涂层测厚仪的使用如何 测厚仪操作规程

    涂层测厚仪也叫覆层测厚仪，是一种用于测量金属底材涂层厚度的专用仪器。由于涂层测厚仪品牌众多，因此其操作方法也会有所差异。但总体而言，涂层测厚仪的操作步骤还是大同小异的。

    涂层测厚仪的使用

    1.轻按电源键3-6,接通整机电源后，进入测量状态。

    注意:本仪器在打开电源时，自动进行自检。

    为确保测量的准确性，打开电源时的前后2秒钟，一定不要将测量探头放在铁基上，也不要将探头靠近铁基或其他磁性材料。

    2.在确认校准正确的前提下，就可开始测量。若对以前的校准有所怀疑的话，应再进行一次校准。

    校准的具体方法详见仪器校准部分。仪器一旦校准，校准结果将自动存贮在仪器中，下次开机测量时，可不必再次进行校准，除非对测量的准确性有怀疑。

    3.捏住探头前部约15mm处，将测量传感器压紧到被测涂层上，显示器上的值即为待测涂层的测量值。

    4.要进行下次测量，必须将测量传感器提起到10厘米以上，然后再重复第3点。

    5.如有必要，测量值可通过加1键或减1键来修正。需要注意的是，按加1键或减1键时，测量探头一定要远离铁基或其他被测体。

    涂镀层测厚仪测量数据的影响因素

    薄涂层的测量准确度和厚度没有关系，是一个常数，厚涂层的测量准确度是一个近似恒定的分数和厚度的乘积。

    基体磁性的变化会影响测量的数据，所以涂镀层测厚仪校准时要采用材质和试样基体相同的校准；采用待镀产品做基体进行仪器校准，以避免不相同的集体或局部热处理和冷加工影响测量数据。

    涂镀层测厚仪在靠近试样边缘或内转角处的测量数据往往是不可靠的，这种效应可能从不连续处向前延续约20mm。

    涂镀层测厚仪测量曲面时，数据随曲率半径的减小而明显。

    涂镀层测厚仪探头和试样要保持清洁，因为外来的附着尘埃会影响测量的数据。

    高温超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的；

    当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头；

    通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

    凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

    超声波测厚仪操作指南

    一般测量方法：

    （1）在一点处用探头进行两次测厚，在两次测量中探头的分割面要互为90°，取较小值为被测工件厚度值。

    （2）30mm多点测量法：

    当测量值不稳定时，以一个测定点为中心，在直径约为30mm的圆内进行多次测量，取蕞小值为被测工件厚度值。

    2、精确测量法：在规定的测量点周围增加测量数目，厚度变化用等厚线表示。

    3、连续测量法：用单点测量法沿指定路线连续测量，间隔不大于5mm。

    4、网格测量法：

    在指定区域划上网格，按点测厚记录。此方法在高压设备、不锈钢衬里腐蚀监测中广泛使用。

    即使相同的涂层测厚仪，不同的人或对不同种类、状态基材上的相同涂层测量出来的数据也可能会存在较大差别，这是因为测量人员因素、测量漆膜的基体材质、厚度、表面状况以及测量位置等造成的。

    使用前应仔细阅读仪器使用说明书，不同厂家、不同品牌的仪器在结构、按键、校准等方面各不相同，因此使用前必须先仔细阅读仪器的使用说明书，避免误操作造成测量数据的错误。

    注意金属基体材质：

    不同金属基体材料的磁性、导电率是不相同的，这都会对测量结果造成影响[9]。采用磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准，亦可用待涂覆试件进行校准。由于基体金属的成分及热处理方法不同，导致其电导率不同，因此应使用与被检测试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

    注意检测试件形状：

    在实际生产中，工件的材料厚度、形状、表面粗糙度等存在差异，这些差异会对实际测量结果造成影响。每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度，大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响，如果试件材料厚度小于仪器所要求的临界厚度，检测结果就会与实际厚度有差别。一些仪器对试件表面形状的陡变十分敏感，因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量的数值会不可靠，实际测量时应选择远离边缘和内转角的部位。试件表面不仅存在形状的陡变，还可能存在不同的曲率，一些仪器的测量结果总是随着曲率半径的减小明显地增大。因此，即使在选择仪器时考虑了最小曲率半径，测量时仍应尽可能选择在平面部位进行测量。

    以上也是在选择测厚仪器时需要考虑最小曲率半径、最小测量面积、最小基体厚度的原因。