水质分析仪器的校准，在经典仪表管理中一直使用"校验"这一名词，现在在计量管理中，称为"校准"。
校准(Calibration)是确定计量器具示值误差(必要时也包括确定其他计量性能)的全部工作。
1.校准与检定的异同
校准和检定是两个不同的概念，但两者之间有密切的联系。
校准一般是用比被校计量顺具精度高的计量器具(称为标准器具)与被校计量器具进行比较，以确定被校计量器具的示值误差；
有时也包括部分计量性能，但往往进行校准的计量器具只需确定示值误差，如果校准是检定工作中示值误差的检定内容；
那样准可说是检定工作中的一部分，但校准不能视为检定，况且校准对条件的要求亦不如检定那么严格；
校准工作可在生产现场进行，而检定则须在检定室内进行。
有人把校准理解为将计量器具调整到规定误差范围的过程，这是不够确切的。虽然校准过程中可以调整，但调整又不等于校准。
?2.校准的基本要求
校准应满足的基本要求如下：
(1)环境条件校准如在检定(校准)室进行，则环境条件应满足实验室要求的温度、湿度等规定。
校准如在现场进行，则环境条件以能满足仪表现场使用的条件为准。
(2)仪器作为校准用的标准仪器其误差限应是被校表误差限的1/3~1/10。
(3)人员校准虽不同于检定，但进行校准的人员也应经有效的考核，并取得相应的合格证书；
只有持证人员方呆出具校准证书和校准报告，也只有这种证书和报告才认为是有效的。
合金分析仪是一种XRF光谱分析技术，可用于确认物质里的特定元素，同时将其量化。它可以根据X射线的发射波长（λ）及能量（E）确定具体元素，而通过测量相应射线的密度来确定此元素的量。XRF度普术就能测定物质的元素构成。
每一个原子都有自己固定数量的电子（负电微粒）运行在核子周围的轨道上。而且其电子的数量等同于核子中的质子（正电微粒）数量。从元素周期表中的原子数可以得知质子的数目。每一个原子数都对应固定的元素名称。能量色散X萤光与波长色散X萤光光谱分析技术特别研究与应用了最里层三个电子轨道即K，L，M上的活动情况，其中K轨道较为接近核子，每个电子轨道则对应某元素一个个特定的能量层。
在XRF分析法中，从X光发射管里放射出来的高能初级射线光子会撞击样本元素。这些初级光子含有足够的能量可以将最里层即K层或L层的电子撞击脱轨。这时，原子变成了不稳定的离子。由于电子本能会寻求稳定，外层L层或M层的电子会进入弥补内层的空间。在这些电子从外层进入内层的过程中，它们会释放出能量，称之为二次X射线光子。而整个过程则称为萤光辐射。每种元素的二次射线都各有特征。而X射线光子萤光辐射产生的能量是由电子转换过程中内层和外层之间的能量差决定的。特定元素在一定时间内所放射出来的X射线的数量或者密度，能够用来衡量这种元素的数量。典型的XRF能量分布光谱显示了不同能量时光子密度的分布情况。
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