尼克斯测厚仪参数 测厚仪如何操作

尼克斯测厚仪参数：
■用于QNIX4200涂镀层测厚仪型。
■测量范围: 0-3000um。
■测量精度:0-50um≤±1um,50-1000um≤±1.5/100,1000-3000um≤±2/100。
■zui小测量面积: 10x10mm。
■zui小曲率: 凸半径 5mm。
■凹半径 25mm。
■zui小基材厚度:0.2mm。
■温度范围: 0-60度。
■显示: LCD。
■供电形式: 2个1.5V电池。
■体积: 100X60X27mm。
■重量: 约110克。

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尼克斯测厚仪红宝石探头：
探头接触点的耐磨性直接影响测量的精度。普通金属接触探头，其表面磨损后会带来很大的误差。

尼克斯测厚仪采样技术：
使得测量重复性较传统交流技术有无可比拟的优越和提高。

尼克斯测厚仪零位稳定：
所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位，可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。一台好的测厚仪校零后，可以长时间保持零位不漂移，确保准确测量。

尼克斯测厚仪无需校准：
多数测厚仪除了校零外，还需要用标准片进行调校。测量某一范围厚度，要用某一范围的标准片调校。主要是不能满足全范围内的线性精度。不仅操作烦琐，而且也会因标准片表面粗糙失效，增大系统误差。

尼克斯测厚仪温度补偿：
涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术，以保证不同温度下的测量精度。

尼克斯测厚仪用途：
该产品测量钢铁等磁性金属基体上的非磁性涂层、镀层、氧化层，如油漆、粉末、塑料、橡胶、锌、铬、铝、锡等。

功能：
▲具有自动关机功能。
▲操作过程有蜂鸣声提示。
▲有欠压指示功能。
▲有错误提示功能。
▲可进行零点校准及全量程校准。
▲红宝石防磨探头。
▲可对探头进行基本校准。

参数：
▲测量原理：磁性法
▲测量范围：1～1250μm
▲测量准确度：±[（1～3）%H 1] μm（全量程校准）
▲分辨率：1μm
▲工件要求：zui小曲率半径（mm）凸5 / 凹 10 ；
▲接触zui小面积直径10（mm） ；
▲基体临街厚度（mm） 0.3
▲使用环境：温度 0-40摄氏度；
▲湿度 20%-75% ； 无磁场环境
▲电源：四节1.5伏AAA电池
▲外形尺寸：112 ×69×28mm
▲重量：82 g（不含电池）

简介：
该仪器采用了磁感应测厚法，是一种超小型测量仪，可无损地测量磁性金属基体（ 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 ）上非磁性覆盖层的厚度（如铝、铬、铜、锌、锡、珐琅、橡胶、塑料、油漆等）可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量；该仪器坚固耐用、用途广泛，可单手操作。

特点：
仪器小型紧凑、坚固耐用、用途广泛，可单手操作。该设计便携耐用，使其能在苛刻条件下正常使用。所有测厚仪具有先进的一键操作功能，无须校准，也不用重设即可进行下一次测量，无需对操作人员进行培训即可操作。

配置：
主机（内置探头）、标准片组、七号电池、操作指南、铁基底材、挂绳、仪器箱等。

 涂层测厚仪 影响测量精度的因素说明

a)基体金属磁性质

    磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。

 b)基体金属电性质

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

c)基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。

  d)边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

  e)曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

  f)试件的变形

    测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

   g)表面粗糙度

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

    g)磁场

    周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

    h)附着物质

本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

 i)测头压力

测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

    j)测头的取向

测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。

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