涂镀层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度。
位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变；
该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。
利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂层厚度。
涂镀层测厚仪具有两种测量方式：
连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（APPL）；
设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）
可进行零点校准和二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
1.具有存贮功能：
可存贮300个测量值；
2.具有删除功能：
对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除涂层测厚仪存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
3.可设置限界：
对限界外的测量值能自动报警；
4.具有与PC机通讯的功能：
可将测量值、统计值传输至PC机，以便涂层测厚仪对数据进行进一步处理；
5.具有电源欠压指示功能；
操作过程有蜂鸣声提示；具有错误提示功能；具有自动关机功能。
标签: 涂镀层测厚仪 涂镀层测厚仪 涂镀层测厚仪的测量是怎样的呢？_涂镀层测厚仪 镀层测厚仪操作方法使用镀层测厚仪与使用其他仪器一样，既要掌握仪器性能，也需了解测试条件。沧州欧谱使用磁性原理和涡流原理的镀层测厚仪都是基于被测基体的电、磁特性及与探头的距离来测量覆层厚度的，所以，被测基体的电磁物理特性与物理尺寸都要影响磁通与电涡流的大小。即影响到测量值的可靠性，下面就这方面的问题作一下介绍。
1.边界间距如果探头与被测体边界、孔眼、空腔、其他截面变化处的间距小于规定的边界间距，由于磁通或涡流载体截面不够将导致测量误差。如必须测量该点的覆层厚度，只有预先在相同条件的无覆层表面进行校准，才能测量。(注：较新的产品有透过覆层校准的独特功能可达3～10%的精度)
2.基体表面曲率在一个平直的对比试样上校准好一个初始值，然后在测量覆层厚度后减去这个初始值。或参照下条。
3.基体金属最小厚度基体金属必须有一个给定的最小厚度，使探头的电磁场能完全包容在基体金属中，最小厚度与测量器的性能及金属基体的性质有关，在这个厚度之上刚好可以进行测量而不用对测量值修正。对于基体厚度不够而产生的影响，可以采取在基材下面紧贴一块相同材料的措施予以消除。如难以决断，或无法加基材则可以通过与已知覆层厚度的试样进行对比来确定与额定值的差值。并且在测量中考虑这点而对测量值作相应的修正或参考第2条修正。而那些可以标定的仪器通过调整旋钮或按键，便可以得到准确的直读厚度值。反之利用厚度太小产生的影响又可以研制直接测铜箔厚度的测厚仪，如前所述。
4.表面粗糙度和表面清洁度在粗糙度表面上为获得一个有代表性的平均测量值必须进行多次测量才行。显而易见，不论是基体或是覆层，越粗糙，测量值越不可靠。为获得可靠的数据，基体的平均粗糙度Ra应小于覆层厚度的5%。而对于表面杂质，则应予去除。有的仪表上下限，以剔除那些“飞点”。
5.探头测量板的作用力探头测量时的作用力应是恒定的。并应尽可能小。才不致使软的覆层发生形变，以致测量值下降。活产生大的波动，必要时，可在两者之间垫一层硬的，不导电的，具有一定厚度的硬性薄膜。这样通过减去薄膜厚度就能适当地得到剩磁。
6.外界恒磁场、电磁场和基体剩磁应该避免在有干扰作用的外界磁场附近进行测量。残存的剩磁，根据检测器的性能可能导致或多或少的测量误差，但是如结构钢，深冲成形钢板等一般不会出现上述现象。
7.覆层材料中的铁磁成份和导电成份覆层中存在某些铁磁成分，如某种颜料时，会对测量值产生影响，在这种情况下，对用作校准的对比试样覆层应具有与被测物覆层相同的电磁特性，经校准后使用。使用的方法可以是将同样的覆层涂在铝或铜板试样上，用电涡流法测试后获得对比标准试样。
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