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涂镀层测厚仪根据测量原理一般分为哪几类 测厚仪技术指标

时间:2020-08-19    来源:仪多多仪器网    作者:仪多多商城     

涂镀层测厚仪根据测量原理一般分为以下五种类型: 
1.磁性测厚法:用于导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢铁银镍.此种方法测量精度高 2.涡流测厚法:用于导电金属上的非导电层厚度测量.此种方法较磁性测厚法精度低 
3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,一般用于多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵测量精度也不高. 
4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦 
5.放射测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合. 
国内目前使用为普遍的是第12两种方法。   【导读】超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播



    超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

    超声波测厚仪使用注意事项

    1.电源电压低时,在液晶屏幕左侧显示低电压符号,此时为了保证仪器的正常测量使用,请您及时更换电池

    2.在不需要背光的时候,尽量不要长时间开启背光,以免过快消耗电池的电量。

    3.传感器表面为丙烯树脂,对粗糙表面的重划很敏感,因此在使用中尽量轻按。

    4.在测量以后尽量及时将传感器表面的耦合剂和标准试块,被测物体表面的耦合剂清理干净。

    5.被测物体表面温度不超过60度,以免导致传感器不能正常测量。

    6.仪器长时间不使用时应将电池取出,以免电池漏液导致仪器损坏。

    7.尽量避免油污,潮湿,碰撞。

    8.插拔传感器时,应捏住活动外套沿轴线用力,不可旋转传感器头部,以免损坏传感器电缆线芯。

    耦合剂应用:

    因根据使用情况选择合适的种类,当使用在光滑材料表面时,可以使用低粘度的耦合剂;当使用在粗糙表面、垂直表面及顶表面时,应使用粘度高的耦合剂。高温工件应选用高温耦合剂。

    其次,耦合剂应适量使用,涂抹均匀,一般应将耦合剂涂在被测材料的表面,但当超声波测厚仪测量温度较高时,耦合剂应涂在探头上。

    超声波测厚仪使用技巧

    1.在一点处用探头进行两次测厚,在两次测量中探头的分割面要互为90°,取较小值为被测工件厚度值。

    2.30mm多点测量法:当测量值不稳定时,以一个测定点为中心,在直径约为30mm的圆内进行多次测量,取小值为被测工件厚度值。

    超声波测厚仪精确测量法:

    在规定的测量点周围增加测量数目,厚度变化用等厚线表示。

    超声波测厚仪连续测量法:

    用单点测量法沿指定路线连续测量,间隔不大于5mm。





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即使相同的涂层测厚仪,不同的人或对不同种类、状态基材上的相同涂层测量出来的数据也可能会存在较大差别,这是因为测量人员因素、测量漆膜的基体材质、厚度、表面状况以及测量位置等造成的。使用涂层测厚仪,要注意以下几点:

使用前应仔细阅读仪器使用说明书

不同厂家、不同品牌的仪器在结构、按键、校准等方面各不相同,因此使用前必须先仔细阅读仪器的使用说明书,避免误操作造成测量数据的错误。

注意金属基体材质

不同金属基体材料的磁性、导电率是不相同的,这都会对测量结果造成影响[9]。采用磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准,亦可用待涂覆试件进行校准。由于基体金属的成分及热处理方法不同,导致其电导率不同,因此应使用与被检测试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

注意检测试件形状

在实际生产中,工件的材料厚度、形状、表面粗糙度等存在差异,这些差异会对实际测量结果造成影响。每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度,大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响,如果试件材料厚度小于仪器所要求的临界厚度,检测结果就会与实际厚度有差别。一些仪器对试件表面形状的陡变十分敏感,因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量的数值会不可靠,实际测量时应选择远离边缘和内转角的部位。试件表面不仅存在形状的陡变,还可能存在不同的曲率,一些仪器的测量结果总是随着曲率半径的减小明显地增大。因此,即使在选择仪器时考虑了最小曲率半径,测量时仍应尽可能选择在平面部位进行测量。

以上也是在选择测厚仪器时需要考虑最小曲率半径、最小测量面积、最小基体厚度的原因。



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