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涂层测厚仪分为哪几种 测厚仪如何做好保养

时间:2020-08-28    来源:仪多多仪器网    作者:仪多多商城     
  惠州市华高仪器镀层测厚仪

  涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:

  
1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢,铁,银,镍。此种方法测量精度高。

  
2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。

  
3.超声波测厚法:适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵,测量精度也不高。

  
4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层,一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。

  
5.放射测厚法:此处仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。
国内目前使用为普遍的是第1/2两种方法。
惠州华高仪器的PD-CT2涂镀层测厚仪几个微米的镀层都可以准确测量,并且质保三年。

我们常说的涂层测厚仪一般值磁性和涡流原理的测厚仪,又分为分体式和一体式,分体式指的磁性F探头和非磁性N型探头是和主机分开的,用插头链接,用磁性测量铁基材料,把F探头插入,非磁性的铝基材料用N型探头插入,这样的主机和探头分开保证了探测量不受主机的电磁场干扰,精度高,国内的中科朴道PD-CT2涂层测厚仪误差0.5微米。
分体式涂层测厚仪探头嵌入主机,有的是F和N探头都嵌入一起,这样优点是方便携带,缺点是精度不高,误差大,适合测量油漆,防火层等厚涂层。

便宜的涂层测厚仪精度,做工,质量都达不到好的标准。



    1、附着物质的影响。

    本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质,以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统校准时,选择的基体的表面也必须是裸露的、光滑的。

    2、强磁场的干扰。

    我们曾做过一个简单实验,当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时,测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。

    3、人为因素。

    这中情况经常会发生在新用户的身上。涂层测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化,并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体,使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时,要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响,在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长,以免造成基体本身磁场的干扰。

    4、在系统校准时没有选择合适的基体。

    基体小平面为7mm,小厚度为0.2mm,低于此临界条件测量是不可靠的。

    5、仪器发生故障,此时可以和技术人员交流或者返厂维修。






超声波测厚仪的原理介绍

    超声波测厚仪是采用新的高性能、低功耗微处理器技术,基于超声波测量原理,可以测量金属及其它多种材料的厚度,并可以对材料的声速进行测量。

    可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度,也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。

    本测厚仪采用脉冲反射超声波测量原理,适用于超声波能以一恒定速度在其内部传播,并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。

    此仪器可对各种板材和各种加工零件作精确测量。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。

    注意事项

    a.电源电压低时,在液晶屏幕左侧显示低电压符号,此时为了保证仪器的正常测量使用,请您及时更换电池

    b.在不需要背光的时候,尽量不要长时间开启背光,以免过快消耗电池的电量。

    c.传感器表面为丙烯树脂,对粗糙表面的重划很敏感,因此在使用中尽量轻按。

    d.在测量以后尽量及时将传感器表面的耦合剂和标准试块,被测物体表面的耦合剂清理干净。

    e.被测物体表面温度不超过60度,以免导致传感器不能正常测量。

    f.仪器长时间不使用时应将电池取出,以免电池漏液导致仪器损坏。

    g.尽量避免油污,潮湿,碰撞。

    h.插拔传感器时,应捏住活动外套沿轴线用力,不可旋转传感器头部,以免损坏传感器电缆线芯。

    工作原理

    超声波测厚仪主要有主机和探头两部分组成。

    主机电路包括发射电路、接收电路、计数显示电路三部分,由发射电路产生的高压冲击波激励探头;

    产生超声发射脉冲波,脉冲波经介质介面反射后被接收电路接收,通过单片机计数处理后,经液晶显示器显示厚度数值;

    它主要根据声波在试样中的传播速度乘以通过试样的时间的一半而得到试样的厚度。

    超声波测厚仪,在采用国内外先进技术的基础上,运用单片机技术研制 的一种低功耗低下限袖珍式的智能测量仪器,采用高精度计时芯片,测量分辨率达到0.001mm。

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