无损检测技术它涉及到材料的物理性质、产品设计、制造工艺、断裂力学以及有限元计算等诸多方面。
在化工、电子、电力、金属等行业中,为了实现对各类材料的保护或装饰作用,通常要采用喷涂、有色金属覆盖以及磷化、阳极氧化处理等方法;
这样,便出现了涂层、镀层、敷层、贴层或化学生成膜等概念,我们称之为“覆层”。
覆层的厚度测量已成为金属加工工业已用户进行成品质量检测必备的重要的工序。是产品达到优质标准的必备手段。
目前,国内外已普遍按统一的国际标准测定涂镀层厚度,覆层无损检测的方法和仪器的选择随着材料物理性质研究方面的逐渐进步而更加至关重要。
有关覆层无损检测方法,主要有:
楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线莹光法、β射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。
这些方法中除了后五种外大多都要损坏产品或产品表面,系有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
X射线和β射线反射法可以无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围小。
因有放射源,故使用者必须遵守射线防护规范,一般多用于各层金属镀层的厚度测量。
电容法一般仅在很薄导电体的绝缘覆层厚度测试上应用。
磁性测量法及涡流测量法,随着技术的日益进步,特别是近年来引入微处理机技术后,测厚仪向微型、智能型、多功能、高精度、实用化方面迈进了一大步。
测量的分辨率已达0.1μm,精度可达到1%。又有适用范围广,量程宽、操作简便、价廉等特点。是工业和科研使用广泛的仪器。
采用无损检测方法测厚既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,故能使大量的检测工作经济地进行。
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薄膜厚度测厚仪不仅用于薄膜、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度精确测量,还用于以下厚度测量:
(1)对金属箔片等硬质材料厚度精确测量;
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薄膜测厚仪的技术优势:
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塑料包装材料厚度是否均匀,是检测其各项性能的基础。包装材料厚度不均匀,会影响到材料的阻隔性能、拉伸强度等性能;对材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段,采用济南三泉中石研发生产的薄膜测厚仪CHY-U有利于提高产品的质量。
涂镀层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度。
位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变;
该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。
利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂层厚度。
涂镀层测厚仪具有两种测量方式:
连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL);
设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)
可进行零点校准和二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
1.具有存贮功能:
可存贮300个测量值;
2.具有删除功能:
对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除涂层测厚仪存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;
3.可设置限界:
对限界外的测量值能自动报警;
4.具有与PC机通讯的功能:
可将测量值、统计值传输至PC机,以便涂层测厚仪对数据进行进一步处理;
5.具有电源欠压指示功能;
操作过程有蜂鸣声提示;具有错误提示功能;具有自动关机功能。
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