HS810是一款基于超声衍射时差法研发的TOFD检测仪器，是目前资格取证的主用仪器（特种行业TOFDⅡ级人员资质培训考核样板机），可支持3对TOFD探伤通道，可配置3对TOFD探头（可扩展），支持对厚度为12mm-200m工件的进行一次性全覆盖扫查。对于平板或对接焊缝中部缺陷检出率很高，容易检出方向性不好的缺陷，可以识别向表面延伸的缺陷。
一、功能特点
1、集A扫、B扫成像、TOFD成像、导波成像等多能一体；
2、独有合成孔径聚焦（SAFT）技术；
3、内置现场检测工艺模型，自动生成检测工艺；
4、便携扫查器及自动扫查装置代替手工扫查，满足各种工件检测要求；
5、A型扫描：射频显示提高仪器对材料中缺陷模式的评价能力；
6、B扫成像：实时显示缺陷截面形状；
7、TOFD扫成像：实时显示缺陷的灰度扫查图，直观显示缺陷并对缺陷质量进行评价；
8、多路TOFD检测和PE检测全面覆盖200mm厚度以内的分区扫查可扩展至400mm厚度；
9、直通波去除：近表面缺陷专用处理工具，提高近表缺陷分析精度；
10、横竖调整：满足不同现场操作习惯；
11、SAFT：国际公认有效提高缺陷测是精度的功能；
12、仪器软件：同时具备SAFT（合成孔径聚焦）功能，差分直通波拉直功能；
13、离线分析软件：具备$AFT（合成孔径聚焦）处理功能，具备图像处理前和处理后的同屏对比显示功能，具备能直接将TOFD图像转换成BMP位图的功能；
14、离线图象分析：恢复和回放扫查时记录的A扫波形；缺陷尺寸和轮廓厚度/幅度数据统计分析；记录转换到ASCII/NSWord/MS Excel格式报告。
二、技术参数
发射参数 | |
脉冲类型 | 负方波脉冲 |
脉冲前沿 | ＜10ns |
脉冲宽度 | 40ns-1000ns连续可调（8ns步进） |
阻抗匹配 | 25Ω、500Ω |
可同时连接探头 | 10个 |
接收参数 | |
采样频率/位数 | 125MHZ/12bits |
采样深度 | 512/1024可调 |
重复频率 | 100Hz-800Hz可调 |
衰减器精度 | ＜1dB/12dB |
等效输入噪声 | ＜60nV/√Hz |
扫描范围 | 零界面入射-14000mm钢纵波 |
声速范围 | （300-20000）m/s |
动态范围 | ≥30dB |
垂直线性误差 | ≤3% |
水平线性误差 | ≤0.3% |
综合性能 | |
分辨力 | ＞30dB |
灵敏度余量 | ＞52dB（Φ2×200mm） |
检波方式 | 全检波、正检波、负检波、射频 |
波形平均 | 1-8可调 |
成像模式 | A扫、B扫、C扫 |
直线扫查长度 | （0-40000）mm自动滚屏 |
仪器参数 | |
整机尺寸 | 248×180×80（mm） |
整机重量 | 2.4kg（含电池） |
显示屏尺寸 | 6.5＂ |
显示屏分辨率 | 640×480 |
人机交互 | 键盘，飞梭 |
电源、电池 | 直流（DC12V/2A）；电池11.1V/6600mAH |
固态硬盘 | 8GB |
接口 | LAN，USB2.0，VGA |
工作温度 | （-10-40）℃（参考值） |
相对湿度 | （20-95）%RH |
出厂检验 | 提供欧标检验报告 |
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