涂层测厚仪故障排除方法
无损检测之涂镀层测厚仪的故障主要有示值显示不稳定、误差较大、不显示数值等。引起这些故障的原因有来自仪器本身的也有来自被测工件的，还有就是来自自然环境的影响，下面我们介绍一下排除这些故障的方法。
示值显示不稳定
导致涂镀测厚仪示值显示不稳定的原因主要是来自工件本身的材料和结构的特殊性，比如工件本身是否为导磁性材料，如果是导磁性材料我们就要选择磁性涂镀层测厚仪，如果工件为导电体，我们就得选择涡流涂镀层测厚仪，还有工件的表面粗糙度和附着物也是引起仪器示值显示不温度的原因，工件表面粗糙度过大、表面附着物太多。排除故障的要点就是要将粗糙度比较大的工件打磨平整，出去附着物即可，再有就是选择适合的涂镀层测厚仪。
测量结果误差太多
引起涂镀层测厚仪测量误差大的原因我们在以前的文章中已经介绍很清楚了，引起测量误差较大的原因主要有：基体金属磁化、基体金属厚度过小、边缘效应、工件曲率过小、表面粗糙度过大、磁场干扰探头的放置方法等。
不显示数字
造成涂镀层测厚仪不显示数字的简单原因就是检查电池是否电量充足，确定电池电量充足后如发现测量还是不显示数值。
无损检测技术它涉及到材料的物理性质、产品设计、制造工艺、断裂力学以及有限元计算等诸多方面。
在化工、电子、电力、金属等行业中，为了实现对各类材料的保护或装饰作用，通常要采用喷涂、有色金属覆盖以及磷化、阳极氧化处理等方法；
这样，便出现了涂层、镀层、敷层、贴层或化学生成膜等概念，我们称之为“覆层”。
覆层的厚度测量已成为金属加工工业已用户进行成品质量检测必备的重要的工序。是产品达到优质标准的必备手段。
目前，国内外已普遍按统一的国际标准测定涂镀层厚度，覆层无损检测的方法和仪器的选择随着材料物理性质研究方面的逐渐进步而更加至关重要。
有关覆层无损检测方法，主要有：
楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线莹光法、β射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。
这些方法中除了后五种外大多都要损坏产品或产品表面，系有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线和β射线反射法可以无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围小。
因有放射源，故使用者必须遵守射线防护规范，一般多用于各层金属镀层的厚度测量。
电容法一般仅在很薄导电体的绝缘覆层厚度测试上应用。
磁性测量法及涡流测量法，随着技术的日益进步，特别是近年来引入微处理机技术后，测厚仪向微型、智能型、多功能、高精度、实用化方面迈进了一大步。
测量的分辨率已达0.1μm，精度可达到1%。又有适用范围广，量程宽、操作简便、价廉等特点。是工业和科研使用广泛的仪器。
采用无损检测方法测厚既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，故能使大量的检测工作经济地进行。
镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。
为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。
镀层厚度的测量方法主要有：
楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。
β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。
测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
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