保持垂直。 3在进行测试的时候要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。 4.在测量的时候要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。 5.测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。 6. 测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。 7.在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。 8.在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。 二、超声波测厚仪主要功能 1、超声波测厚仪适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度; 2、可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的探头使用; 3、具有探头零点校准、两点校准功能, 可对系统误差进行自动修正; 4、已知厚度可以反测声速,以提高测量精度; 5、具有单点测厚和扫描测厚两种测厚工作模式; 6、可预先设置厚度值上、下限,超出范围自动报警; 7、具有耦合状态提示功能; 8、有EL背光显示,方便在光线昏暗环境中使用; 9、有剩余电量指示功能,可实时显示电池剩余电量; 10、 超声波测厚仪具有自动休眠、自动关机等节电功能; 11、带有RS232接口,可以方便、快捷地与PC机进行数据交换和参数设定。可以连接到微型打印机(厂家指定型号)打印测量报告。 12、 可选择配备微机软件,具有传输测量结果、测值存储管理、测值统计分析、打印测值报告等丰富功能; 13、 超声波测厚仪密封的金属外壳,小巧、便携、可靠性高,适用于恶劣的操作环境,抗振动、冲击和电磁干扰; 超声波测厚仪在测量前要做二点校准和零点校准,二点校准就是把标准膜片放在金属基片上测试,如果在允许误差就不需要进行二点测 试,如果误差很大校准结束后在测试标准片,直到显示的数据正常为止。零点校准就是将机器打开调到零点校准的模式,在被测工件上 测试然后完成就可以。
测厚仪的具体操作步骤

  使用前应熟读说明书,了解仪器的性能特点,熟悉仪器各控制开关旋钮的位置、作用及其调整方法,以便于调节仪器、探测并记录。  一、具体操作步骤如下:  1、连接探头:将探头连接电缆上的插头插入仪器上部的插座中;  2、表面处理:待检材料的表面应用除锈剂,钢丝刷、砂纸或弹性磨光片等方式进行处理平整,平整度达到0.1mm左右;  3、涂敷耦合剂:耦合剂有机油、化学浆糊、甘油、水玻璃、黄油等,不允许以水作为耦合剂;  4、开机:按仪器说明书正确开机。按住仪器启动按钮,直到显示屏上显示(0000.0)为止,规格型号不同的测厚仪器显示的数字有可能不同;  5、校准:按照测厚仪说明书在配套试块上校准仪器。把涂有耦合剂的探头压在试块上,调整按钮直至仪器显示试块厚度的正确数值;使用过程中每隔一小时应重新校对一次,复校的误差大于0.3mm时,必须重新调整;  6、不同的材料应选择对应声速,并按照仪器说明书调整声速;  7、厚度测试:将探头压在涂有耦合剂的材料表面,探头与材料表面应进行有效耦合,显示屏读数稳定后的数值为材料的测量厚度;  8、测量方式分为:一般测量方式、精确测量方式、连续测量方式。  ①一般测量方式:分为单点测量方式(测量一点的厚度);多点测量方式(在一点处进行两次测量,探头仔同一点上分别以0?和90?进行测量,取较小厚度值);Ф30多点测量方式(在直径为30mm的圆内进行多点测量,取最小读数为厚度值);  ②精确测量法:在规定的测量点周围增加测量数目,厚度值的变化用等厚线来表示;  ③用单点测量方式以5mm或更小的间距沿指定的路线连续测量。

标签: 测厚仪
测厚仪 测厚仪的具体操作步骤_测厚仪
关于涂层测厚仪的选型

    涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

 

    选型方法

    用户可以根据测量的需要选用不同的测厚仪,磁性测厚仪和涡流测厚仪一般测量的厚度适用0-5毫米,这类仪器又分探头与主机一体型,探头与主机分离型,前者操作便捷,后者适用于测非平面的外形。

    更厚的致密材质材料要用超声波测厚仪来测,测量的厚度可以达到0.7-250毫米。电解法测厚仪适合测量很细的线上面电镀的金,银等金属的厚度。

    两用型

    仪器由德国生产,集合了磁性测厚仪和涡流测厚仪两种仪器的功能,可用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。

    如:

    钢铁上的铜、铬、锌等电镀层或油漆、涂料、搪瓷等涂层厚度。

    铝、镁材料上阳极氧化膜的厚度。

    铜、铝、镁、锌等非铁金属材料上的涂层厚度。

    铝、铜、金等箔带材及纸张、塑料膜的厚度。

    各种钢铁及非铁金属材料上热喷涂层的厚度。

    仪器符合国家标准GB/T4956和GB/T4957,可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。

    仪器特点

    采用双功能内置式探头,自动识别铁基或非铁基体材料,并选择相应的测量方式进行精确测量。

    符合人体工程学设计的双显示屏结构,可以在任何测量位置读取测量数据。

    采用手机菜单式功能选择方式,操作十分简便。

    可设定上下限值,测量结果超出或符合上下限数值时,仪器会发出相应的声音或闪烁灯提示。

    稳定性极高,通常不必校正便可长期使用。

    技术规格

    量 程: 0~2000μm ,

    电 源: 两节5号电池

    标准配置

    常规型

    对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关国家和国际标准中称为覆层(coating)。

    覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。

    覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。

    这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。

    X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。

    β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

    随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。

    测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。

    采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。

    涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

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