激光图像粒度粒形剖析仪了样品折射率丈量技术，对未知折射率的新资料也能得到的粒度测试结果。
进口半导体泵浦激光器，寿命大于25000小时；采用进口的高精度透镜组，保证了微小的、各角度的散射光信号无一漏网；采用进口的高速CCD与高像远心镜头，成像明晰无拖尾现象；采用高速颗粒辨认技术，每分钟可剖析几万个颗粒数目。
激光图像粒度粒形剖析仪主要应用范畴
1.各种非金属粉：如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸锆、氧化锆、氧化镁、氧化锌等。
2.各种金属粉：如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等。
3.其它粉体：河流泥沙、锂电池资料、催化剂、荧光粉、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、陶瓷原料、化工资料、纳米资料、造纸填料涂料、各种乳浊液等。
总之，该仪器是集激光散射、显微成像于一体的新一代粒度测试仪器。
差热分析仪专门用于测试可能对普通DTA差热分析仪带来损坏的爆炸性物质,适用于物理化学实验中差热分析与研究，采用智能温度控制和采集，进行数据分析处理并做变化曲线图,一般在大专院校、科研机构、工矿企业等单位应用的较多。 由于差热分析仪属于精密分析仪器，我们在使用时要特别谨慎： 1、实验室温度控制在15-25℃，温度较为恒定的情况下试验结果精确度和重复性高。高温较高的情况下需开空调； 2、为确保试验结果的准确性，使用仪器时先空烧30分钟左右。仪器时间长时间不用，再次使用时，无比空烧（不放任何样品和参比物）两到三次，可以将：温度设置为600℃、速率设为5℃∕min、恒温设为0min按RUN键； 3、试样用量不宜过多，也不宜过少，应适宜。一般为20mg左右，如测试用量另有要求，根据要求确定用量； 4、粉状试样应压实； 5、将差热分析仪放置在无强电磁场干扰的区域内，并将NDTA-III型加热器放置稳固； 6、升温速率一般情况下选择（10-20）℃∕min。过大很使曲线产生漂移，降低分辨力；过小测定时间长； 7、差热分析仪的表面应保持清洁、干燥、避免水或其它腐蚀性液体流进机器内部，以免损伤内部零件或锈蚀外表面，外表面一旦落上灰尘或粘上水分，应用软布轻轻檫试干净，禁止触碰加热电偶及线路接头； 8、实验区污染严重时，可以将温度设置为700℃、速率设为20℃∕min、恒温设为30min按RUN键； 9、电源：AC220V50Hz、功耗＞2000W； 10、不得使用硬物清洁样品托及试验区，以免对仪器造成永久性损害； 11、仪器连接计算机的数据线为232串口线，两端为九孔插头。其中两端插头以一对一的方式连接，即：一端的第一脚连接至另一端的第一脚，一端的第二脚连接另一端的第二脚，以此类推。
分析仪器在使用过程中也会出现一定的故障问题，会导致分析仪器产品无法正常使用，那么这个时候分析仪器的检修该如何进行呢？
1、观察法
通过人的眼睛主观察、发现故障的方法称为观察法。该方法主要用于检查零件变质损坏、电路板漏焊、虚焊、线间的短路饶焦、断线和元器件焊错等。
2、触模法
通过人的手指或其他部位去触模元器件，从而发现元器件是否有过热或应该发热而不热的现象如电源变压器及电子管等应该有发热现象、，从而间接地判断故障部位的方法，称为触授法。
3、静态测量法
这主要是通过万用表去测量线路中的直流工作电压相电流，从而确定故障。迟是排除故障常用的—种方法，它对于测试线性电路尤为重要。
4、动态观察法
通过示按器去观察有关点的波形，从而寻找故障相排除故障的方法称为动态观实法。
5、跟踪法
在寻找故障的过程中发现一点线索，顺着线索追查下去的方法称为跟踪法。
6、分割法
在查找故障的过程中，通过拔掉部分转括、拔下部分电路板或在电路板上断线来逐步缩小故障的范围，最后把故障点孤立出来的方法，称为分割法。
7、替换法
通过更换电细线、电路板、电子管或其他每部件，以确定故障在某一范围的方法称为替换法。
8、模拟法
在查寻故障过程中，可通过分别测试无故障仪器和行故阳仪器的相同点，将所得的数据进行比较来确定故障的方法，称为模拟法。
9、试探法
在查寻故障的过程中，如经测量和分析，几种原因都能造成此种故障，那么此时，可先试探用一种方法去排除故障，如无效，再改用另一种方法试探去排除故障，这称为试探法。
10、局部受热法
仪器由于湿度升高而发生故障，通常用局部受热泌夫排除。比如，其一仪器在温度40℃时，不能正常工作，而温度降低后又能正常工作。此队可将仪器恢复在常温下工他用电热吹风机或电烙铁使其局部受池从而发现故障所在，这称为局部受热法。
以上这些方法只是分析仪器调试或维修中的一些常用方法，实际应用时彼此间并不是孤立的，有时需要几种方法交错使用，对测试结果进行综合分析，才能做出正确的判断。
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