一、产品简介
设备主要用于检测中空玻璃试样内表面在标准规定条件和方法情况下是否结露,满足GB/T11944-2012《中空玻璃》标准。设备采用半导体三级制冷的技术,制冷温度可以精确设定和控制,制冷速度快、操作方便。设备采用Pt100温度传感器,PID自动调节技术,测量精度高,测量稳定性高。
二、主要技术参数
系统温度控制范围: 室温~-70℃(MAX)
测量头直径: 50mm 控温精度: ±0.1℃
分辨率: ±0.1℃
环境温度: 23℃±2℃
相对湿度: 30%~75%
最大功率: ≤600VA
试件尺寸: 510×360mm
外形尺寸: 430×360×650 mm
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