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尼克斯测厚仪采样技术 如何挑选购买测厚仪

时间:2020-09-10    来源:仪多多仪器网    作者:仪多多商城     

尼克斯测厚仪采样技术:
使得测量重复性较传统交流技术有无可比拟的优越和提高。

 

尼克斯测厚仪零位稳定:
所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位,可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。一台好的测厚仪校零后,可以长时间保持零位不漂移,确保准确测量。

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尼克斯测厚仪无需校准:
多数测厚仪除了校零外,还需要用标准片进行调校。测量某一范围厚度,要用某一范围的标准片调校。主要是不能满足全范围内的线性精度。不仅操作烦琐,而且也会因标准片表面粗糙失效,增大系统误差。

 

尼克斯测厚仪温度补偿:
涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术,以保证不同温度下的测量精度。

 

尼克斯测厚仪用途:
该产品测量钢铁等磁性金属基体上的非磁性涂层、镀层、氧化层,如油漆、粉末、塑料、橡胶、锌、铬、铝、锡等。

 

参数:
■用于QNIX4200涂镀层测厚仪型。
■测量范围: 0-3000um。
■测量精度:0-50um≤±1um,50-1000um≤±1.5/100,1000-3000um≤±2/100。
■zui小测量面积: 10x10mm。
■zui小曲率: 凸半径 5mm。
■凹半径 25mm。
■zui小基材厚度:0.2mm。
■温度范围: 0-60度。
■显示: LCD。
■供电形式: 2个1.5V电池。
■体积: 100X60X27mm。
■重量: 约110克。

 

红宝石探头:
探头接触点的耐磨性直接影响测量的精度。普通金属接触探头,其表面磨损后会带来很大的误差。

 

 

基本配置:
★主机:1
★标准片一套(50um 100um 200um 500um 1000um) 1
★铁基体和铝基体 1
★AAA型(7号)1.5V电池 2
★仪器保护套 。

 

简介:

是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。

 

参数:
★测头类型: F/ N。
★测量原理: 磁感应/电涡流。
★测量范围: 0-1250um/0-40um(铜上镀铬)。
★探头连接方式: 一体化。
★示值误差: 一点校准(um) ±[3%H+1]/ ±[3%H+1.5]。
★两点校准(um) :±[(1~3)%H+1]/ ±[(1%~3%)H+1.5]。
★测量条件 :zui小曲率半径(mm) 凸1.5 凹9/凸3 凹10。
★基体zui小面积的直径(mm): ф7/ф5。
★zui小临界厚度(mm) :0.5/0.3。
★湿度:0~40℃。
★工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)。
★测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。
★上下限设置 :有。
★存储能力 :500 个测量值。
★打印/连接计算机: 可选配打印机/不能连接电脑。
★关机方式 :手动和自动。
★电源 :二节AAA型(7号)1.5V电池。
★外形尺寸: 110×50×23mm。
★重量:100g。



    漆膜测厚仪是具有广泛使用范围的磁性和非磁性及两用仪器。其技术参数完全符合国家标准。


    涂层磁性非磁性双用测厚仪。


    双功能技术的测厚仪,完成磁感应和电涡流测量自动转换


    应用双功能测量技术,能够自动识别磁性或非磁性底材,然后采用相应的测试方法,适用于各种测量环境。可测量非磁性底材上的非导电性涂层和磁性底材上的非磁性涂层的厚度。

 


    漆膜测厚仪功能:


    采用了磁感应测厚方法,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度;


    可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;


    操作过程有蜂鸣声提示;


    电池电压指示:低电压提示


    自动关机


    测量方法:F 磁感应


    漆膜测厚仪附件:


    基准片4片: 50um 、100um、 250um 、500um(选配:12um、25um)


    基体1块


    电池2块


    说明书1份


    保修卡1张


    漆膜测厚仪保修条款:


    本仪器自售出之日起一个月内,如发生性能故障,产品本身及包装完好无划伤,可更换同型号产品(人为损伤除外)。


    产品自售出之日起保修一年,终身维护。但配件不在保修范围内。


    保修服务只限正常使用下有效。


    保修期间由我公司提供邮寄费。


    漆膜测厚仪技术参数:


    测量范围:0~1250um (标准量程)


    分辨率:0.1/1


    小曲面:F: 凸 5mm/ 凹 5mm


    小测量面积:10mm


    薄基底:0.3mm


    使用环境:温度:0-40℃ 湿度:10-85%RH


    准确度:±(1.5~3%h)或±2um


    公制/英制:可转换


    电源:2节5号电池


    重量:99g(含电池)


    漆膜测厚仪是具有广泛使用范围的磁性仪器。其技术参数完全符合国家标准。


    是磁性便携式覆层测厚仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。


    Fe质探针可检测所有非磁性涂层厚度,例如涂在钢、铁上的漆、粉末涂层、塑料、瓷、铬、铜、锌等。


    NFe质探针检测所有绝缘涂层厚度,例如漆、塑料、瓷等。这些涂层须涂在诸如铝、铜、黄铜或不锈钢等非磁性金属基体上。(一体化传感器涂层测厚仪


    优点:


    测量速度快:测量速度比其它TT系列快6倍;


    精度高 :本公司产品简单校0后精度即可达到1-2%是目前市场上能达到A级的产品,其精度远高于时代等国内同类.比EPK等进口产品精度也高;


    稳定性:测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品;


    功能、数据、操作、显示全部是中文。


    功能特点:


    采用了磁性测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)。


    参数:


    测头类型:F。


    测量原理:磁感应。


    测量范围:0-1250um。


    低限分辨力:1?m(10um以下为0.1um)。


    探头连接方式:一体化。


    示值误差:一点校准(um)±[3%H 1]。


    两点校准(um): ±[(1~3)%H 1]。


    测量条件:zui小曲率半径(mm) 凸 1.5 凹9。


    基体zui小面积的直径(mm):ф7。


    zui小临界厚度(mm):0.5。


    温湿度:0~40℃,20%RH~90%RH。


    统计功能:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO.)、


    标准偏差(S.DEV)。


    工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)。


    测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)上下限设置。


    存储能力:15 个测量值。


    打印/连接计算机:可选配打印机/不能连接电脑。


    关机方式:自动。


    电源:二节3.6V镍镉电池。


    外形尺寸:150×55.5×23mm。


    重量:150g。


    基本配置:主机。


    标准片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)。


    铁基体。


    充电器。


    可选附件。


    TA230打印机。


    基本原理:


    本仪器采用了磁性测厚法,可无损伤地测量磁性金属基体上的非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、非奥氏体不锈钢基体上的铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆镀层)。  基本工作原理是:当测头与覆盖层接触时。测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可计算覆层的厚度。


    漆膜测厚仪是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。


    可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。


    本仪器符合以下标准: GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》。





涂层测厚仪采用了磁性和涡流测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属体。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。 影响涂层测厚仪测量的因素有哪些? 1、基体金属磁性 磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)。为了避免热处理、冷加工等因素的影响,应使用与试件金属具有相同性质的铁基片对仪器进行校准。 2、基体金属厚度 每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。 3、边缘效应 本仪器对试片表面形状的陡变敏感。因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。 4、曲率 试件的曲率对测量有影响,这种影响总是随着曲率半径的减小明显地增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。 5、表面粗糙度 基体金属和覆盖层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差。每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试片上取几个位置校对仪器的零点;或用没有腐蚀性的溶液除去基体金属覆盖层,在校对仪器的零点。 6、磁场 周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测量厚度的工作。 7、探头压力和位置 探头置于试件上施加的压力的大小会影响测量的读数。因此本仪器探头用弹簧保持一个基本恒定的压力。在测量中,应当使探头与试样表面保持垂直。 8、读数次数

通常仪器的每次读数并不完全相同。因此必须在每一测量面积内取几个读数,覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量。表面粗糙是更应如此。



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